[發(fā)明專利]一種高精度亞像素圓形零件測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810623601.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109003258B | 公開(公告)日: | 2021-10-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王晗;李逸;林燦然;張芳建;白羽鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T3/40;G06T3/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 廣東廣信君達(dá)律師事務(wù)所 44329 | 代理人: | 杜鵬飛;楊曉松 |
| 地址: | 510062 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高精度 像素 圓形 零件 測(cè)量方法 | ||
1.一種高精度亞像素圓形零件測(cè)量方法,其特征在于,包括下述步驟:
步驟一,獲取圓形零件的原圖;
步驟二,對(duì)步驟一中獲取的原圖進(jìn)行二值化處理,然后再將二值化處理后的圖片使用findContours算法尋找輪廓,然后通過(guò)設(shè)置輪廓面積的最大值和最小值,進(jìn)而篩選出符合測(cè)量需要的圓形輪廓,然后獲取該圓形輪廓的最下外接矩形,從而獲得所需測(cè)量的圓形所在區(qū)域的ROI圖像;
步驟三,對(duì)步驟二中得到的ROI圖像進(jìn)行圖像預(yù)處理;對(duì)ROI圖像進(jìn)行灰度處理,引入高斯濾波函數(shù),如下述公式所示:
其中,所述h(x,y)為高斯濾波器模板的系數(shù),(x,y)為圖像點(diǎn)坐標(biāo);采用3×3大小的核對(duì)圖像進(jìn)行高斯濾波,去除ROI圖像中的噪聲,便于準(zhǔn)確獲得所需要的圓形輪廓;然后采用OTSU算法找到ROI圖像合適的分割閾值設(shè)為T,如下述公式所示:
其中,v(x,y)為二值化前的圖像在(x,y)點(diǎn)的像素灰度值,v′(x,y)為二值化后的圖像在(x,y)點(diǎn)的像素灰度值;通過(guò)二值化ROI圖像使圓的區(qū)域?yàn)楹谏渌麉^(qū)域?yàn)榘咨纱双@得二值化的ROI圖像;
并且將二值化后的ROI圖像采用3×3大小的核進(jìn)行形態(tài)學(xué)閉運(yùn)算,消除小型空洞;然后對(duì)獲得的圖像進(jìn)行尋找輪廓操作,通過(guò)面積篩選找到圓形輪廓;
步驟四,對(duì)步驟三中所獲得的圓形輪廓進(jìn)行尋找最小包圍圓形操作,獲取 初始圓心center(Cxi,Cyi)和半徑R,該獲取初始圓心和半徑操作的目的是為了獲取寬度為一個(gè)像素的矩形區(qū)域;
步驟五,進(jìn)行基于三次樣條擬合的亞像素檢測(cè);以穿過(guò)圓心的豎直線與圓輪廓相交的點(diǎn),在該點(diǎn)附近做一個(gè)寬度為一個(gè)像素的矩形Rect(Cxi,Cyi-R-15,1,2×15),即(Cxi,Cyi-R-15)為左上角點(diǎn),寬度為一個(gè)像素,高度為2×15,并以此矩形在步驟二的ROI圖像中獲取一個(gè)小型ROI圖像,然后遍歷該小型ROI圖像,獲取每個(gè)像素的灰度值f(y),其中y即為小型ROI圖像中每個(gè)像素的縱坐標(biāo),用多項(xiàng)式曲線擬合成三次方函數(shù),如下述公式所示:
f(y)=a×y3+b×y2+c×y+d,
求得a,b,c,d四個(gè)參數(shù)的值,則求導(dǎo)后的f′(y)函數(shù)為其梯度函數(shù),此梯度函數(shù)為二次函數(shù),求得此梯度函數(shù)區(qū)間的最大值即為灰度梯度最大,灰度梯度最大即為灰度變化最大,故此時(shí)所對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)點(diǎn)即為圓形邊緣的亞像素點(diǎn);
步驟六,用仿射變換旋轉(zhuǎn)步驟二中的ROI圖像,以1度為遞進(jìn)值,旋轉(zhuǎn)360次,獲得360圓形邊緣亞像素點(diǎn),則此時(shí)獲得的亞像素點(diǎn)坐標(biāo)為小型ROI圖像的坐標(biāo);
步驟七,根據(jù)步驟六的亞像素檢測(cè)結(jié)果,將獲得的亞像素點(diǎn)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為步驟一中原圖上的亞像素點(diǎn)坐標(biāo),亞像素點(diǎn)的集合點(diǎn)坐標(biāo)為(xi,yi),設(shè)圓的半徑為r,圓心坐標(biāo)為(a1,b1),則圓的方程如下述公式所示:
(xi-a1)2+(yi-b1)2=r2,
由于隨機(jī)誤差的影響,因此Pi點(diǎn)可能沒(méi)有落在圓周上,按最小二乘法的計(jì)算方法,將Pi點(diǎn)的誤差用εi表示,如下述公式所示:
εi=(xi-a1)2+(yi-b1)2-r2,
由于誤差值可能為正或者為負(fù),因此通過(guò)誤差的平方和來(lái)度量整體的誤差大小,求誤差平方和M最小時(shí)各個(gè)參數(shù)的值,如下述公式所示:
其中,Ω為圓邊緣區(qū)域的像素點(diǎn)集;根據(jù)最小二乘原理,通過(guò)求解下述線性方程組:
可求得圓心參數(shù)(a1,b1)和半徑參數(shù)r,然后再標(biāo)定就可以獲得標(biāo)定系數(shù),最后即可獲得圓形零件的實(shí)際半徑值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣東工業(yè)大學(xué),未經(jīng)廣東工業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810623601.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。





