[發明專利]一種少井地區的有效烴源巖豐度的預測方法

有效

• 申請號: 201810559194.7
• 申請日: 2018-06-01
• 公開（公告）號: CN108717211B
• 公開（公告）日: 2019-05-24
• 發明（設計）人: 張金亮;許廣臣;李娜
• 申請（專利權）人: 北京師范大學
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 劉奇

本發明提供了一種少井地區有效烴源巖豐度的預測方法，屬于地質層預測技術領域。本發明結合測井、地震和地化分析數據得到少井地區有效烴源巖豐度的預測平面圖。本發明的預測方法具有合理的TOC下限值，對于有效烴源巖的分布具有實際指導意義。

技術領域

本發明涉及地質層預測技術領域，尤其涉及一種少井地區的有效烴源巖豐度的預測方法。

背景技術

有效烴源巖是指既有油氣的生成又能夠排出油氣的巖層。近年來，一些油田的勘探失利，使人們意識到不能把研究重點局限在烴源巖的分布范圍上，應該進一步深入了解烴源巖中有效部分即有機質豐度高、生烴強度大、排烴效率高、排烴厚度大的“有效的”烴源巖層的分布范圍。尤其是在測井較少勘探程度較低的地區，有效烴源巖豐度與分布預測的難度更大。而且長期以來，對于有效烴源巖豐度下限值的判定，業內也存在較大爭議，下限值劃定太低會導致勘探資金的浪費，下限值劃定太高，必然導致一些有利區被否定。

在多井地區，利用地化分析資料結合層序地層學、地震相、沉積相分析，可以對有效烴源巖豐度與分布進行預測。在少井地區，測井資料稀少，利用地化分析資料結合層序地層學、地震相、沉積相分析，對有效烴源巖豐度與分布進行預測只能圈定烴源巖發育的主要范圍，無法計算得到精確烴源巖分布的厚度和TOC的等值線圖。預測的精度不夠，只能進行定性-半定量預測，無法做到較為精確的定量預測。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種少井地區的有效烴源巖豐度的預測方法。本發明結合測井、地震和地化分析數據準確得到了少井地區有效烴源巖的豐度(有效烴源巖厚度、TOC含量和Ro)平面分布圖，解決了少井地區有效烴源巖豐度預測結果不準，且預測不全面的問題。

為了實現上述發明目的，本發明提供以下技術方案：

本發明提供了一種少井地區的有效烴源巖豐度的預測方法，所述有效烴源巖豐度包括有效烴源巖的厚度、TOC含量和鏡質體反射率，包括以下步驟：

(1)采用油源對比分析烴源巖樣本與原油樣本，確定研究區內主力烴源巖發育地層；

(2)有效烴源巖厚度及分布的獲取：

利用錄井巖屑資料，得到所述主力烴源巖發育地層的單井泥巖百分比；

采用時深轉化將測井數據從深度域轉化為時間域，得到單井地震屬性，以單井泥巖百分比為因變量，以單井地震屬性為自變量，建立地震屬性與泥巖百分比之間的線性預測模型；

將所述線性預測模型應用于主力烴源巖發育地層，得到主力烴源巖發育地層泥巖百分比的預測結果；

利用地震解釋技術，得到主力烴源巖發育地層的總厚度，所述主力烴源巖發育地層的總厚度與所述主力烴源巖發育地層泥巖百分比預測結果相乘得到研究區有效烴源巖的厚度及分布；

(3)有效烴源巖TOC含量分布的獲取：

采用巖石熱解地球化學分析確定主力烴源巖發育地層TOC下限值；將單井TOC含量與測井曲線值進行相關分析，選取有效測井曲線，建立單井TOC含量與有效測井曲線之間的多元回歸預測模型；

將所述多元回歸預測模型應用于主力烴源巖發育地層，得到主力烴源巖發育地層TOC分布曲線；

利用測井曲線計算得到地球物理參數曲線，對所述主力烴源巖發育地層的TOC分布曲線與地球物理參數曲線進行相關分析，基于最小二乘原理，建立一元擬合方程；

利用地球物理反演技術，反演得到各地球物理參數數據體，并依據所述一元擬合方程將所述地球物理參數數據體轉化成為主力烴源巖發育地層TOC數據體；剔除所述主力烴源巖發育地層TOC數據體中TOC值<主力烴源巖發育地層TOC下限值的數據，得到研究區有效烴源巖TOC含量分布圖；

(4)有效烴源巖Ro分布的獲取：