[發明專利]內圈段差深度差異測定器

在審

• 申請號: 201810609551.6
• 申請日: 2018-06-13
• 公開（公告）號: CN110595330A
• 公開（公告）日: 2019-12-20
• 發明（設計）人: 趙圣學
• 申請（專利權）人: 上海東培企業有限公司
• 主分類號: G01B5/18
• 分類號: G01B5/18;G01B5/08
• 代理公司: 31283 上海弼興律師事務所
• 代理人: 胡美強;曾鶯華

本發明公開了一種內圈段差深度差異測定器，其包括：底座；支撐架，支撐架的一端滑動連接于底座；定位件，定位件的一端固定于底座，另一端能夠穿設于萬向節軸承，且另一端的外表面沿定位件的周向設有定位端，定位件用于固定萬向節軸承，且定位端用于抵靠于萬向節軸承的內圈段差的端面；測量組件，測量組件固定于支撐架，且相對于定位件設置，測量組件用于測試標準的萬向節軸承與待校準的萬向節軸承分別固定于定位件時的位置。本發明的內圈段差深度差異測定器通過設置整體結構，能夠快速量測待校準的萬向節軸承的內圈段差與標準的萬向節軸承的內圈段差的深度差異，并能有效保證量測的準確性及穩定性。

技術領域

本發明涉及一種內圈段差深度差異測定器。

背景技術

軸承的內圈的質量對軸承的性能、壽命等均有較大的影響，因此對內圈的尺寸精度有較高要求。尤其是一些特殊的軸承，量具的準確及穩定性，對制品的品質有重大影響。

現有技術中，沒有專門針對軸承的內圈段差的深度進行校對的測量工具，僅能借助輪廓儀或其他量具進行測量，而輪廓儀或其他量具使用不便且量測耗時長，影響生產效率。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服現有技術中沒有專門針對軸承的內圈段差的深度進行校對的測量工具，僅能借助輪廓儀或其他量具進行測量，而輪廓儀或其他量具使用不便且量測耗時長，影響生產效率的缺陷，提供一種內圈段差深度差異測定器。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題的：

一種內圈段差深度差異測定器，用于測量標準的萬向節軸承的內圈段差和待校準的萬向節軸承的內圈段差之間的深度差異，其特點在于，所述內圈段差深度差異測定器包括：

底座；

支撐架，所述支撐架的一端滑動連接于所述底座；

定位件，所述定位件的一端固定于所述底座，另一端能夠穿設于所述萬向節軸承，且另一端的外表面沿所述定位件的周向設有定位端，所述定位件用于固定所述萬向節軸承，且所述定位端用于抵靠于所述萬向節軸承的內圈段差的端面；

測量組件，所述測量組件固定于所述支撐架，且相對于所述定位件設置，所述測量組件用于測量所述標準的萬向節軸承與所述待校準的萬向節軸承分別固定于所述定位件時的位置。

在本技術方案中，通過定位件固定萬向節軸承，并通過定位端抵靠于萬向節軸承的內圈段差的端面，對標準的萬向節軸承的內圈段差和待校準的萬向節軸承的內圈段差的起始端面進行了同一定位，保證量測的準確性；并通過測量組件測量標準的萬向節軸承固定于定位件時的位置作為標準位置，再通過測量組件測量待校準的萬向節軸承固定于定位件時的位置得知其與標準的萬向節軸承的位置的差異，而進行對待校準的萬向節軸承的調整，以達到與標準的萬向節軸承的一致性。本技術方案的測量方式，相較于現有技術中，將標準的萬向節軸承的內圈段差的深度和待校準的萬向節軸承的內圈段差的深度分別通過量具量出、再進行對比的方式，更為快捷、更為準確；另外，避免了通過量具直接測試接觸面很小的萬向節軸承的內圈段差的端面，而大大提高了測試的準確性。

較佳地，所述定位件沿所述定位件的軸向包括相連接的安裝部和內徑防呆部，所述安裝部的外徑大于所述內徑防呆部的外徑，且所述內徑防呆部的外徑等于所述標準的萬向節軸承的內圈的最小直徑，所述安裝部靠近所述內徑防呆部的一端設有所述定位端。

在本技術方案中，定位件的內徑防呆部根據標準的萬向節軸承的內圈的最小直徑設置，能夠快速測量出待校準的萬向節軸承的內圈段差的深度與標準的萬向節軸承的內圈段差的深度之間的差異，同時還能夠通過內徑防呆部測得待校準的萬向節軸承的內圈直徑是否符合要求，而達到萬向節軸承的內圈直徑的防呆效果。

較佳地，所述安裝部沿所述定位件的軸向設有安裝孔，且所述安裝部靠近所述底座的一端沿所述安裝部的周向間隔設有至少一個固定孔，所述固定孔的中心軸線垂直于所述定位件的中心軸線。