[發明專利]一種掃頻互調失真測試系統與方法

有效

• 申請號: 201810583643.1
• 申請日: 2018-06-08
• 公開（公告）號: CN108521309B
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發明（設計）人: 劉丹;李樹彪;梁勝利;曹志英;郭永瑞
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10;H04B17/11;H04B17/15;H04B17/21;H04B17/29
• 代理公司: 青島智地領創專利代理有限公司 37252
• 代理人: 種艷麗

本發明公開了一種掃頻互調失真測試系統與方法，屬于測試技術領域，本發明系統包括互調失真參數分析單元、互調失真掃描控制單元、互調失真數據處理單元和互調失真校準單元；本發明提供快速多源掃頻互調參數測試方法，整合互調參數接收機掃頻范圍，當掃描處理范圍符合參數運算需求時既可以獲得滿足條件參數的測試結果，在用戶測量多個互調參數時，根據參數整合網絡儀掃描控制，使得用戶快速獲得測量結果；利用矢量網絡分析儀的源和接收機校準及SOLT校準方法，以獲得準確的互調源功率輸出和接收機測量結果，提高了互調失真參數的測量準確度。

技術領域

本發明屬于測試技術領域，具體涉及一種掃頻互調失真測試系統與方法。

背景技術

隨著微波通信系統調制類型的增加，對放大器、混頻器等器件的測試要求更加嚴格。除了基本的幅相等線性特性測試，變頻器件、放大器等還需測試大信號狀態下的非線性特性：諧波特性、二階截距點、三階截距點等互調失真分量測試。傳統上測量互調失真需要兩個源和一個頻譜儀，通過程控方式控制信號源來產生所需的雙音激勵信號，再控制頻譜分析儀分析器件互調音頻譜，最后根據測試結果利用公式計算截距點等參數。這種測試方法不僅需要多臺儀器，還需要用戶進行程控和后續數據處理，導致工作繁瑣且測量效率低。

對同一個器件采用多種儀器進行測試，不僅測試成本高、測試效率低，多種儀器的測試數據整合也增加了測試復雜度和測試難度；目前矢量網絡分析儀提供的互調失真測試功能，采用單參數掃描方式，導致測試效率不高。

發明內容

針對現有技術中存在的上述技術問題，本發明提出了一種掃頻互調失真測試系統與方法，設計合理，克服了現有技術的不足，具有良好的效果。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種掃頻互調失真測試系統，包括互調失真參數分析單元、互調失真掃描控制單元、互調失真數據處理單元和互調失真校準單元；

互調失真參數分析單元，被配置為用于對當前通道全部互調失真參數進行分析；

匯總當前通道全部互調失真參數，根據參數名稱、測量端口、測量類型分析互調參數需要的激勵范圍和接收范圍，并將結果存入互調失真參數結構中；

互調失真掃描控制單元，被配置為用于根據分析結果設置網絡儀射頻源輸出范圍和接收機接收范圍；

在用戶創建互調參數時調用，首先獲取互調參數結構，根據結構設置網絡儀激勵源掃描范圍和功率與接收機頻率范圍，如果經過校準且修正打開，則對激勵源進行修正后輸出；掃描設置完畢后通知互調失真數據處理單元進行處理；

互調失真數據處理單元，被配置為用于獲得原始測量數據，經接收機修正后，判斷已經接收到的數據是否滿足互調參數計算要求，如果滿足則計算出互調參數并通知系統顯示，否則存儲后等待；

互調失真校準單元，被配置為用于提供校準界面，提示用戶按照需要連接校準所需的功率計、校準件和線纜；

首先在包括雙音、全部互調音的頻率范圍內進行功率校準，再對雙音激勵源進行功率校準，最后通過全雙端口校準獲取準確的源和接收機校準數據。

此外，本發明還提到一種掃頻互調失真測試方法，該方法采用上所述的掃頻互調失真測試系統，具體包括如下步驟：

步驟1：通過互調失真參數分析單元，對當前通道全部互調失真參數進行分析；具體包括如下步驟：

步驟1.1：獲取當前通道全部互調失真測量軌跡參數名稱；

步驟1.2：依次針對每一個參數，根據該參數的名稱、測量端口、測量階數、測量類型，確定該參數需要測量的主音和各階互調音是否已經存在；

若：判斷結果是主音或對應的互調音不存在，則執行步驟1.3；