[發(fā)明專(zhuān)利]具有防篡改保護(hù)的集成電路及其方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810571846.9 | 申請(qǐng)日： | 2018-05-31 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN108986857A | 公開(kāi)（公告）日： | 2018-12-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | J·艾琳斯;S·艾哈邁德;L·林德遜 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 硅實(shí)驗(yàn)室股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G11C13/00 | 分類(lèi)號(hào)： | G11C13/00 |
| 代理公司： | 上海專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人： | 周全;錢(qián)慰民 |
| 地址： | 美國(guó)得*** | 國(guó)省代碼： | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 篡改 邏輯狀態(tài) 集成電路 響應(yīng)電路 狀態(tài)電路 受保護(hù) 傳感器 響應(yīng) 電路 故障信號(hào) 防篡改 時(shí)鐘信號(hào) 輸出 | ||
1.一種集成電路，包括：
篡改傳感器，該篡改傳感器具有多個(gè)狀態(tài)電路，每個(gè)狀態(tài)電路具有相應(yīng)的輸出端，所述相應(yīng)的輸出端提供相應(yīng)的邏輯狀態(tài)并且在正常操作時(shí)響應(yīng)于時(shí)鐘信號(hào)來(lái)切換所述相應(yīng)的邏輯狀態(tài)，并且無(wú)法響應(yīng)于相應(yīng)的故障注入來(lái)切換所述相應(yīng)的邏輯狀態(tài)，其中所述篡改傳感器具有響應(yīng)于所述多個(gè)狀態(tài)電路的所述相應(yīng)的邏輯狀態(tài)的差異來(lái)提供故障信號(hào)的輸出端；
受保護(hù)電路；以及
篡改響應(yīng)電路，該篡改響應(yīng)電路耦合到所述篡改傳感器和所述受保護(hù)電路，用于響應(yīng)于所述故障信號(hào)執(zhí)行保護(hù)操作以保護(hù)所述受保護(hù)電路。
2.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述受保護(hù)電路包括數(shù)據(jù)處理器，并且所述保護(hù)操作包括阻止調(diào)試操作。
3.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述保護(hù)操作還包括向所述受保護(hù)電路提供存儲(chǔ)器擦除操作。
4.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述保護(hù)操作還包括提供用于使密碼認(rèn)證操作的結(jié)果無(wú)效的無(wú)效操作。
5.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述篡改傳感器還檢測(cè)保持時(shí)間違規(guī)。
6.如權(quán)利要求5所述的集成電路，其特征在于，所述篡改傳感器使用第一寄存器檢測(cè)所述保持時(shí)間違規(guī)，所述第一寄存器具有數(shù)據(jù)輸入端和耦合到所述數(shù)據(jù)輸入端的互補(bǔ)輸出端以及真輸出端。
7.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述篡改傳感器還檢測(cè)建立時(shí)間違規(guī)。
8.如權(quán)利要求7所述的集成電路，其特征在于，所述篡改傳感器使用第二寄存器電路檢測(cè)所述建立時(shí)間違規(guī)，所述第二寄存器電路具有第二寄存器以及第一延遲元件，所述第一延遲元件具有耦合到所述第二寄存器的數(shù)據(jù)輸入端的輸入端，并且所述第一延遲元件具有耦合到所述第二寄存器的互補(bǔ)輸入端的輸出端，并且所述第二寄存器具有輸出端。
9.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述篡改傳感器包括：
第一寄存器，該第一寄存器響應(yīng)于所述時(shí)鐘信號(hào)來(lái)計(jì)時(shí)并檢測(cè)保持時(shí)間違規(guī)；
第二寄存器，該第二寄存器響應(yīng)于所述時(shí)鐘信號(hào)來(lái)計(jì)時(shí)并檢測(cè)建立時(shí)間違規(guī)；
比較電路，該比較電路比較所述第一寄存器的輸出與所述第二寄存器的輸出；以及
輸出寄存器，該輸出寄存器響應(yīng)于所述時(shí)鐘信號(hào)而計(jì)時(shí)，檢測(cè)保持時(shí)間違規(guī)并檢測(cè)建立時(shí)間違規(guī)，并且具有耦合到所述比較電路的所述輸出端的數(shù)據(jù)輸入端以及用于提供所述故障信號(hào)的輸出端。
10.如權(quán)利要求9所述的集成電路，其特征在于，所述比較電路接收所述第一寄存器和所述第二寄存器的真輸出。
11.如權(quán)利要求9所述的集成電路，其特征在于，所述比較電路接收所述第一寄存器和所述第二寄存器的互補(bǔ)輸出。
12.如權(quán)利要求9所述的集成電路，其特征在于，所述第一寄存器和所述第二寄存器以小于與預(yù)期故障注入?yún)^(qū)相關(guān)的預(yù)定距離的距離在所述集成電路上被分開(kāi)。
13.如權(quán)利要求9所述的集成電路，其特征在于，所述第一寄存器和所述第二寄存器在所述集成電路上并置在四個(gè)單位單元組中，用于局部檢測(cè)所述相應(yīng)的故障注入。
14.如權(quán)利要求13所述的集成電路，其特征在于，所述四個(gè)單位單元組跨所述集成電路分布成陣列。
15.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述篡改傳感器響應(yīng)于具有超過(guò)預(yù)定大小的絕對(duì)值的電磁脈沖注入來(lái)進(jìn)一步檢測(cè)所述相應(yīng)的故障注入。
16.如權(quán)利要求1所述的集成電路，其特征在于，所述篡改傳感器還在所述相應(yīng)的故障注入通過(guò)電壓毛刺被引入時(shí)檢測(cè)所述故障注入。
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