[發明專利]定制化顯微測量系統及測量方法在審
| 申請號: | 201810616296.8 | 申請日: | 2018-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN108662981A | 公開(公告)日: | 2018-10-16 |
| 發明(設計)人: | 張維山;魯飛宇 | 申請(專利權)人: | 蘇州富萊智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量模塊 顯微鏡圖像 圖像采集模塊 顯微測量系統 測量算法 定制化 數據儲存模塊 圖像選擇模塊 顯微鏡設備 采集圖像 選擇模塊 用戶界面 線測 連通 測量 | ||
本發明定制化顯微測量系統,包括:圖像采集模塊:從SDK協議顯微鏡設備采集圖像;與圖像采集模塊連通的顯微鏡圖像測量模塊:以及與顯微鏡圖像測量模塊配合使用的數據儲存模塊;顯微鏡圖像測量模塊包括搭載于用戶界面上圖像選擇模塊、測量算法選擇模塊、測量模塊;測量算法包括點測定、直線測定、圓測定、三角測定、或兩線測角等。
技術領域
本發明涉及自動化測量系統,特別涉及一種定制化顯微測量系統及測量方法。
背景技術
通常的顯微鏡測量工具軟件,一般是由顯微鏡生產廠家提供,該類工具只能使用廠家提供的查看圖像等功能,具有嚴格的局限性,不能很好地滿足客戶基本測量需求,且不具備軟件的可拓展性。
因此,有必要提供一種定制化顯微測量系統及測量方法來解決上述問題。
發明內容
本發明的目的是提供一種定制化顯微測量系統。
技術方案如下:
一種定制化顯微測量系統,包括:
圖像采集模塊:從SDK協議顯微鏡設備采集圖像;
與圖像采集模塊連通的顯微鏡圖像測量模塊:
以及與顯微鏡圖像測量模塊配合使用的數據儲存模塊;顯微鏡圖像測量模塊包括搭載于用戶界面上圖像選擇模塊、測量算法選擇模塊、測量模塊;測量算法包括點測定、直線測定、圓測定、三角測定、或兩線測角等。
進一步的,數據儲存模塊用于讀取設置數據、啟動數據,比如上次關閉軟件時顯微鏡倍率;用于讀取測量記錄等;用于保存設置數據、啟動數據,比如上次關閉軟件時顯微鏡倍率;用于保存測量記錄等。
進一步的,用戶界面用于:可視化設備屬性讀取、設置界面,包括分辨率等屬性;可視化畫筆預設界面,包括畫筆粗細、樣式、顏色等;可視化快捷工具界面,包括導出圖像、導出表格等;可視化測量界面,包括手動測量,劃線等;顯示測量結果,測定資訊界面,包括所有測量說明文字等。
進一步的,用戶界面上搭載有設備設置模塊。
進一步的,用戶界面上搭載有畫筆預設模塊,畫筆預設主要是對畫筆類型如實線、虛線,畫筆粗細如5pt、10pt,畫筆字體如宋體、黑體,畫筆大小等屬性進行配置,用于測量時候畫筆的屬性預先設置。
進一步的,用戶界面上搭載有快捷工具模塊,快捷工具包括以下功能,啟動校正、十字線設置、放大鏡、DEMO測量、導出word、導出excel、導出測量結果等。
進一步的,用戶界面上搭載有測定資訊模塊,測定資訊表示的是N次測量信息,包括每次測量所使用顏色、測定的類型如點線測量或平行中線測定,選中每個測定結果,可以查看詳細的測量數據,比如中心點坐標X和Y,以及測量曲線的長度等。
進一步的,設備設置模塊用于自動連接設備,并可由用戶打開屬性對話框,查看設備分辨率、設備id、設備曝光率、白平衡等參數,偶爾會有部分參數讀取不到的情況,則只顯示正常讀取到的參數;或下發參數設置,更改當前顯微鏡工作參數。
本發明還提供一種測量方法,測量步驟為:
S1) 圖像采集模塊實時采集圖像數據;
S2)通過用戶界面模塊操作選擇顯微鏡設備進行連接,同時可通過設備設置模塊查看設備屬性或設置設備屬性,也可通過畫筆預設模塊設置畫筆,等進行都是測量前的準備;
S3)利用直線測定算法進行測量;
S4)通過快捷工具模塊導出測量結構,或通過數據儲存模塊存儲當前測量結構或其他參數;
S5)通過測定資訊模塊查看測量結果詳情。
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