[發明專利]存儲器設備、存儲器系統和存儲器設備的操作方法

在審

• 申請號: 201810599590.2
• 申請日: 2018-06-12
• 公開（公告）號: CN109087681A
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 權慧貞;樸光一;裴升浚;徐恩圣
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C29/02
• 分類號: G11C29/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邵亞麗

提供了存儲器設備及其操作方法。存儲器設備包括：至少一個內部電路，該內部電路包括存儲單元陣列和被配置為驅動存儲單元陣列的外圍電路；監控邏輯，被配置為監控流入至少一個內部電路的電流并且輸出監控結果；檢測邏輯，被配置為基于監控結果來檢測漏電流是否在至少一個內部電路中流動，并且輸出檢測的關于漏電流的信息；以及診斷邏輯，被配置為基于檢測的信息來診斷至少一個內部電路中的錯誤。

對相關申請的交叉引用

本申請要求于2017年6月13日向韓國知識產權局提交的韓國專利申請第10-2017-0074015號的優先權，該韓國專利申請的公開內容通過引用整體并入于此。

背景技術

本發明構思涉及存儲器設備，并且更具體地涉及，被配置為通過檢測漏電流來診斷錯誤的存儲器設備、包括該存儲器設備的存儲系統和/或操作該存儲器設備的方法。

諸如動態隨機存取存儲器(DRAM)的半導體存儲器設備被廣泛用作電子系統(包括計算機和便攜式電子設備)的主存儲器。在活動模式下，存儲器設備不可避免地消耗電力以用于執行各種存儲器操作(例如，寫入操作、讀取操作、擦除操作和/或刷新操作)。在除了活動模式之外的空閑狀態下，存儲器設備以待機模式進行操作以最小化功耗。然而，由于存儲器設備的小型化，待機狀態下的漏電流(leakage current)的幅度傾向于逐漸增加。存儲器設備在物聯網(IoT)領域被廣泛使用。因此，待機狀態下的漏電流問題變得更加顯著。

發明內容

本發明構思提供了存儲器設備、包括該存儲器設備的存儲器系統以及操作該存儲器設備的方法，并且更具體地，提供了被配置為通過檢測漏電流來診斷錯誤的存儲器設備、包括該存儲器設備的存儲器系統以及操作該存儲器設備的方法。

根據本發明構思的示例實施例，一種存儲器設備可以包括：至少一個內部電路，包括存儲單元陣列和被配置為驅動存儲單元陣列的外圍電路；監控邏輯，被配置為監控流入至少一個內部電路的電流并且輸出監控結果；檢測邏輯，被配置為基于監控結果檢測漏電流是否在至少一個內部電路中流動，并且輸出檢測的關于漏電流的信息；以及診斷邏輯，被配置為基于檢測的信息來診斷至少一個內部電路中的錯誤。

根據本發明構思的示例實施例，一種存儲器設備可以包括：電源；至少一個內部電路，被配置為從電源接收電壓；以及錯誤檢測電路，被配置為在待機模式下檢測流入內部電路的漏電流，并且基于關于漏電流的信息檢測關于至少一個內部電路的錯誤。

根據本發明構思的示例實施例，一種操作存儲器設備的方法可以包括：在待機模式下，監控流入被配置為驅動存儲器設備的存儲單元的至少一個內部電路的電流并且輸出監控結果；基于監控結果，檢測關于在至少一個內部電路中流動的漏電流的信息；基于關于漏電流的信息，診斷在至少一個內部電路中是否發生了錯誤；以及響應于指示在至少一個內部電路中已經發生錯誤的診斷結果，向存儲器設備外部的外部設備輸出錯誤警告信號。

附圖說明

根據以下結合附圖的詳細描述，將更清楚地理解本發明構思的示例實施例，在附圖中：

圖1是示出根據示例實施例的包括存儲器設備的存儲器系統的圖；

圖2是根據示例實施例的錯誤檢測電路的功能組件的框圖；

圖3是用于描述根據示例實施例的監控邏輯的操作的圖；

圖4A和圖4B是用于描述根據示例實施例的存儲器設備的操作的曲線圖；

圖5是示出根據示例實施例的核心/外圍電路的框圖；

圖6是根據示例實施例的監控邏輯的功能組件的框圖；

圖7A和圖7B是用于描述根據示例實施例的存儲器設備的操作的曲線圖；

圖8是根據另一示例實施例的錯誤檢測電路的功能組件的框圖；