[發明專利]一種含諧衍射面的Alvarez透鏡變焦系統在審
| 申請號: | 201810603543.0 | 申請日: | 2018-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN108845382A | 公開(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發明(設計)人: | 侯昌倫;李涇渭;辛青;臧月 | 申請(專利權)人: | 杭州電子科技大學 |
| 主分類號: | G02B3/08 | 分類號: | G02B3/08;G02B5/18;G02B15/00;G02B27/00 |
| 代理公司: | 杭州君度專利代理事務所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 朱月芬 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 透鏡 衍射 透鏡變焦 基面 微光機電系統 色差 微光學元件 透鏡面形 衍射器件 衍射透鏡 焦距 透鏡組 | ||
1.一種含諧衍射面的Alvarez透鏡變焦系統,包括第一諧衍射Alvarez透鏡(1)和第二諧衍射Alvarez透鏡(2),第一諧衍射Alvarez透鏡(1)包含一個基面(1-1)和工作面(1-2),第二諧衍射Alvarez透鏡(2)包含一個基面(2-1)和工作面(2-2),其特征是:第一Alvarez透鏡(1)和第二Alvarez透鏡(2)面形互補;
其中所述的每個諧衍射Alvarez透鏡的工作面由Alvarez透鏡切割得到;其中Alvarez透鏡的表面多項式方程為:
其中A表示為多項式系數;
Alvarez透鏡產生焦距f為:
2δ為兩個Alvarez透鏡之間的移動的距離,n為Alvarez透鏡的材料折射率;
Alvarez透鏡的相位差與光程差的關系是:
其中為相位差,λ為波長,Δδ為光程差;
將Alvarez透鏡去除相位差為2π的整數m倍,剩余的部分便是光程差為2π的m倍的諧衍射Alvarez透鏡組的工作面;m≥2;
所述的諧衍射Alvarez透鏡組的基面滿足光程差為2π的m倍。
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