[發明專利]激光投射模組、深度相機和電子裝置

在審

• 申請號: 201810545879.6
• 申請日: 2018-05-25
• 公開（公告）號: CN110531562A
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 張學勇;呂向楠
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G03B15/02
• 分類號: G03B15/02;G02B7/00;G02B27/42
• 代理公司: 11201 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 張潤<國際申請>=<國際公布>=<進入國

本發明公開的電子裝置、深度相機及激光投射模組包括基板組件、設置在基板組件上的鏡筒、衍射光學元件、導電的保護蓋和形成在基板組件及鏡筒上的檢測電路。衍射光學元件設置在鏡筒內。保護蓋與鏡筒結合并遮擋衍射光學元件。檢測電路包括溫度傳感器及檢測線路，溫度傳感器設置在基板組件上，檢測線路設置在基板組件及鏡筒上，檢測線路電性連接溫度傳感器及保護蓋，檢測線路與溫度傳感器連接以用于檢測激光投射模組的溫度，檢測線路與保護蓋連接以用于檢測保護蓋是否與檢測線路斷開連接。激光投射模組通過設置檢測電路并將保護蓋連接在檢測電路中，檢測電路通過檢測保護蓋是否與檢測電路斷開連接并確定保護蓋及衍射光學元件是否從鏡筒上脫落。

技術領域

本發明涉及光學及電子技術領域，更具體而言，涉及一種激光投射模組、深度相機和電子裝置。

背景技術

激光投射模組需要在激光的發射光路上設置衍射光學元件(diffractiveoptical elements,DOE)，而衍射光學元件通常通過膠水直接粘在激光投射模組的鏡筒上，而膠水容易失效，導致衍射光學元件脫落，如果在衍射光學元件從鏡筒上脫落后激光投射模組還發射激光，則激光不經過衍射光學元件直接發射出去后容易灼傷用戶。

發明內容

本發明實施方式提供一種激光投射模組、深度相機和電子裝置。

本發明實施方式的激光投射模組包括：

基板組件；

設置在所述基板組件上的鏡筒；

衍射光學元件，所述衍射光學元件設置在所述鏡筒內；

導電的保護蓋，所述保護蓋與所述鏡筒結合并遮擋所述衍射光學元件；和

形成在所述基板組件及所述鏡筒上的檢測電路，所述檢測電路包括溫度傳感器及檢測線路，所述溫度傳感器設置在所述基板組件上，所述檢測線路設置在所述基板組件及所述鏡筒上，所述檢測線路電性連接所述溫度傳感器及所述保護蓋，所述檢測線路與所述溫度傳感器連接以用于檢測所述激光投射模組的溫度，所述檢測線路與所述保護蓋連接以用于檢測所述保護蓋是否與所述檢測線路斷開連接。

本發明實施方式的深度相機包括：

上述實施方式所述的激光投射模組；

圖像采集器，所述圖像采集器用于采集經所述衍射光學元件后向目標空間中投射的激光圖案；和

分別與所述激光投射模組和所述圖像采集器連接的處理器，所述處理器用于處理所述激光圖案以獲得深度圖像。

本發明實施方式的電子裝置包括：

殼體；和

上述實施方式所述的深度相機，所述深度相機設置在所述殼體內并從所述殼體暴露以獲取深度圖像。

本發明實施方式的電子裝置、深度相機及激光投射模組通過設置保護蓋并遮擋衍射光學元件，從而使衍射光學元件能夠更加牢固地設置在鏡筒內；同時，激光投射模組通過設置檢測電路并將保護蓋連接在檢測電路中，檢測電路通過檢測保護蓋是否與檢測電路斷開連接，從而能夠確定保護蓋及衍射光學元件是否從鏡筒上脫落，當檢測電路檢測到保護蓋從鏡筒上脫落時，激光投射模組停止工作以避免激光投射模組發出激光灼傷用戶；再者，檢測電路既可以用于檢測保護蓋是否與檢測電路斷開連接又可以檢測激光投射模組的溫度，從而能夠減少檢測線路在基板組件上的分布。

本發明的實施方式的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發明的實施方式的實踐了解到。

附圖說明

本發明的上述和/或附加的方面和優點從結合下面附圖對實施方式的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1是本發明實施方式的電子裝置的結構示意圖；