[發(fā)明專利]檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810621852.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108802072A | 公開(公告)日: | 2018-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉保能;張強(qiáng);陳龍;鄒超;郭榮發(fā);劉巍;趙亞坤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 韓建偉;豐佩印 |
| 地址: | 519070 *** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 信號(hào)接收部 信號(hào)發(fā)生部 廢舊產(chǎn)品 檢測(cè) 成像部 檢測(cè)裝置 結(jié)構(gòu)圖像 內(nèi)部元器件 電連接 種檢測(cè) 采集 檢查 | ||
本發(fā)明提供了一種檢測(cè)裝置。該檢測(cè)裝置包括信號(hào)發(fā)生部、信號(hào)接收部和成像部,輸送部用于輸送待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品,信號(hào)發(fā)生部與輸送部相鄰地設(shè)置,信號(hào)接收部與輸送部相連接,信號(hào)接收部用于接收信號(hào)發(fā)生部發(fā)出的信號(hào),成像部與信號(hào)接收部電連接,當(dāng)待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品從信號(hào)發(fā)生部和信號(hào)接收部之間經(jīng)過時(shí),成像部通過信號(hào)發(fā)生部和信號(hào)接收部采集待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品的內(nèi)部元器件的結(jié)構(gòu)圖像。進(jìn)而可通過結(jié)構(gòu)圖像對(duì)待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品進(jìn)行檢查判斷,減少了檢測(cè)時(shí)間,提高了檢測(cè)效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電器檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,對(duì)電視、電腦、冰箱、冰柜、空調(diào)等大件原材料的內(nèi)部關(guān)鍵部件的檢測(cè)方法為借助尖錘進(jìn)行逐臺(tái)敲孔檢測(cè),而對(duì)液晶電視、平板電腦等體積較為輕薄的內(nèi)部關(guān)鍵部件檢測(cè)時(shí),由于殼體內(nèi)部的汞燈管易破碎,則需使用開孔器在后殼上逐臺(tái)進(jìn)行打孔后檢測(cè)。以液晶為例,每組效率僅為120臺(tái)/小時(shí),嚴(yán)重影響了卸貨效率,而且會(huì)造成二次破壞及環(huán)境污染的問題(汞燈管破裂汞蒸發(fā))。因此,現(xiàn)有技術(shù)對(duì)電器的檢測(cè)存在耗時(shí)耗力,且檢測(cè)效率較低的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種檢測(cè)裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)電器的檢測(cè)耗時(shí)耗力的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種檢測(cè)裝置,包括:輸送部,輸送部用于輸送待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品;信號(hào)發(fā)生部,信號(hào)發(fā)生部與輸送部相鄰地設(shè)置;信號(hào)接收部,信號(hào)接收部與輸送部相連接,信號(hào)接收部用于接收信號(hào)發(fā)生部發(fā)出的信號(hào);成像部,成像部與信號(hào)接收部電連接,當(dāng)待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品從信號(hào)發(fā)生部和信號(hào)接收部之間經(jīng)過時(shí),成像部通過信號(hào)發(fā)生部和信號(hào)接收部采集待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品的內(nèi)部元器件的結(jié)構(gòu)圖像。
進(jìn)一步地,信號(hào)發(fā)生部為X光發(fā)生裝置。
進(jìn)一步地,檢測(cè)裝置還包括:控制部,控制部與輸送部、信號(hào)接收部和成像部電連接。
進(jìn)一步地,檢測(cè)裝置還包括:存儲(chǔ)裝置,存儲(chǔ)裝置與成像部電連接,存儲(chǔ)裝置用于存儲(chǔ)待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品的內(nèi)部元器件的結(jié)構(gòu)圖像。
進(jìn)一步地,檢測(cè)裝置還包括:殼體,殼體,殼體的側(cè)壁上開設(shè)有相對(duì)地設(shè)置的進(jìn)口和出口,至少部分的輸送部位于殼體內(nèi)以將待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品從殼體進(jìn)口處輸送至殼體的出口處。
進(jìn)一步地,信號(hào)發(fā)生部與殼體頂部相連接并位于殼體內(nèi),信號(hào)接收部與輸送部相連接并與信號(hào)發(fā)生部相對(duì)地設(shè)置。
進(jìn)一步地,輸送部包括:第一輸送部,第一輸送部設(shè)置于殼體的外部,第一輸送部與殼體的進(jìn)口相鄰地設(shè)置;第二輸送部,第二輸送部設(shè)置于殼體內(nèi),第二輸送部的第一端位于殼體的進(jìn)口處并與第一輸送部相鄰地設(shè)置,第二輸送部的第二端位于殼體的出口處。
進(jìn)一步地,輸送部還包括:第三輸送部,第三輸送部設(shè)置于殼體的外部,并與第二輸送部的第二端相鄰地設(shè)置。
進(jìn)一步地,第一輸送部、第二輸送部和第三輸送部獨(dú)立地工作。
進(jìn)一步地,輸送部為傳送帶。
應(yīng)用本發(fā)明的技術(shù)方案,通過設(shè)置輸送部、信號(hào)發(fā)生部、信號(hào)接收部和成像部,當(dāng)待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品從信號(hào)發(fā)生部和信號(hào)接收部之間經(jīng)過時(shí),成像部通過信號(hào)發(fā)生部和信號(hào)接收部采集待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品的內(nèi)部元器件的結(jié)構(gòu)圖像。進(jìn)而可通過結(jié)構(gòu)圖像對(duì)待檢測(cè)廢舊產(chǎn)品進(jìn)行檢查判斷,減少了檢測(cè)時(shí)間,提高了檢測(cè)效率。
附圖說(shuō)明
構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分的說(shuō)明書附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解,本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的檢測(cè)裝置的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
其中,上述附圖包括以下附圖標(biāo)記:
10、信號(hào)發(fā)生部;
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過使輻射透過材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 具有反射部以將光學(xué)信號(hào)反射至接收部的電子裝置
- 高頻信號(hào)接收部和使用其的高頻信號(hào)接收裝置
- 通信系統(tǒng)、接收裝置和通信方法
- 信號(hào)接收裝置、信號(hào)接收方法、信號(hào)接收程序和信號(hào)接收系統(tǒng)
- 信號(hào)接收設(shè)備、信號(hào)接收方法和信號(hào)接收程序
- 信號(hào)接收設(shè)備、信號(hào)接收方法和信號(hào)接收程序
- 無(wú)線信號(hào)接收裝置及信號(hào)處理裝置
- 發(fā)送裝置、接收裝置、具備這些的通信系統(tǒng)和遠(yuǎn)程操作裝置
- 接收部區(qū)段
- 視頻信號(hào)接收裝置及視頻信號(hào)收發(fā)系統(tǒng)
- 調(diào)制電路、使用該調(diào)制電路的發(fā)送裝置、接收裝置以及通信系統(tǒng)
- 信號(hào)發(fā)生器和信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)及信號(hào)發(fā)生方法
- 信號(hào)發(fā)生裝置及信號(hào)發(fā)生方法
- 信號(hào)發(fā)生裝置及信號(hào)發(fā)生方法
- 光信號(hào)發(fā)生方法和光信號(hào)發(fā)生裝置
- 半導(dǎo)體元件的驅(qū)動(dòng)裝置
- 檢測(cè)裝置
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





