[發明專利]一種用于評估DeMura設備亮度測量精度的方法

有效

• 申請號: 201810608731.2
• 申請日: 2018-06-13
• 公開（公告）號: CN108831358B
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 馮曉帆;鄭增強;劉釗;馬爾威;吳紅君;劉榮華;沈亞非
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 趙偉

本發明公開了一種評估DeMura設備亮度測量精度的方法，通過在原灰階圖像上添加隨機數生成加噪圖像，并將通過DeMura設備顯示的加噪圖像得到與添加的隨機數對應的測量值，根據這個測量值與原始添加的隨機數之間的相關性來評估Demura設備亮度測量精度，衡量Demura設備亮度提取性能，本發明提供的這種方法評估DeMura設備亮度數據測量精度的方法相比于采用SNR、或者采用CrossTalk測試方法來衡量DeMura設備亮度測量精度的現有技術，可以獲得測試值與實際值的偏差，提供了定量可測的、更能反映Demura設備實際性能的判定方法。

技術領域

本發明屬于OLED顯示面板缺陷識別技術領域，更具體地，涉及一種評估DeMura設備亮度數據測量精度的方法。

背景技術

OLED(有機發光二極管)Demura(Mura消除)設備用于提取OLED 面板的亮度，計算補償數據，對OLED面板生產中出現的Mura缺陷進行外部補償，減輕或消除Mura缺陷，提升產品的顯示效果和良率。由于Demura設備的亮度提取精度所存在的差異會直接影響補償效果，因此需要對該類設備的性能進行評估；這里的精度是指顯示面板的亞像素亮度提取的精度，即顯示面板的亞像素亮度的測量值與真實值之間的偏差。

現有技術中，對OLED DeMura設備的性能評估采用SNR、串擾值、人眼查看補償效果等方式，但是沒有統一的標準。SNR指標可反映DeMura設備的測量重復性能，即多次測量值的偏差，但不能準確反映DeMura設備的測量準確度，即測量值與真實值的偏差。串擾值指標可反映Demura設備的測量空間精度，但也同樣不能準確反映DeMura設備的測量準確度。人眼查看補償效果的方式是檢測Demura設備好壞的最終標準，但是受到人的主觀感受的影響，而且受到補償算法的干擾，難以量化，也難以實施。

現有技術無法準確的評估DeMura設備對Sandy Mura(沙粒狀Mura) 等Mura的修復效果；液晶面板領域的測試、科研及生產對準確評估DeMura設備亮度數據測量精度的技術提出了迫切的需求。

發明內容

針對現有技術的以上缺陷或改進需求，本發明提供了一種評估DeMura設備亮度測量精度的方法，其目的在于提高對DeMura設備亮度測量精確度評估的準確度。

為實現上述目的，按照本發明的一個方面，提供了一種評估DeMura設備亮度測量精度的方法，通過在灰階圖像上添加隨機數生成加噪圖像，并根據通過DeMura設備顯示的加噪圖像得到與添加的隨機數對應的測量值，根據所述測量值與原始添加的隨機數之間的相關性來評估Demura設備亮度測量精度。

優選地，上述評估DeMura設備亮度測量精度的方法，其添加隨機變數的方法，是在每一個亞像素上都疊加一個隨機數，或者是每一個周期幾個像素上疊加一個隨機數，或者在隨機的位置上疊加一個隨機數。

優選地，上述評估DeMura設備亮度測量精度的方法，其添加隨機數取±10之間的值，優選取2～10之間的值。

優選地，上述評估DeMura設備亮度測量精度的方法，其相關性

其中，Rx是指添加的隨機數，Rx_Mesure是指與添加的隨機數對應的測量值，Cov(Rx_Mesure,Rx)為Rx_Mesure與Rx的協方差，Var(Rx_Mesure)為Rx_Mesure的方差，Var(Rx)為Rx的方差。

本發明提供的一種評估DeMura設備亮度測量精度的方法，具體包括如下步驟：

(1)驅動OLED面板顯示不同灰階的多個圖像畫面；

(2)采用待評估DeMura設備提取每個所述圖像畫面的亞像素的亮度數據；