[發明專利]磁盤裝置和刷新處理方法有效
| 申請號： | 201810605621.0 | 申請日： | 2018-06-13 |
| 公開（公告）號： | CN109979496B | 公開（公告）日： | 2020-12-25 |
| 發明（設計）人： | 磯川博 | 申請（專利權）人： | 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社 |
| 主分類號： | G11B20/18 | 分類號： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人： | 劉靜;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 磁盤 裝置 刷新 處理 方法 | ||
實施方式提供能夠提高數據可靠性的磁盤裝置和刷新處理方法。本實施方式的磁盤裝置具有：盤；頭，其向所述盤寫入數據，從所述盤讀取數據；以及控制器，其檢測當前讀取出的第1數據的第1誤碼率，在所述第1誤碼率相對于在檢測所述第1誤碼率之前讀取出的第1數據的第2誤碼率的第1變化量為第1閾值以上的情況下，將第1寫入次數修正為第2寫入次數，所述第1寫入次數是向在所述盤的半徑方向上與被寫入了第2數據的第1磁道相鄰的磁道進行了寫入的寫入次數，在所述第2寫入次數為第2閾值以上的情況下，將寫入到所述第1磁道的所述第2數據重寫。
關聯申請
本申請享受以日本專利申請2017-251062號(申請日：2017年12月27日)為基礎申請的優先權。本申請通過參照該基礎申請而包含基礎申請的全部內容。
技術領域
本發明的實施方式涉及磁盤裝置和刷新處理方法。
背景技術
在放置在高溫環境等容易產生熱波動現象狀況的情況下，在磁盤裝置中，由于熱波動現象，盤的數據可能會發生劣化。在磁盤裝置讀取了劣化的數據的情況下，所讀取出的數據的信號質量也可能會劣化。在檢測出劣化的數據的情況下，磁盤裝置執行對劣化的數據重寫的處理(刷新處理)。但是，在突然斷電并放置在容易產生熱波動現象的環境之后再次起動的情況下，磁盤裝置難以檢測因熱波動現象而劣化的數據。為了檢測因這樣的因熱波動現象而劣化的數據，在磁盤裝置中，需要讀取盤的全部數據，并評價所讀取出的數據。因此，在向盤寫入的數據較多的情況下，磁盤裝置為了檢測因熱波動現象而劣化的數據，將會進行需要較多時間的處理。
發明內容
本發明的實施方式提供能夠提高數據可靠性的磁盤裝置和刷新處理方法。
本實施方式的磁盤裝置具有：盤；頭，其向所述盤寫入數據，從所述盤讀取數據；以及控制器，其檢測當前讀取出的第1數據的第1誤碼率，在所述第1誤碼率相對于在檢測所述第1誤碼率之前讀取出的第1數據的第2誤碼率的第1變化量為第1閾值以上的情況下，將第1寫入次數修正為第2寫入次數，所述第1寫入次數是向在所述盤的半徑方向上與被寫入了第2數據的第1磁道相鄰的磁道進行了寫入的寫入次數，在所述第2寫入次數為第2閾值以上的情況下，將寫入到所述第1磁道的所述第2數據重寫。
附圖說明
圖1是示出第1實施方式的磁盤裝置的結構的框圖。
圖2是示出通常數據的數據模式的一例的示意圖。
圖3是示出檢測數據的數據模式的一例的示意圖。
圖4是示出與通常數據和檢測數據中的全部數據模式對應的各磁化反轉間隔的數據模式的比例的一例的圖。
圖5是示出低頻率模式的劣化率與誤碼率之間的關系的一例的圖。
圖6是示出因熱波動現象導致的檢測數據和通常數據的誤碼率的變化關系的一例的圖。
圖7是示出管理寫入次數的表的一例的圖。
圖8是示出通常數據的誤碼率和寫入次數的關系的一例的圖。
圖9是第1實施方式的刷新處理方法的一例的流程圖。
圖10是變形例1的刷新處理方法的一例的流程圖。
圖11是示出變形例2的磁盤裝置的結構的框圖。
圖12是示出變形例3的管理寫入次數的表的一例的圖。
圖13是第2實施方式的刷新處理方法的一例的流程圖。
具體實施方式
以下，參照附圖，對實施方式進行說明。此外，附圖是一例，不限定發明的范圍。
(第1實施方式)
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