[發明專利]一種高精度位移測量裝置及測量方法在審
| 申請號: | 201810563184.0 | 申請日: | 2018-06-04 |
| 公開(公告)號: | CN108709521A | 公開(公告)日: | 2018-10-26 |
| 發明(設計)人: | 王鳴山;王勝男 | 申請(專利權)人: | 中核(天津)科技發展有限公司 |
| 主分類號: | G01B21/02 | 分類號: | G01B21/02 |
| 代理公司: | 天津市宗欣專利商標代理有限公司 12103 | 代理人: | 王龑 |
| 地址: | 300180 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量 加速度采集 測量裝置 調理裝置 濾波 溫度補償裝置 精度位移 補償處理 距離測量 濾波處理 輸出結構 輸出結果 輸出位移 位移變化 溫度補償 修正函數 參照系 室外 場景 傳輸 | ||
1.一種高精度位移測量裝置,包括測量加速度的加速度采集裝置(2),其特征在于:所述加速度采集裝置(2)將測量的加速度傳輸至濾波調理裝置(1),所述濾波調理裝置(1)與溫度補償裝置(3)相連,所述濾波調理裝置(1)通過溫度補償裝置(3)對加速度采集裝置(2)的加速度進行補償并輸出位移。
2.根據權利要求1所述的一種高精度位移測量裝置,其特征在于:所述濾波調理裝置(1)包括接收加速度和溫度的MCU控制器(6),所述MCU控制器(6)與實時更迭存儲溫度值的存儲器(7)相連。
3.根據權利要求2所述的一種高精度位移測量裝置,其特征在于:所述MCU控制器(6)還與計時用的計時器(8)相連。
4.根據權利要求3所述的一種高精度位移測量裝置,其特征在于:所述計時器(8)為集成在MCU控制器(6)中的計時器或外置式計時器。
5.根據權利要求1所述的一種高精度位移測量裝置,其特征在于:所述加速度采集裝置(2)為加速度傳感器(4)。
6.根據權利要求1所述的一種高精度位移測量裝置,其特征在于:所述溫度補償裝置(3)為溫度傳感器(5)。
7.根據權利要求4所述的一種高精度位移測量裝置的測量方法,其特征在于:包括以下步驟:
(ⅰ)獲取溫度和加速度
通過溫度補償裝置(3)采集一段時間內的實時溫度,并獲得在時刻內的溫度均值和方差,保存在存儲器(7)中,并實時更新迭代,同時通過加速度采集裝置(2)獲取加速度的測量值;
(ⅱ)對加速度進行濾波處理
對步驟(ⅰ)中的加速度進行濾波降噪處理;
(ⅲ)對溫度進行補償處理
對步驟(ⅰ)中的溫度進行補償處理;
(ⅳ)構造帶有溫度補償的修正函數并輸出結構
構造帶有溫度補償的修正函數,完成最終的靜噪和補償,獲得輸出結果;
(ⅴ)在輸出結果上進行時域積分得到位移值
根據步驟(ⅳ)的輸出結果,在時域中進行積分,得到精確的位移值。
8.根據權利要求7所述的一種高精度位移測量裝置的測量方法,其特征在于:所述步驟(ⅱ)中濾波降噪的方法為小波卡爾曼濾波、低通濾波、自適應蒙特拉羅濾波、粒子濾波或高斯均值濾波中的一種。
9.根據權利要求1所述的一種高精度位移測量裝置的測量方法,其特征在于:所述步驟(ⅲ)中補償處理方法包括以下步驟:
(a)控制環境溫度為-10℃,取X軸向0g即靜止時刻的加速度讀數,讀取10次,求上述10次讀數的平均值;
(b)從-10℃每間隔10攝氏度,取X軸向0g即靜止時刻加速度讀數,讀取10次,求該10次讀數的平均值;
(c)重復步驟(a)和步驟(b),建立溫度與0g即靜止時刻的關系式;
(d)近似的認為,相鄰特征溫度間的變化值和讀取的加速度計算為一次函數,則溫度表示模型為:
ΔF=a2T+a1T0+a0;
其中,a0,a1,a2均為擬合系數,T0為0℃時偏差值,T為環境溫度,ΔF為需要補償的溫度;
(e)通過最小二乘法擬合函數,形成補償溫度。
10.根據權利要求1所述的一種高精度位移測量裝置的測量方法,其特征在于:所述步驟(ⅳ)中構造帶有溫度補償的修正函數包括如下步驟:
首先,讀取存儲器的初值,構造修正函數項T為:
T=θΔF
則加速度表示為:
將ΔF保存至存儲器(7)中,并依此迭代循環。
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