[發明專利]一種鍵盤測試裝置

有效

• 申請號: 201810631665.0
• 申請日: 2017-09-21
• 公開（公告）號: CN108829552B
• 公開（公告）日: 2021-12-10
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 莆田市宏銘貿易有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G01M13/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種鍵盤測試裝置，包括頂架以及固定安裝在頂架正下方的測試機，頂架底面與所述測試機頂面之間固定連接有連接架，測試機內設有敲打裝置和除塵裝置，敲打裝置包括設置在測試機左側底面內的第一容槽，第一容槽內設有敲打塊，第一容槽內頂壁內設有第二容槽，第二容槽內設有底部與敲打塊頂部固定連接的柔接端，第二容槽上方的測試機內設有第一滑運腔，第一滑運腔左側內壁內設有第一滑運槽，第一滑運槽內滑運配合連接有向右側延長設置的第一滑運塊，第一滑運塊右側延長末尾伸至第一滑運腔內且與第一滑運腔右側內壁滑運配合連接，第一滑運塊底部末尾固定設置有向下延長設置的按桿；自行輪流敲打除塵，提高效率，減少成本。

本申請是申請號為2017108620006，申請日為2017年09月21日，發明創造名稱為“一種計算機鍵盤測試裝置”的專利的分案申請。

技術領域

本發明涉及計算機鍵盤技術領域，具體是一種計算機鍵盤測試裝置。

背景技術

一款好的計算機鍵盤需要有較長的使用壽命，一款新的鍵盤產品研發出來需要對鍵盤按鍵進行敲打測試，對按鍵進行不間斷的幾十萬次的敲擊，目前市面上的按鍵壽命測試儀價格非常昂貴，而且結構復雜，日常維護檢修困難，同時需要對鍵盤表面除塵，防止灰塵進入鍵盤影響鍵盤運行和測試精度，現有的測試方式成本高，難以被廣泛接受。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種計算機鍵盤測試裝置，其能夠解決上述現在技術中的問題。

本發明是通過以下技術方案來實現的：本發明的一種計算機鍵盤測試裝置，包括頂架以及固定安裝在所述頂架正下方的測試機，所述頂架底面與所述測試機頂面之間固定連接有連接架，所述測試機內設有敲打裝置和除塵裝置，所述敲打裝置包括設置在所述測試機左側底面內的第一容槽，所述第一容槽內設有敲打塊，所述第一容槽內頂壁內設有第二容槽，所述第二容槽內設有底部與所述敲打塊頂部固定連接的柔接端，所述第二容槽上方的所述測試機內設有第一滑運腔，所述第一滑運腔左側內壁內設有第一滑運槽，所述第一滑運槽內滑運配合連接有向右側延長設置的第一滑運塊，所述第一滑運塊右側延長末尾伸至所述第一滑運腔內且與所述第一滑運腔右側內壁滑運配合連接，所述第一滑運塊底部末尾固定設置有向下延長設置的按桿，所述按桿底部延長部通穿所述第一滑運腔與所述第二容槽之間的所述測試機且滑運配合連接，所述按桿底部延長末尾伸至所述第二容槽內且與所述柔接端頂部固定連接，所述除塵裝置包括上下延長設置的第二滑運腔，所述第二滑運腔右側內壁內設有第二滑運槽，所述第二滑運槽內設有向左側延長設置的第二滑運塊，所述第二滑運塊左側延長末尾伸至所述第二滑運腔內且與所述第二滑運腔左側內壁滑運配合連接，所述第二滑運腔內的所述第二滑運塊底面內設有除塵電轉機，所述除塵電轉機底部相對的所述第二滑運腔內底壁通穿設有貫出孔，所述貫出孔內配合連接有向上延長設置的除塵刷頭，所述除塵刷頭頂部與所述除塵電轉機底部端配合連接，所述敲打裝置和所述除塵裝置之間的所述測試機內配合連接有帶動裝置，所述帶動裝置上方的所述測試機內設有用以與所述敲打裝置和所述除塵裝置輪流鎖停連接的鎖停裝置。