[發明專利]固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置在審
| 申請號: | 201810607996.0 | 申請日: | 2018-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN108776119A | 公開(公告)日: | 2018-11-09 |
| 發明(設計)人: | 張俊 | 申請(專利權)人: | 安徽建筑大學 |
| 主分類號: | G01N21/47 | 分類號: | G01N21/47;G01N21/01 |
| 代理公司: | 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 王志興 |
| 地址: | 230022 安徽省*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 漫反射光譜 固體樣品 加熱片 石英 載樣 測試 加熱裝置 調壓器 測試儀器領域 導線連接 回收 | ||
本發明公開了一種固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置,涉及漫反射光譜測試儀器領域,包括石英載樣片、加熱片、調壓器,所述石英載樣片的一面設有載樣凹槽,所述加熱片固定在所述石英載樣片的另一面,所述加熱片通過導線連接所述調壓器。本發明的優點在于:可以實現在固體樣品漫反射光譜測試時進行溫度控制,測試結束后可以回收樣品。
技術領域
本發明涉及漫反射光譜測試儀器領域,尤其涉及一種固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置。
背景技術
液體樣品漫反射光譜測試一般通過加熱比色皿來加熱調控樣品溫度,如通過循環水或電加熱裝置加熱比色皿,循環水或電加熱裝置的控溫范圍為室溫~110℃。而固體樣品漫反射光譜測試目前沒有加熱裝置,測試溫度為室溫,無法進行高溫測試。
現有的固體樣品漫反射光譜測試載樣裝置采用硫酸鋇背底,將硫酸鋇在載樣片上壓平制成硫酸鋇背底,然后將固體樣品鋪在硫酸鋇上壓平,再置于測試光路上進行測試,由于樣品與硫酸鋇壓在一起,測試結束后樣品無法回收。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種可以實現在固體樣品漫反射光譜測試時進行溫度控制并且測試結束后可以回收樣品的固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置。
本發明是通過以下技術方案解決上述技術問題的:固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置,包括石英載樣片(1)、加熱片(2)、調壓器(3),所述石英載樣片(1)的一面設有載樣凹槽(11),所述加熱片(2)固定在所述石英載樣片(1)的另一面,所述加熱片(2)通過導線連接所述調壓器(3)。
作為優化的技術方案,所述石英載樣片(1)為長方體。石英載樣片的形狀、尺寸適應固體漫反射光譜測試儀器積分球上的載樣片卡槽的形狀、尺寸。
作為優化的技術方案,所述載樣凹槽(11)為長方體。
作為優化的技術方案,所述載樣凹槽(11)的尺寸為長7~9mm,寬4~6mm,高0.15~0.25mm。載樣凹槽的形狀、尺寸適應固體漫反射光譜測試的需求并且使樣品用量較少。
作為優化的技術方案,所述加熱片(2)為長方體。加熱片固定在石英載樣片的另一面對應載樣凹槽的位置,形狀對應載樣凹槽,有利于加熱樣品。
作為優化的技術方案,所述加熱片(2)的電阻為20Ω。
作為優化的技術方案,所述加熱片(2)的加熱溫度范圍為25~550℃。
作為優化的技術方案,所述調壓器(3)為數字顯示調壓器。
作為優化的技術方案,所述調壓器(3)的輸出電壓為0~38V。
作為優化的技術方案,所述調壓器(3)的額定功率為100W。
本發明的優點在于:可以實現在固體樣品漫反射光譜測試時進行溫度控制,可以對測試材料的帶隙與溫度之間的關系實現深入研究,測試結束后可以回收樣品。
附圖說明
圖1是本發明固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置的結構示意圖。
圖2是本發明中石英載樣片的結構示意圖。
圖3是應用本發明固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置對某種固體樣品進行漫反射光譜測試得到的帶隙與溫度之間滿足的函數關系圖。
具體實施方式
如圖1-2所示,固體樣品漫反射光譜測試載樣加熱裝置,包括石英載樣片1、加熱片2、調壓器3。
石英載樣片1為長方體,石英載樣片1的尺寸適應固體漫反射光譜測試儀器積分球上的載樣片卡槽的尺寸,長69mm,寬35mm,高1.5mm。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于安徽建筑大學,未經安徽建筑大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810607996.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





