[發(fā)明專利]導(dǎo)致表面缺陷的異常定位方法、裝置、系統(tǒng)及電子設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810564884.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110619620B | 公開(公告)日: | 2022-04-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳佳偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州海康威視數(shù)字技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/187;G06T7/62;G06T7/73;G06T7/90;G06K9/62;G06V10/764 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 馬敬;項(xiàng)京 |
| 地址: | 310051 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)致 表面 缺陷 異常 定位 方法 裝置 系統(tǒng) 電子設(shè)備 | ||
1.一種導(dǎo)致表面缺陷的異常定位方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待檢測(cè)圖像的缺陷檢測(cè)結(jié)果,所述缺陷檢測(cè)結(jié)果包括所述待檢測(cè)圖像中的缺陷統(tǒng)計(jì)信息,所述待檢測(cè)圖像為圖像采集設(shè)備拍攝的包括檢測(cè)對(duì)象的圖像;
獲取與所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息匹配的待分析圖像,其中,所述待分析圖像為:數(shù)據(jù)庫中統(tǒng)計(jì)的合成圖像中缺陷統(tǒng)計(jì)信息與所述待檢測(cè)圖像的缺陷統(tǒng)計(jì)信息相匹配的圖像,所述合成圖像是根據(jù)至少一個(gè)信號(hào)采集設(shè)備采集的信號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)信息提取后轉(zhuǎn)換成的二維圖像,所述合成圖像反映所述檢測(cè)對(duì)象在生產(chǎn)過程中生產(chǎn)線上各生產(chǎn)設(shè)備狀態(tài);
對(duì)所述待分析圖像進(jìn)行檢測(cè)分析,確定出與所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息關(guān)聯(lián)的異常信息,所述異常信息包括異常位置信息,其中,所述對(duì)所述待分析圖像進(jìn)行檢測(cè)分析,確定出與所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息關(guān)聯(lián)的異常信息,包括:根據(jù)所述待分析圖像,檢測(cè)生產(chǎn)所述檢測(cè)對(duì)象的生產(chǎn)線上各生產(chǎn)設(shè)備狀態(tài)是否異常;確定所述生產(chǎn)線上異常的生產(chǎn)設(shè)備;根據(jù)所述異常的生產(chǎn)設(shè)備的設(shè)備狀態(tài)信息,確定出所述異常的生產(chǎn)設(shè)備的異常位置信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取待檢測(cè)圖像的缺陷檢測(cè)結(jié)果,包括:
獲取待檢測(cè)圖像;
將所述待檢測(cè)圖像輸入預(yù)先訓(xùn)練的深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型,得到所述待檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)的多值圖;
從所述多值圖中,獲取所述待檢測(cè)圖像的缺陷統(tǒng)計(jì)信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息包括:所述待檢測(cè)圖像中存在的缺陷類型、各類型缺陷的數(shù)目、各類型缺陷的位置以及各類型缺陷的面積占比;
所述從所述多值圖中,獲取所述待檢測(cè)圖像的缺陷統(tǒng)計(jì)信息,包括:
根據(jù)像素值與各類型缺陷的預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系,確定所述多值圖中各類型缺陷所處的連通區(qū)域,其中,相同類型缺陷所處的連通區(qū)域中的像素值相同;
針對(duì)各類型缺陷,在所述多值圖中,統(tǒng)計(jì)該類型缺陷所處的連通區(qū)域的數(shù)目、該類型缺陷所處的連通區(qū)域的位置以及該類型缺陷所處的連通區(qū)域在所述多值圖中的面積占比;
根據(jù)各類型缺陷所處的連通區(qū)域的數(shù)目、各類型缺陷所處的連通區(qū)域的位置以及各類型缺陷所處的連通區(qū)域在所述多值圖中的面積占比,確定所述待檢測(cè)圖像中存在的缺陷類型、各類型缺陷的數(shù)目、各缺陷的位置以及各缺陷的面積占比。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述獲取與所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息匹配的待分析圖像,包括:
將數(shù)據(jù)庫中統(tǒng)計(jì)的合成圖像輸入所述深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型,得到所述合成圖像的缺陷統(tǒng)計(jì)信息,所述合成圖像是根據(jù)至少一個(gè)信號(hào)采集設(shè)備采集的信號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)信息提取后轉(zhuǎn)換成的二維圖像,所述合成圖像反映所述檢測(cè)對(duì)象在生產(chǎn)過程中生產(chǎn)線上各生產(chǎn)設(shè)備狀態(tài);
將所述待檢測(cè)圖像的缺陷統(tǒng)計(jì)信息與所述合成圖像的缺陷統(tǒng)計(jì)信息進(jìn)行匹配,若匹配上,則將所述合成圖像確定為待分析圖像。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在所述獲取與所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息匹配的待分析圖像之前,所述方法還包括:
根據(jù)所述待檢測(cè)圖像的缺陷統(tǒng)計(jì)信息,判斷所述待檢測(cè)圖像中的缺陷是否為新發(fā)生的缺陷,或者缺陷累計(jì)發(fā)生次數(shù)是否超過預(yù)設(shè)閾值;
若所述缺陷為新發(fā)生的缺陷或者所述缺陷累計(jì)發(fā)生次數(shù)超過預(yù)設(shè)閾值,則執(zhí)行所述獲取與所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息匹配的待分析圖像。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,在所述對(duì)所述待分析圖像進(jìn)行檢測(cè)分析,確定出與所述缺陷統(tǒng)計(jì)信息關(guān)聯(lián)的異常信息之后,所述方法還包括:
基于所述異常信息,確定所述異常信息的產(chǎn)生原因;
顯示所述異常信息和/或所述異常信息產(chǎn)生原因。
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