[發明專利]一種變溫積分球光學耦合測試裝置在審
| 申請號： | 201810565487.6 | 申請日： | 2018-06-04 |
| 公開（公告）號： | CN108645803A | 公開（公告）日： | 2018-10-12 |
| 發明（設計）人： | 閆東鵬;陳明星 | 申請（專利權）人： | 北京師范大學 |
| 主分類號： | G01N21/31 | 分類號： | G01N21/31;G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京太兆天元知識產權代理有限責任公司 11108 | 代理人： | 梁青紅 |
| 地址： | 100875 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 積分球 變溫 測試裝置 固體樣品 光學耦合 光纖 光敏功能材料 光學參數測量 溫度控制裝置 光譜儀 光譜測定 控溫部件 漫反射光 溫度條件 耦合連接 漫反射 導出 反射 光孔 可用 測試 檢測 | ||
【權利要求書】：
1.一種變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，包括:
控溫部件，用于控制固體樣品的溫度范圍內變化；
積分球，光通過積分球上的光孔打在樣品上，反射到積分球中進行實現漫反射后經過光纖導出；
光纖，連接積分球和光譜儀，漫反射光通過變溫光譜測定，得到固體樣品在不同溫度條件下的光學參數測量。
2.根據權利要求1所述的變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，所述控溫部件包括電制冷和電加熱溫度控制裝置，位于積分球開口處正下方1-2mm，控制固體樣品的溫度范圍為4K-500K。
3.根據權利要求2所述的變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，所述固體樣品位于所述控溫部件中，是粉末或薄膜樣品。
4.根據權利要求3所述的變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，所述光纖長度范圍為1至5m。
5.根據權利要求4所述的變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，所述光譜儀是紫外、可見、近紅外熒光光譜儀或吸收光譜儀中的任意一種。
6.根據權利要求5所述的變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，所述要測量的光學參數是漫反射光譜和熒光絕對量子產率。
7.根據權利要求6所述的變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，所述控溫部件是牛津公司的microstat裝置。
8.根據權利要求7所述的變溫積分球光學耦合測試裝置，其特征在于，所述光譜儀是愛丁堡公司的FLS980。
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