[發明專利]一種半徑測量裝置及半徑測量方法

在審

• 申請號: 201810613630.4
• 申請日: 2018-06-14
• 公開（公告）號: CN108955480A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 曾憲榮;丁紅珍;吳暉輝;賴燕君;伍建樺;高涌平
• 申請（專利權）人: 順德職業技術學院
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08
• 代理公司: 佛山市廣盈專利商標事務所(普通合伙) 44339
• 代理人: 李俊

1.一種半徑測量裝置，其特征在于，包括：

一水平設置的固定支架，所述固定支架具有貫穿其上下表面的通孔，所述通孔位于所述固定支架的中間位置，所述固定支架的兩端垂直設置有固定測桿；

還包括一弦高千分尺，所述弦高千分尺垂直安裝于所述通孔中,所述弦高千分尺包括擋帽和測微螺桿，所述擋帽外圓柱面上有滾花紋路，所述測微螺桿穿過所述通孔，與所述固定測桿抵接在待測弧面上。

2.根據權利要求1所述的半徑測量裝置，其特征在于，所述測微螺桿的上端是細牙螺桿，下端是測頭，所述測微螺桿上還設置有螺孔，所述固定測桿的下端設置有球頭，所述測頭與所述球頭抵接在待測弧面上。

3.根據權利要求2所述的半徑測量裝置，其特征在于：還包括螺紋套筒和微分筒，所述螺紋套筒是空心軸，所述測微螺桿穿過所述螺紋套筒,所述微分筒套設在所述螺紋套筒上，所述螺紋套筒的外圓柱面上沿軸線方向有主尺刻度，所述微分筒的外圓周上有副尺刻度。

4.根據權利要求3所述的半徑測量裝置，其特征在于：還包括鎖緊螺釘和調整螺釘，所述鎖緊螺釘依次穿過所述固定支架和所述螺紋套筒，抵接在所述測微螺桿的所述螺孔內,所述固定支架上設置有導向座，所述導向座與所述通孔相通，所述調整螺釘穿過所述導向座，抵接在螺紋套筒上。

5.一種半徑測量方法，采用權1-4任一項所述的半徑測量裝置，其特征在于：包括以下步驟：

a、選擇不同弦長的固定支架，將弦高千分尺安裝在所述固定支架的通孔中，；

b、組裝成半徑測量裝置，校準；

c、將固定測桿抵接在待測弧面上；調節擋帽，使測微螺桿抵接在待測弧面上，擰緊鎖緊螺釘；

d、讀取弦高尺寸，獲得圓弧半徑值。

6.根據權利要求5所述的半徑測量方法，其特征在于：所述步驟(a)中所述固定支架的弦長為30mm、60mm、100mm、150mm中的一個，所述固定支架上標識該固定支架的可測量半徑范圍，所述半徑測量裝置可測量半徑范圍為R25～R500。

7.根據權利要求5所述的半徑測量方法，其特征在于：所述步驟(b)的校準方法為：

b1、調節弦高千分尺高度，使所述測微螺桿的測頭與所述固定測桿的球頭抵接在同一個平面上，弦高千分尺的讀數為12.000mm；

b2、用標準量塊校準弦高千分尺，使弦高千分尺讀數對應的半徑與所述校準量塊的半徑一致。

8.根據權利要求5所述的半徑測量方法，其特征在于：所述步驟(d)中獲取圓弧半徑值是讀取弦高半徑讀數表或通過半徑計算公式計算。

9.根據權利要求8所述的半徑測量方法，其特征在于：所述半徑計算公式是：

。

10.根據權利要求5-9任一項所述的半徑測量方法，其特征在于：還包括：

e、所述半徑測量裝置放置和/或使用后，再次校準。然后重復步驟(c)和(d)。