[發(fā)明專利]一種用于長度測量校準的標準器組

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• 申請日: 2018-06-13
• 公開（公告）號: CN108444416A
• 公開（公告）日: 2018-08-24
• 發(fā)明（設計）人: 施玉書;高思田;宋小平;皮磊;張樹;金瑋;李偉;李琪;黃鷺;李適
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01B15/00
• 分類號: G01B15/00
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 程華

本發(fā)明公開了一種用于長度測量校準的標準器組，其包括底座、支撐棒和標準球，所述底板上設置有若干通孔，所述支撐棒的一端設置在所述通孔中，所述支撐棒的另一端設置有一球窩，所述標準球設置在所述球窩內，所述標準球與所述球窩底面之間設置有粘接劑。本發(fā)明中采用在棒的頂端加工球窩，并通過粘接劑將標準球進行固定的方式，使得不對標準球進行任何破壞性加工，避免了標準球上破損導致測量結果準確性降低的問題，使得CT測量過程中可以充分利用整個球面，提高了測量結果的準確性。

技術領域

本發(fā)明涉及幾何量測量技術領域，特別是涉及一種用于長度測量校準的標準器組。

背景技術

工業(yè)CT是應用于工業(yè)領域的CT技術的通俗叫法。憑借工業(yè)CT對零部件內部結構的觀測能力，可以很方便地對相關的內部缺陷、裝配誤差等進行檢測，而無需對試件進行破壞，節(jié)約了時間和成本。近些年，工業(yè)CT以其優(yōu)異的三維成像和內外部結構檢測能力，正在從傳統(tǒng)的無損檢測領域，拓展到幾何量測量領域。一套完整的工業(yè)CT系統(tǒng)可以實現(xiàn)對工業(yè)零部件內外部結構非接觸、無損傷的測量。尤其是對于工件的內部結構，傳統(tǒng)的測量手段，如典型的CMM(coordinate measuring machine,坐標測量機)等，只能通過將工件拆卸，或進行逐層切片測量，耗時耗力。并且，工件在這個過程中不可避免地會發(fā)生形變，因此，測量結果不能很好地反映工件初始狀態(tài)的幾何結構。工業(yè)CT優(yōu)異的內部測量能力恰好可以彌補傳統(tǒng)測量手段的這些不足。尤其對于新近出現(xiàn)的3D打印技術，工業(yè)CT作為一種重要的檢測手段，可以為其提供樣品詳實的內外部結構信息。

然而，與傳統(tǒng)的CMM相比，工業(yè)CT除了機械運動機構外，還有X射線源、探測器、被測材料特性、圖像重建算法等復雜的誤差源。這就使得它的溯源校準工作非常困難。國內外相關學者在一些實物標準器的基礎上，對工業(yè)CT的校準方法進行了許多有價值的研究。但是，目前對于工業(yè)CT幾何量測量誤差的校準，尚未有一致認可的辦法。在傳統(tǒng)CMM的校準規(guī)范和驗收測試標準的基礎上，一些關于工業(yè)CT在幾何量測量領域應用的國家或國際標準正在起草或已經發(fā)布。

隨著國內工業(yè)CT技術的發(fā)展，一些國產的工業(yè)CT在成像性能上已經可以與國外相媲美。但在幾何量測量領域，幾乎仍是一片空白，或僅具備簡單的測量功能，測量準確度與國外發(fā)達國家差距很大。國內關于工業(yè)CT幾何量測量誤差校準方面的研究還很少，無法為相關領域的產業(yè)提供技術支撐。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的是提供一種測量準確度高、測量誤差小的用于長度測量校準的標準器組，使得現(xiàn)有技術中存在的幾何量測量準確度低、測量誤差大的問題得以解決。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下方案：本發(fā)明提供一種用于長度測量校準的標準器組，包括底座、支撐棒和標準球，所述底板上設置有若干通孔，所述支撐棒的一端設置在所述通孔中，所述支撐棒的另一端設置有一球窩，所述標準球設置在所述球窩內，所述標準球與所述球窩底面之間設置有粘接劑。

優(yōu)選的，所述底座為盤形底座，所述盤形底座包括上由下至上同軸設置有若干凸起，若干所述凸起的直徑由下至上依次增大，所述盤形底座和若干所述凸起上均設置有若干所述通孔，所述盤形底座上設置的若干所述通孔的軸心與所述盤形底座的軸心之間的距離均相同，每個所述凸起上設置的若干所述通孔的軸心與所述盤形底座的軸心之間的距離均相同。

優(yōu)選的，所述支撐棒和所述標準球成“米”字形設置在所述底座上。

優(yōu)選的，所述支撐棒和所述標準球成七軸結構設置在所述底座上。

優(yōu)選的，所述支撐棒上設置有至少一個所述標準球。

本發(fā)明相對于現(xiàn)有技術取得了以下有益效果：