[發明專利]TWAIN標準顯微測量系統及測量方法

在審

• 申請號: 201810616297.2
• 申請日: 2018-06-14
• 公開（公告）號: CN108827146A
• 公開（公告）日: 2018-11-16
• 發明（設計）人: 張維山;魯飛宇
• 申請（專利權）人: 蘇州富萊智能科技有限公司
• 主分類號: G01B9/04
• 分類號: G01B9/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：

包括：

圖像采集模塊：可從TWAIN標準顯微鏡設備采集圖像；

與圖像采集模塊連通的顯微鏡圖像測量模塊：

與顯微鏡圖像測量模塊配合使用的數據儲存模塊；

顯微鏡圖像測量模塊包括搭載于用戶界面上圖像選擇模塊、測量算法選擇模塊、測量模塊，測量算法為點測定、直線測定、圓測定、三角測定、或兩線測角等。

2.根據權利要求1所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：數據儲存模塊用于讀取設置數據、啟動數據，比如上次關閉軟件時顯微鏡倍率；用于讀取測量記錄等；用于保存設置數據、啟動數據，比如上次關閉軟件時顯微鏡倍率；用于保存測量記錄等。

3.根據權利要求2所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：用戶界面用于：可視化設備屬性讀取、設置界面，包括分辨率等屬性；可視化畫筆預設界面，包括畫筆粗細、樣式、顏色等；可視化快捷工具界面，包括導出圖像、導出表格等；可視化測量界面，包括手動測量，劃線等；顯示測量結果，測定資訊界面，包括所有測量說明文字等。

4.根據權利要求3所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：用戶界面上搭載有設備設置模塊。

5.根據權利要求4所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：用戶界面上搭載有畫筆預設模塊，畫筆預設主要是對畫筆類型如實線、虛線，畫筆粗細如5pt、10pt，畫筆字體如宋體、黑體，畫筆大小等屬性進行配置，用于測量時候畫筆的屬性預先設置。

6.根據權利要求5所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：用戶界面上搭載有快捷工具模塊，快捷工具包括以下功能，啟動校正、十字線設置、放大鏡、DEMO測量、導出word、導出excel、導出測量結果等。

7.根據權利要求6所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：用戶界面上搭載有測定資訊模塊，測定資訊表示的是N次測量信息，包括每次測量所使用顏色、測定的類型如點線測量或平行中線測定，選中每個測定結果，可以查看詳細的測量數據，比如中心點坐標X和Y，以及測量曲線的長度等。

8.根據權利要求7所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：設備設置模塊用于自動連接設備，并可由用戶打開屬性對話框，查看設備分辨率、設備id、設備曝光率、白平衡等參數，偶爾會有部分參數讀取不到的情況，則只顯示正常讀取到的參數；或下發參數設置，更改當前顯微鏡工作參數。

9.一種測量方法，其特征在于：其利用根據權利要求8所述的一種TWAIN標準顯微測量系統，其特征在于：測量步驟為：

S1)圖像采集模塊實時采集圖像數據；

S2)通過用戶界面模塊操作選擇顯微鏡設備進行連接，同時可通過設備設置模塊查看設備屬性或設置設備屬性，也可通過畫筆預設模塊設置畫筆，等進行都是測量前的準備；

S3)利用直線測定算法進行測量；

S4)通過快捷工具模塊導出測量結構，或通過數據儲存模塊存儲當前測量結構或其他參數；

S5)通過測定資訊模塊查看測量結果詳情。