[發明專利]一種控制系統的測試裝置及方法

有效

• 申請號: 201810597837.7
• 申請日: 2018-06-11
• 公開（公告）號: CN108919775B
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發明（設計）人: 劉梅英;江游;方向;王寧;黃澤建;龔曉云
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 北京金智普華知識產權代理有限公司 11401
• 代理人: 巴曉艷

1.一種控制系統的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：

第一電阻，所述第一電阻的兩端分別連接至控制系統的輸入接口和輸出接口；

第二電阻，所述第二電阻的第一端連接至所述控制系統的輸入接口，所述第二電阻的第二端連接至可控電壓源；

所述可控電壓源，連接至處理器；

信號采集模塊，用于采集所述第一電阻兩端的電壓差；

所述處理器，用于根據所述第一電阻兩端的電壓差確定所述第一電阻的電流大小，以判斷所述控制系統是否處于正常狀態，

其中，所述控制系統包括：第三電阻、懸浮電壓源、電壓設置模塊、比較器、電源單元以及運放模塊，

所述第三電阻的第一端接地，所述第三電阻的第二端通過所述懸浮電壓源連接至所述控制系統的輸入接口；

所述電壓設置模塊與所述第三電阻的第二端分別連接至所述比較器的輸入端，所述比較器的輸出端連接至所述電源單元的控制端，所述電源單元的正極和負極分別連接至所述控制系統的輸出接口和輸入接口；

所述運放模塊用于對所述控制系統進行隔離保護。

2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述信號采集模塊還用于采集所述第二電阻兩端的電壓差。

3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

第一差分運放模塊，用于消除第一電阻兩端電壓的共模干擾。

4.根據權利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

第二差分運放模塊，用于消除第二電阻兩端電壓的共模干擾。

5.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

操控模塊，所述操控模塊連接于所述處理器。

6.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述處理器與所述比較器連接。

7.一種控制系統的測試方法，其特征在于，適用于權利要求1至6任一項所述的測試裝置，所述方法包括：

獲取控制系統的預設電壓、所述預設電壓對應的發射電流以及所述預設電壓對應的判斷電流；

調節可控電壓源，以使第二電阻的電流與所述發射電流相等；

獲取第一電阻的電流；

在系統上升時長后，比對所述第一電阻的電流與所述判斷電流；

當所述第一電阻的電流相對于所述判斷電流的超調量大于指定值時，確定所述控制系統為非正常工作狀態；

當所述第一電阻的電流相對于所述判斷電流的超調量小于或者等于指定值時，確定所述控制系統為正常工作狀態，

其中，所述控制系統包括：第三電阻、懸浮電壓源、電壓設置模塊、比較器、電源單元以及運放模塊，所述處理器與所述比較器連接，所述方法還包括：

發送所述第一電阻兩端的電壓差至所述比較器，以調節所述電源單元的輸出電壓。