[發(fā)明專利]一種用于同步輻射光源CT成像的拉伸臺

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810602634.2
• 申請日: 2018-06-12
• 公開（公告）號: CN108760500B
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 唐光澤;范國華;王同敏;康慧君;鄭德志
• 申請（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01N3/08
• 分類號: G01N3/08;G01N23/046
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 牟永林

一種用于同步輻射光源CT成像的拉伸臺，本發(fā)明涉及一種拉伸臺，本發(fā)明為解決結(jié)構(gòu)材料在外力作用下裂紋的萌生和擴展過程采用傳統(tǒng)的分析手段無法實現(xiàn)原位實時觀察研究，同步輻射X光CT成像以其高的穿透能力可以對毫米級試樣的內(nèi)部缺陷進行觀察和分析，在同步輻射CT成像線站上完成斷裂過程的原位觀察，現(xiàn)有技術(shù)還沒有此類裝置，它包括第一正反扣絲杠、下夾具軸承座、X位移調(diào)整機構(gòu)、Y位移調(diào)整機構(gòu)、上夾具轉(zhuǎn)軸、上連接夾具、力傳感器、第二正反扣絲杠、驅(qū)動電機、蝸桿、兩個蝸輪、兩個滑塊固定板、兩個帶有電機傳動機構(gòu)的旋轉(zhuǎn)體、兩個旋轉(zhuǎn)體連接軸、兩個撓性聯(lián)軸器、兩個夾具和四個導(dǎo)軌滑塊。本發(fā)明光源成像拉伸領(lǐng)域。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種拉伸臺，具體涉及一種用于同步輻射光源CT成像的拉伸臺。

背景技術(shù)

同步輻射X光以其高亮度、高能量、高相干性、高準(zhǔn)直性的優(yōu)點成為現(xiàn)代科學(xué)的重要探測工具，歐美、日本和我國都建設(shè)了自己的同步輻射大科學(xué)裝置。其中CT成像是同步輻射技術(shù)的一個重要應(yīng)用。利用該方法可以對材料、生物體、礦物等樣本內(nèi)部結(jié)構(gòu)實現(xiàn)無損檢測，廣泛應(yīng)用于材料、生物、考古和地質(zhì)等研究領(lǐng)域。

結(jié)構(gòu)材料在外力作用下的失效行為一直是材料科學(xué)領(lǐng)域的重要基礎(chǔ)問題，其過程可以分為裂紋萌生、擴展和斷裂三個階段。但是由于裂紋的萌生和擴展過程一般發(fā)源構(gòu)件內(nèi)部，采用傳統(tǒng)的分析手段無法實現(xiàn)原位實時觀察研究。早期的研究一般都是對已經(jīng)斷裂的構(gòu)件的斷口進行觀察和然后推測斷裂發(fā)生的過程，缺乏實證支持。同步輻射X光CT成像以其高的穿透能力可以對毫米級試樣的內(nèi)部缺陷進行觀察和分析，是一種研究材料斷裂過程的有利工具。要在同步輻射CT成像線站上完成斷裂過程的原位觀察，現(xiàn)有技術(shù)還沒有在掃描過程中對試樣樣品的加載拉伸臺。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明為解決結(jié)構(gòu)材料在外力作用下裂紋的萌生和擴展過程采用傳統(tǒng)的分析手段無法實現(xiàn)原位實時觀察研究，同步輻射X光CT成像以其高的穿透能力可以對毫米級試樣的內(nèi)部缺陷進行觀察和分析，在同步輻射CT成像線站上完成斷裂過程的原位觀察，現(xiàn)有技術(shù)還沒有此類裝置，進而需要提供一種用于同步輻射光源CT成像的拉伸臺。

本發(fā)明為解決上述問題采取的技術(shù)方案是：它包括拉伸臺框架基座、第一正反扣絲杠、下夾具軸承座、第一下夾具轉(zhuǎn)軸、第二下夾具轉(zhuǎn)軸、第二上夾具轉(zhuǎn)軸、調(diào)心位移機構(gòu)連接塊、X位移調(diào)整機構(gòu)、Y位移調(diào)整機構(gòu)、上夾具轉(zhuǎn)軸、上連接夾具、力傳感器、第二正反扣絲杠、驅(qū)動電機、蝸桿、兩個蝸輪、兩個滑塊固定板、兩個連接夾具凹形框、兩個帶有電機傳動機構(gòu)的旋轉(zhuǎn)體、兩個旋轉(zhuǎn)體連接軸、兩個撓性聯(lián)軸器、兩個絲杠右旋螺母、兩個絲杠左旋螺母、兩個夾具和四個導(dǎo)軌滑塊；