[發(fā)明專利]測(cè)試用例生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810554901.3 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108763094B | 公開(公告)日: | 2021-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賈金莉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 百度在線網(wǎng)絡(luò)技術(shù)(北京)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋合成 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 生成 方法 裝置 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種測(cè)試用例生成方法,其特征在于,包括:
遍歷目標(biāo)源代碼文件,獲取目標(biāo)源代碼中包含的各方法塊;
將所述各方法塊分別進(jìn)行解析處理,確定所述各方法塊中分別包括的各非邏輯運(yùn)算式及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符;
根據(jù)所述各非邏輯運(yùn)算式及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符,生成所述各方法塊對(duì)應(yīng)的各測(cè)試用例框架;
根據(jù)所述各測(cè)試用例框架,生成所述目標(biāo)源代碼對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例;
其中,所述目標(biāo)源代碼文件的第二方法塊中包括的非邏輯運(yùn)算式的數(shù)量小于閾值;
所述根據(jù)所述各非邏輯運(yùn)算式及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符,生成所述各方法塊對(duì)應(yīng)的各測(cè)試用例框架,包括:
根據(jù)所述第二方法塊中的各非邏輯運(yùn)算式分別對(duì)應(yīng)的不同取值,生成所述第二方法塊對(duì)應(yīng)的各測(cè)試用例框架,其中,任意兩個(gè)測(cè)試用例框架中至少一個(gè)非邏輯運(yùn)算式的取值不同。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述目標(biāo)源代碼文件的第一方法塊中包括N個(gè)分支語(yǔ)句,其中,N為正整數(shù);
所述將所述各方法塊分別進(jìn)行解析處理,確定所述各方法塊中分別包括的各非邏輯運(yùn)算式及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符,包括:
將所述第一方法塊進(jìn)行解析處理,獲取所述N個(gè)分支語(yǔ)句;
分別將所述N個(gè)分支語(yǔ)句進(jìn)行解析處理,確定所述N個(gè)分支語(yǔ)句中的各非邏輯運(yùn)算式及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述目標(biāo)源代碼文件的第三方法塊中包括的非邏輯運(yùn)算式的數(shù)量大于閾值;
所述根據(jù)所述各非邏輯運(yùn)算式及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符,生成所述各方法塊對(duì)應(yīng)的各測(cè)試用例框架,包括:
根據(jù)所述第三方法塊中各非邏輯運(yùn)算式的取值及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符,確定所述第三方法塊的兩個(gè)不同返回值分別對(duì)應(yīng)的兩個(gè)非邏輯運(yùn)算式取值組集合;
從所述兩個(gè)非邏輯運(yùn)算式取值組集合中,各獲取一個(gè)非邏輯運(yùn)算式取值組,其中,任意一個(gè)非邏輯運(yùn)算式在獲取的兩個(gè)非邏輯運(yùn)算式取值組中的取值不同;
根據(jù)獲取的兩個(gè)非邏輯運(yùn)算式取值組,確定所述第三方法塊對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例框架。
4.如權(quán)利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述各非邏輯運(yùn)算式及連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符,生成所述各方法塊對(duì)應(yīng)的各測(cè)試用例框架,包括:
根據(jù)預(yù)設(shè)的規(guī)則,確定各非邏輯運(yùn)算式分別對(duì)應(yīng)的各變量;
利用所述連接所述各非邏輯運(yùn)算式的邏輯運(yùn)算符,連接所述各變量以生成所述各方法塊分別對(duì)應(yīng)的各抽象語(yǔ)句;
基于所述各抽象語(yǔ)句,生成所述各方法塊對(duì)應(yīng)的各測(cè)試用例框架。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述生成所述目標(biāo)源代碼對(duì)應(yīng)的測(cè)試用例之后,還包括:
獲取所述目標(biāo)源代碼基于所述測(cè)試用例測(cè)試時(shí)生成的覆蓋率信息;
根據(jù)所述覆蓋率信息,對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修正。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述覆蓋率信息,包括未覆蓋代碼對(duì)應(yīng)的代碼行;
所述根據(jù)所述覆蓋率信息,對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修正,包括:
根據(jù)所述未覆蓋代碼對(duì)應(yīng)的代碼行,確定所述未覆蓋代碼所在的目標(biāo)方法塊;
確定所述測(cè)試用例框架中與所述目標(biāo)方法塊對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試用例框架;
對(duì)所述目標(biāo)測(cè)試用例框架中的測(cè)試用例進(jìn)行修正。
7.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述覆蓋率信息,對(duì)所述測(cè)試用例進(jìn)行修正之前,還包括:
確定所述覆蓋率信息未滿足預(yù)設(shè)的覆蓋條件。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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