[發(fā)明專利]抬頭紋檢測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810554520.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109033935B | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 熊軍;伍奇龍;周桂文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳和而泰數(shù)據(jù)資源與云技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06K9/00 | 分類號(hào): | G06K9/00;G06K9/46 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強(qiáng) |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)高新南區(qū)科*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 抬頭紋 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種抬頭紋檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
獲取到目標(biāo)圖像后,通過第三方應(yīng)用確定所述目標(biāo)圖像中的人臉關(guān)鍵點(diǎn);其中,所述目標(biāo)圖像為待檢測(cè)抬頭紋的圖像;
根據(jù)第一關(guān)鍵點(diǎn)的橫坐標(biāo)和第二關(guān)鍵點(diǎn)的橫坐標(biāo)確定第一區(qū)域的第一邊長(zhǎng);根據(jù)所述第一關(guān)鍵點(diǎn)或所述第二關(guān)鍵點(diǎn)的縱坐標(biāo)的平移量確定所述第一區(qū)域的第二邊長(zhǎng);根據(jù)所述第一邊長(zhǎng)和所述第二邊長(zhǎng)截取所述第一區(qū)域的圖像,所述第一區(qū)域?yàn)榕c額頭對(duì)應(yīng)的區(qū)域,所述第一關(guān)鍵點(diǎn)為所述人臉關(guān)鍵點(diǎn)中左邊眉毛的最高點(diǎn),所述第一關(guān)鍵點(diǎn)包括關(guān)鍵點(diǎn)19,所述第二關(guān)鍵點(diǎn)為所述人臉關(guān)鍵點(diǎn)中右邊眉毛的最高點(diǎn),所述第二關(guān)鍵點(diǎn)包括關(guān)鍵點(diǎn)24,所述平移量為關(guān)鍵點(diǎn)31和關(guān)鍵點(diǎn)32之間的橫坐標(biāo)差量,或者,以關(guān)鍵點(diǎn)31和關(guān)鍵點(diǎn)32之間的橫坐標(biāo)差量作為基本單位,將所述關(guān)鍵點(diǎn)19或所述關(guān)鍵點(diǎn)24的縱坐標(biāo)向上平移1個(gè)基本單位,再將所述關(guān)鍵點(diǎn)19或所述關(guān)鍵點(diǎn)24的縱坐標(biāo)向上平移4個(gè)基本單位,所述關(guān)鍵點(diǎn)19或所述關(guān)鍵點(diǎn)24兩次平移的差量即3個(gè)基本單位即為所述第二邊長(zhǎng);
通過膚色聚類方法確定所述第一區(qū)域中非皮膚區(qū)域的占比,其中,所述非皮膚區(qū)域根據(jù)膚色范圍外的像素點(diǎn)確定,所述膚色范圍外的像素點(diǎn)為膚色范圍內(nèi)的像素點(diǎn)之外的像素點(diǎn),所述膚色范圍內(nèi)的像素點(diǎn)滿足如下約束:在均勻光照下滿足:R95、G40、B20、max(R,G,B)-min(R,G,B)15、abs(R-G)15、RG和RB;在側(cè)光拍攝下滿足:R220、G210、B170、abs(R-G)=15、RB和GB;
在所述非皮膚區(qū)域的占比小于預(yù)定比例的情況下,將所述第一區(qū)域的圖像輸入至目標(biāo)網(wǎng)絡(luò)模型,輸出所述抬頭紋的檢測(cè)結(jié)果;
所述將所述第一區(qū)域的圖像輸入至目標(biāo)網(wǎng)絡(luò)模型,輸出所述抬頭紋的檢測(cè)結(jié)果,包括:
切割所述第一區(qū)域,獲得第一數(shù)量的子區(qū)域,將包含所述第一數(shù)量的子區(qū)域的圖像分別縮小或放大至227*227像素后,輸入至所述目標(biāo)網(wǎng)絡(luò)模型;
輸出所述第一數(shù)量的抬頭紋的檢測(cè)結(jié)果,根據(jù)有抬頭紋的圖像的占比確定所述抬頭紋的嚴(yán)重程度,所述抬頭紋的占比大于或等于0.5,則表示抬頭紋重度,所述抬頭紋的占比大于0.2小于0.5,則表示抬頭紋中度,所述抬頭紋的占比大于0.05小于或等于0.2,則表示抬頭紋輕度,所述抬頭紋的占比小于或等于0.05,則表示無抬頭紋;
所述將所述第一區(qū)域的圖像輸入至目標(biāo)網(wǎng)絡(luò)模型之前,所述方法還包括:
采集第三數(shù)量的人臉圖像作為人臉圖像樣本后,通過所述第三方應(yīng)用確定所述人臉圖像樣本的人臉關(guān)鍵點(diǎn),所述第三數(shù)量為大于或等于300;
根據(jù)所述人臉圖像樣本的人臉關(guān)鍵點(diǎn)截取第二區(qū)域的圖像;
切割所述第二區(qū)域,獲得第二數(shù)量的子區(qū)域;
將所述第二數(shù)量的子區(qū)域分別輸入至網(wǎng)絡(luò)模型,訓(xùn)練所述網(wǎng)絡(luò)模型,得到所述目標(biāo)網(wǎng)絡(luò)模型。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
在所述非皮膚區(qū)域的占比不小于所述預(yù)定比例的情況下,確定所述目標(biāo)圖像無所述抬頭紋。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳和而泰數(shù)據(jù)資源與云技術(shù)有限公司,未經(jīng)深圳和而泰數(shù)據(jù)資源與云技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810554520.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06K 數(shù)據(jù)識(shí)別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識(shí)別印刷或書寫字符或者用于識(shí)別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯(cuò)誤的檢測(cè)或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個(gè)筆畫組成的,而且每個(gè)筆畫表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無須判定關(guān)于圖像的同一性而進(jìn)行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





