[發明專利]用于掃描細長結構的方法和掃描系統

有效

• 申請號: 201810598200.X
• 申請日: 2018-06-12
• 公開（公告）號: CN109488887B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發明（設計）人: M·薩法伊;G·E·喬治森
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: F17D5/02
• 分類號: F17D5/02;F17D5/00;G01N23/04
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 黃綸偉

1.一種掃描系統(106)，該掃描系統(106)包括：

平移結構(110)，該平移結構(110)被配置為在細長結構(102)上軸向地移動和旋轉地移動；

掃描儀(112)，該掃描儀(112)連接到所述平移結構(110)；以及

控制器(114)，該控制器(114)與所述平移結構(110)和所述掃描儀(112)通信，其中，所述控制器(114)在所述掃描儀(112)執行所述細長結構(102)的軸向掃描(124)的同時控制所述平移結構(110)沿著所述細長結構(102)軸向地移動，并且在所述掃描儀(112)執行所述細長結構(102)的旋轉掃描(126)的同時控制所述平移結構(110)圍繞所述細長結構(102)旋轉地移動，

其中，在所述細長結構(102)的所述軸向掃描(124)期間，所述控制器(114)使所述平移結構(110)沿著所述細長結構(102)的長度軸向地移動并監測不一致(108)，

其中，所述控制器(114)使所述平移結構(110)在檢測到所述不一致(108)的位置(130)處圍繞所述細長結構(102)旋轉地移動，并且所述控制器(114)檢測所述細長結構(102)在所述位置(130)處的所述旋轉掃描(126)期間的數據(132)。

2.根據權利要求1所述的掃描系統(106)，其中，下列項中的至少一個：

所述平移結構(110)沿著所述細長結構(102)的長度移動，并且在完成所述細長結構(102)的所述軸向掃描(124)之后軸向地移動以返回到所述位置(130)，并且在所述位置(130)處旋轉地移動并在所述位置(130)處執行所述旋轉掃描(126)；以及

所述平移結構(110)在所述位置(130)處停止沿著所述細長結構(102)的長度進行的軸向移動，并且在執行所述旋轉掃描(126)的同時在所述位置(130)處圍繞所述細長結構(102)旋轉地移動。

3.根據權利要求1所述的掃描系統(106)，其中，所述平移結構(110)包括：

托架(200)，該托架(200)被配置為自身附接到所述細長結構(102)；以及

移動系統(202)，該移動系統(202)被配置為使所述托架軸向地移動和旋轉地移動。

4.根據權利要求3所述的掃描系統(106)，其中，下列項中的至少一個：

所述托架(200)被配置為自身附接到所述細長結構(102)，使得輪系統按照允許所述輪系統使所述托架(200)軸向地移動和旋轉地移動的方式接觸所述細長結構(102)；以及

所述移動系統(202)包括輥、輪子和軌道中的至少一種。

5.根據權利要求4所述的掃描系統(106)，其中，所述輪子包括完整輪。

6.根據權利要求1所述的掃描系統(106)，其中，所述平移結構(110)按照螺旋掃描路徑(702)、柵格掃描路徑(804)或鋸齒掃描路徑(902)中的至少一個移動。

7.根據權利要求1所述的掃描系統(106)，其中，下列項中的至少一個：

所述平移結構(110)選自包括以下項的組：機動臂、履帶臂和基于軌道的臂；

所述掃描儀(112)包括X射線掃描系統、后向散射X射線系統或貫穿透射X射線系統中的至少一個；

所述細長結構(102)選自管道(104)、滾筒、結構梁、風力渦輪機葉片和樁中的一個；以及

所述掃描儀(112)被配置為將能量引導在所述細長結構(102)處并檢測對引導在所述細長結構(102)處的所述能量的響應，并且

其中，所述能量選自包括以下項的組：X射線、超聲輻射、紫外輻射、電磁輻射、紅外輻射和微波輻射。

8.根據權利要求7所述的掃描系統(106)，其中，所述管道包括導管。

9.根據權利要求7所述的掃描系統(106)，其中，所述結構梁包括縱梁。