[發(fā)明專利]PCBA測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810610317.5
• 申請(qǐng)日: 2018-06-13
• 公開（公告）號(hào): CN108459266A
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王浪;成攀;李凱翔;王時(shí)斌;華偉;劉焱
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞新友智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;B07C5/344
• 代理公司: 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350
• 代理人: 肖平安

PCBA測(cè)試裝置，涉及PCBA測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，其包括測(cè)試機(jī)架和機(jī)械手，測(cè)試機(jī)架設(shè)有裝有測(cè)試設(shè)備的測(cè)試工位，機(jī)械手將測(cè)試完畢的PCBA從相應(yīng)測(cè)試工位的測(cè)試設(shè)備取出完成下料，并將待測(cè)試的PCBA移至相應(yīng)測(cè)試工位的測(cè)試設(shè)備完成上料，測(cè)試機(jī)架的各個(gè)測(cè)試工位上下層疊設(shè)置。測(cè)試機(jī)架的各個(gè)測(cè)試工位采用上下層疊的形式布局，減小了本發(fā)明創(chuàng)造的PCBA測(cè)試裝置的占地面積，提高了空間利用率。而且由于測(cè)試工位的橫向尺寸比縱向尺寸大，測(cè)試工位采用上下層疊的形式布局，也能減小機(jī)械手上下料時(shí)需要覆蓋的范圍，縮短機(jī)械手移動(dòng)的總體距離，縮短機(jī)械手上下料所需時(shí)間，提高生產(chǎn)效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明創(chuàng)造涉及PCBA測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

PCBA(printed circuit board+assembly)為PCB(printed circuit board，印刷電路板)經(jīng)過(guò)SMT上件，在經(jīng)過(guò)DIP插件后形成的電路板。PCBA制程完成后，需要對(duì)PCBA進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試的內(nèi)容包括穩(wěn)定性、安全性及功能能否實(shí)現(xiàn)等。

現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)PCBA的測(cè)試基本采用自動(dòng)化設(shè)備取代人工測(cè)試作業(yè)。現(xiàn)有的PCBA測(cè)試裝置通常包括若干個(gè)測(cè)試工位，測(cè)試工位上安裝有測(cè)試設(shè)備，測(cè)試工位使平面單層布局的，占地面積較大，空間利用率不高，而且機(jī)械手上下料時(shí)需要覆蓋的平面范圍也比較大，總體移動(dòng)的距離更長(zhǎng)，導(dǎo)致上下料耗費(fèi)的時(shí)間較長(zhǎng)，生產(chǎn)效率不高。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明創(chuàng)造提供一種PCBA測(cè)試裝置，其占地面積較小，空間利用率較高，且能提高生產(chǎn)效率。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明創(chuàng)造提供以下技術(shù)方案。

PCBA測(cè)試裝置，包括測(cè)試機(jī)架和機(jī)械手，測(cè)試機(jī)架設(shè)有裝有測(cè)試設(shè)備的測(cè)試工位，機(jī)械手將測(cè)試完畢的PCBA從相應(yīng)測(cè)試工位的測(cè)試設(shè)備取出完成下料，并將待測(cè)試的PCBA移至相應(yīng)測(cè)試工位的測(cè)試設(shè)備完成上料，測(cè)試機(jī)架的各個(gè)測(cè)試工位上下層疊設(shè)置。

測(cè)試機(jī)架的各個(gè)測(cè)試工位采用上下層疊的形式布局，減小了本發(fā)明創(chuàng)造的PCBA測(cè)試裝置的占地面積，提高了空間利用率。而且由于測(cè)試工位的橫向尺寸比縱向尺寸大，測(cè)試工位采用上下層疊的形式布局，也能減小機(jī)械手上下料時(shí)需要覆蓋的范圍，縮短機(jī)械手移動(dòng)的總體距離，縮短機(jī)械手上下料所需時(shí)間，提高生產(chǎn)效率。

其中，測(cè)試機(jī)架的各個(gè)測(cè)試工位呈階梯狀設(shè)置，每個(gè)測(cè)試工位比其下方的測(cè)試工位更靠后。如此，在測(cè)試工位的測(cè)試裝置推出治具時(shí)，不會(huì)遮擋下方測(cè)試裝置，機(jī)械手移動(dòng)對(duì)下方的測(cè)試工位進(jìn)行操作，無(wú)需做避障動(dòng)作，減少了機(jī)械手移動(dòng)的時(shí)間和距離，進(jìn)一步提高生產(chǎn)效率。

其中，還包括前后并排設(shè)置的合格品下料傳送帶、上料傳送帶和不良品下料傳送帶，上料傳送帶位于合格品下料傳送帶和不良品下料傳送帶之間。機(jī)械手一次往返于上下料區(qū)域和測(cè)試工位可完成上料和下料的動(dòng)作，兩條下料傳送帶和一條上料傳送帶并排設(shè)置且上料傳送帶位于中間，可減少機(jī)械手的移動(dòng)距離，進(jìn)一步提高生產(chǎn)效率。

其中，測(cè)試機(jī)架在每個(gè)測(cè)試工位處前后貫通。如此，測(cè)試裝置及被測(cè)試的PCBA既可從前方取放，也可從后方取放，方便治具的更換和出現(xiàn)故障時(shí)進(jìn)行人工檢測(cè)。

其中，各個(gè)測(cè)試工位之間具有間隙。可用于設(shè)備線纜的布置、測(cè)試儀器的安裝放置。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明創(chuàng)造的PCBA測(cè)試裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為測(cè)試機(jī)架的一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖標(biāo)記包括：

測(cè)試機(jī)架1，測(cè)試工位11，測(cè)試設(shè)備12；

機(jī)械手2，執(zhí)行末端21；

上料傳送帶31，合格品下料傳送帶32，不良品下料傳送帶33；

PCBA 4。