[發(fā)明專利]一種刻面寶石圖像特征提取方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810562783.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108846403B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊琇明;雷自力;劉曉軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢恒宇科教儀器設(shè)備研發(fā)有限公司;湖北愛默思智能檢測(cè)裝備有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06V10/44 | 分類號(hào): | G06V10/44 |
| 代理公司: | 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102 | 代理人: | 王丹 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢市蔡甸*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 寶石 圖像 特征 提取 方法 | ||
本發(fā)明公開一種刻面寶石圖像特征提取方法。光學(xué)系統(tǒng)采集刻面寶石圖像,對(duì)刻面寶石圖像進(jìn)行去降噪和二值化預(yù)處理;采用邊緣提取算法和擬合算法獲得寶石的輪廓特征;并建立用于篩選角點(diǎn)特征的距離區(qū)間;利用角點(diǎn)算法,獲得寶石的特征角點(diǎn);計(jì)算特征角點(diǎn)到達(dá)寶石輪廓圓點(diǎn)的距離,將處在距離區(qū)間的特征角點(diǎn)作為刻面寶石的強(qiáng)角點(diǎn)特征。本方法充分結(jié)合了刻面寶石幾何性狀,利用距離區(qū)間篩選了代表刻面寶石特征的強(qiáng)角點(diǎn),排除了冗余角點(diǎn)的干擾,為刻面寶石鑒定提供了科學(xué)的參考數(shù)據(jù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于寶石鑒定領(lǐng)域。
背景技術(shù)
刻面寶石是人工對(duì)于天然寶石琢型后,得到的具有更高商業(yè)價(jià)值的流通成品,寶石鑒定是寶石商業(yè)流通中必不可少的環(huán)節(jié),但目前寶石鑒定主要依賴于人工目測(cè)和定性分析,出錯(cuò)率高和標(biāo)準(zhǔn)化程度低,影響了寶石產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。利用光學(xué)成像系統(tǒng)采集刻面寶石圖像,研究標(biāo)準(zhǔn)的特征提取方法,自動(dòng)從圖像中獲取刻面寶石的幾何特征如輪廓,角點(diǎn)等,建立寶石的幾何特征數(shù)據(jù),為寶石鑒定提供更為科學(xué)的參考依據(jù),對(duì)于提升珠寶行業(yè)的刻面寶石流通監(jiān)管能力有著重要意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明依據(jù)寶石鑒定中對(duì)于特征數(shù)據(jù)的需求,公開一種刻面寶石輪廓特征和強(qiáng)角點(diǎn)特征提取方法。利用光學(xué)系統(tǒng)采集刻面寶石圖像,對(duì)刻面寶石圖像進(jìn)行去降噪和二值化預(yù)處理;采用邊緣提取算法和擬合算法獲得寶石的輪廓特征,并建立用于篩選角點(diǎn)特征的距離區(qū)間;利用角點(diǎn)算法,獲得寶石的特征角點(diǎn)集合;計(jì)算特征角點(diǎn)到達(dá)寶石輪廓圓點(diǎn)的距離,處在距離區(qū)間中的特征角點(diǎn)構(gòu)成刻面寶石的強(qiáng)角點(diǎn)特征。
一種刻面寶石圖像特征提取方法,包括以下步驟:
步驟一,對(duì)刻面寶石圖像進(jìn)行非局部均值去噪聲處理。
步驟二,對(duì)圖像進(jìn)行大津法二值化處理。
步驟三,通過canny算法提取圖像中寶石邊緣點(diǎn)集合。
步驟四,對(duì)邊緣點(diǎn)集合做最小二乘法圓周擬合,計(jì)算得到圓心點(diǎn)和半徑值R,并將擬合圓周作為刻面寶石的輪廓特征。
步驟五,根據(jù)R值大小,劃定4個(gè)距離區(qū)間分別為0.18R~0.27R,?0.38R~0.42R,0.58R~0.62R,0.78R~0.82R。
步驟六,采用harris角點(diǎn)算法計(jì)算圖像的特征角點(diǎn)。
步驟七,計(jì)算特征角點(diǎn)到達(dá)擬合心圓點(diǎn)的距離。
步驟八,將距離處于步驟五劃定的距離區(qū)間內(nèi)的特征角點(diǎn),作為刻面寶石的強(qiáng)角點(diǎn)特征。
本方法將輪廓和強(qiáng)角點(diǎn)特征作為特征提取對(duì)象,在充分考慮了刻面寶石幾何性狀和角點(diǎn)分布規(guī)律的基礎(chǔ)上,利用距離區(qū)間篩選了最能代表刻面寶石特征的強(qiáng)角點(diǎn),排除了冗余角點(diǎn)的干擾,建立了用于刻面寶石鑒定的特征數(shù)據(jù)。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例使用的刻面寶石圖像。
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提取出的刻面寶石輪廓和強(qiáng)角點(diǎn)特征分布圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
本發(fā)明實(shí)施例一種刻面寶石圖像特征提取方法,包括以下步驟:
一種刻面寶石圖像特征提取方法,包括以下步驟:
步驟一,對(duì)刻面寶石圖像進(jìn)行非局部均值去噪聲處理。充分利用了圖像中的冗余信息,在去噪的同時(shí)能最大程度地保持圖像的細(xì)節(jié)特征,算法處理過程如下,
設(shè)含噪聲圖像中x處去噪后的灰度值為u(x),
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