[發(fā)明專利]電子設(shè)備射頻通信性能測試系統(tǒng)、方法、裝置及設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810628660.2 | 申請日: | 2018-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN108847899A | 公開(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張洲川 | 申請(專利權(quán))人: | OPPO廣東移動通信有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 張潤 |
| 地址: | 523860 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子設(shè)備 控制設(shè)備 信號衰減 連接端 性能測試系統(tǒng) 裝置及設(shè)備 射頻通信 控制端 測試環(huán)境 測試效率 工作模式 控制信號 衰減設(shè)備 天線連接 用戶使用 輸出端 構(gòu)建 衰減 吞吐量 申請 | ||
本申請公開了一種電子設(shè)備射頻通信性能測試系統(tǒng)、方法、裝置及設(shè)備,其中系統(tǒng)包括:陪測設(shè)備、信號衰減設(shè)備及控制設(shè)備;陪測設(shè)備的輸出端通過信號衰減設(shè)備與陪測設(shè)備的天線連接;控制設(shè)備的第一連接端與陪測設(shè)備的控制端連接,用于控制陪測設(shè)備的工作模式;控制設(shè)備的第二連接端與信號衰減設(shè)備的控制端連接,用于控制信號衰減設(shè)備的衰減值;控制設(shè)備的第三連接端與被測電子設(shè)備連接,用于獲取被測電子設(shè)備的吞吐量。該系統(tǒng)不僅減少構(gòu)建測試環(huán)境花費(fèi)成本,并且還能提高測試效率,改善用戶使用體驗(yàn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及無線通信技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種電子設(shè)備射頻通信性能測試系統(tǒng)、方法、裝置及設(shè)備。
背景技術(shù)
具有無線射頻功能的電子設(shè)備,在開發(fā)階段需要對電子設(shè)備的無線距離覆蓋、穿墻能力以及不同距離下的吞吐量等參數(shù)進(jìn)行測試,以確保電子設(shè)備在實(shí)際使用中性能更穩(wěn)定。
目前,對電子設(shè)備進(jìn)行測試時(shí),通常是通過搭建與實(shí)際的應(yīng)用場景相似的測試環(huán)境,進(jìn)行相關(guān)的無線性能測試。例如,如圖1所示,在開放環(huán)境下搭建測試環(huán)境,其中N1、N2、N3、N4為不同的房間,并且各個(gè)房間之間通過建立墻體做隔離,同時(shí)在每個(gè)房間的一邊設(shè)置房門以便于通行。在實(shí)際測試過程中,需要將待測設(shè)備(Device Under Test,簡稱為:DUT)放置在N1、N2、N3、N4房間,以模擬測試DUT在現(xiàn)實(shí)場景下、不同隔墻層數(shù)下的無線能力,同時(shí)在固定了DUT的位置后,對陪測設(shè)備(System Under Test,簡稱為:SUT)進(jìn)行不同距離下的移動測試,以驗(yàn)證DUT在不同距離下的吞吐量等性能。
然而,由于在開放環(huán)境下搭建測試環(huán)境時(shí),需要建立各房間之間的隔離墻體以及為各房間設(shè)置房門,這就使得測試環(huán)境的搭建,需要花費(fèi)較多的成本,并且整個(gè)測試過程,還需要測試人員的參與來移動陪測設(shè)備,從而降低了測試效率。
發(fā)明內(nèi)容
本申請?zhí)峁┮环N電子設(shè)備射頻通信性能測試系統(tǒng)、方法、裝置及設(shè)備,用于解決相關(guān)技術(shù)中,搭建測試環(huán)境花費(fèi)成本高,以及需要測試人員參與,降低測試效率的問題。
本申請一方面實(shí)施例提供一種電子設(shè)備射頻通信性能測試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括:陪測設(shè)備、信號衰減設(shè)備及控制設(shè)備;所述陪測設(shè)備的輸出端通過所述信號衰減設(shè)備與所述陪測設(shè)備的天線連接;所述控制設(shè)備的第一連接端與所述陪測設(shè)備的控制端連接,用于控制所述陪測設(shè)備的工作模式;所述控制設(shè)備的第二連接端與所述信號衰減設(shè)備的控制端連接,用于控制所述信號衰減設(shè)備的衰減值;所述控制設(shè)備的第三連接端與被測電子設(shè)備連接,用于獲取所述被測電子設(shè)備的吞吐量。
本申請另一方面實(shí)施例提供一種電子設(shè)備射頻通信性能測試方法,該方法包括:根據(jù)當(dāng)前被測電子設(shè)備的屬性信息,確定所述被測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息;根據(jù)所述被測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息,確定信號衰減設(shè)備的目標(biāo)衰減值;根據(jù)所述目標(biāo)衰減值,調(diào)整所述信號衰減設(shè)備的衰減量,以獲取所述被測電子設(shè)備的吞吐量。
本申請另一方面實(shí)施例提供一種電子設(shè)備射頻通信性能測試裝置,該裝置包括:第一確定模塊,用于根據(jù)當(dāng)前被測電子設(shè)備的屬性信息,確定所述被測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息;第二確定模塊,用于根據(jù)所述被測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息,確定信號衰減設(shè)備的目標(biāo)衰減值;調(diào)整模塊,用于根據(jù)所述目標(biāo)衰減值,調(diào)整所述信號衰減設(shè)備的衰減量,以獲取所述被測電子設(shè)備的吞吐量。
本申請又一方面實(shí)施例的電子設(shè)備,該電子設(shè)備包括:存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí),以實(shí)現(xiàn)第二方面實(shí)施例所述的電子設(shè)備射頻通信性能測試方法。
本申請?jiān)僖环矫鎸?shí)施例的計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計(jì)算機(jī)程序,該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí),以實(shí)現(xiàn)第二方面實(shí)施例所述的電子設(shè)備射頻通信性能測試方法。
本申請?jiān)僖环矫鎸?shí)施例的計(jì)算機(jī)程序,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí),實(shí)現(xiàn)第二方面實(shí)施例所述的電子設(shè)備射頻通信性能測試方法。
本申請公開的技術(shù)方案,具有如下有益效果:
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