[發明專利]一種電路板測試引腳系統及測試方法

在審

• 申請號: 201810620320.5
• 申請日: 2018-06-15
• 公開（公告）號: CN108957289A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 賈鵬飛
• 申請（專利權）人: 江西興泰科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙) 33228
• 代理人: 黃宗熊

一種電路板測試引腳系統，包括電路板、若干相同的印制于所述電路板上的測試引腳、控制板，任一所述測試引腳均與所述控制板連接，若干所述測試引腳呈多列狀排布，且相鄰列的所述測試引腳呈交叉排列，間隔列的所述測試引腳排列方式相同，還公開了一種該電路板測試引腳系統的測試方法，步驟為：對測試引腳進行定義、將待測試引腳與測試引腳進行壓接、進行性能測試，本發明的優點在于解決了現有技術中引腳對接不方便且易出現測試不良的情況，利用引腳系統可以自動檢測出引腳順序，自動調整程序引腳定義，提高測試效率，減少測試不良的產生。

技術領域

本發明涉及電路板測試技術領域，特別涉及一種電路板測試引腳系統及測試方法。

背景技術

目前顯示模組測試工裝上FPC連接的方式一般為依靠顯示模組外形通過定位擋板確定FPC引腳大致位置,另一端為相同PIN(引腳)的PCB(印制電路板)或FPC。然后PIN對PIN進行壓接，這個方法誤差比較大，對位不準確，FPC必須通過對位記號，采用定位擋板，通過模組外形配合對位記號定位，效率低，易出錯，經常短路造成模組不必要的損傷。

發明內容

本發明的目的是解決現有技術的不足，提供一種高測試效率、能有效保護模組不受損傷的電路板測試引腳系統及測試方法。

本發明解決上述問題所采用的技術方案是：一種電路板測試引腳系統，包括電路板、若干相同的印制于所述電路板上的測試引腳、控制板，任一所述測試引腳均與所述控制板連接，若干所述測試引腳呈多列狀排布，且相鄰列的所述測試引腳呈交叉排列，間隔列的所述測試引腳排列方式相同。

在一些實施例中，所述測試引腳的列數大于待測試引腳列數的三倍。

在一些實施例中，所述測試引腳的寬度小于待測試引腳的二分之一，所述測試引腳的長度小于待測試引腳的五分之一。

在一些實施例中，所述測試引腳寬度為待測試引腳的三分之一，所述測試引腳長度為待測試引腳的五分之一。

在一些實施例中，所述測試引腳各列之間的間距為待測試引腳寬度的三分之一。

一種電路板測試引腳系統的測試方法，包括以下步驟:

(1)將每相鄰兩列所述測試引腳定義為一測試組，其組數為K，K＝1,2，3…，N，任一所述測試組自上往下將測試引腳進行編號定義，編號為J,J＝1,2,3…，N，任一所述測試引腳定義為PINJ-K；

(2)將待測試引腳的金手指面與所述測試引腳的金手指面水平方向一致放置并進行壓接；

(3)控制PIN1-1至PIN1-N輸出高電平，控制PIN3-1至PIN3-N、PIN4-1至PIN4-N為輸入，并檢測對應引腳信號，記錄PIN2及PIN3行所檢測到的高電平信號，進行性能測試；

(4)若PIN2及PIN3未能檢測成功，此時斷開PIN1行電壓，并將PIN2行進行施壓，檢測PIN4、PIN5行，進行性能測試，若PIN4、PIN5行未能檢測成功，繼續類推進行測試。

在一些實施例中，所述測試引腳與待測試引腳呈規律性分分布。

本發明的有益效果在于：解決了現有技術中引腳對接不方便且易出現測試不良的情況，利用引腳系統可以自動檢測出引腳順序，自動調整程序引腳定義，提高測試效率，減少測試不良的產生。

附圖說明

圖1為本發明引腳系統示意圖；

圖2為本發明測試時測試引腳與待測試引腳正常配合系統圖；

圖3為本發明待測試引腳斜放時與測試引腳配合系統圖；

圖中，1、測試引腳；2、控制板；3、電路板。

具體實施方式