[發明專利]一種改變外界溫度環境的磁記憶實驗裝置有效
| 申請號: | 201810543237.2 | 申請日: | 2018-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN109003644B | 公開(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發明(設計)人: | 劉斌;張賀;何璐瑤;于小芮;劉子淇;任建 | 申請(專利權)人: | 沈陽工業大學 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56;G11C11/16 |
| 代理公司: | 沈陽智龍專利事務所(普通合伙) 21115 | 代理人: | 宋鐵軍 |
| 地址: | 110870 遼寧省沈陽*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 改變 外界 溫度 環境 記憶 實驗 裝置 | ||
一種改變外界溫度環境的磁記憶實驗裝置屬于金屬磁記憶信號性質研究領域,尤其涉及一種改變外界溫度環境的磁記憶實驗裝置。本發明包括單片機、溫度控制系統、磁傳感器、力傳感器、A/D轉換器、存儲器擴展部分、復位中斷控制部分,其結構要點傳感器的檢測信號輸出端口與A/D轉換器的檢測信號輸入端口相連,A/D轉換器的檢測信號輸出端口與單片機的檢測信號輸入端口相連,單片機的信號輸出端口與溫度控制系統的信號輸入口相連,單片機的復位信號輸入端口與復位部分的復位信號輸出端口相連,單片機的中斷信號輸入端口與外部中斷部分的中斷信號輸出端口相連,單片機的存儲信號輸出端口與外接參數存儲器的存儲信號輸入端口相連。
技術領域
本發明屬于金屬磁記憶信號性質研究領域,尤其涉及一種改變外界溫度環境的磁記憶實驗裝置。
背景技術
隨著現代生產力的發展,金屬已經應用到我們生活的各個領域,可由于金屬的損傷所帶來的經濟損失也逐年增多。但一般的無損檢測技術只能檢測已經形成的裂紋或缺陷,而不能對由于應力集中引起的疲勞破壞進行早期檢測。而金屬磁記憶原理是鐵磁材料在應力作用下形成磁性與彈性相互作用能,使磁化強度重新取向,從而導致磁場強度發生變化達到測量的目的,所以可對金屬材料進行早期檢測。但磁記憶的理論很多地方還處在理論研究階段,所以對磁記憶信號做各種各樣的實驗,對更加深入了解磁記憶理論,進而將該理論更多的應用于生產檢測中就顯得尤為重要;但現在還沒有一套專門、系統的實驗裝置進行磁記憶的相關理論研究,這也不同程度的影響了磁記憶理論研究的進展。
發明內容
本發明就是針對上述問題,提供一種改變外界溫度環境的磁記憶實驗裝置。
為實現上述目的,本發明采用如下技術方案,本發明包括單片機、溫度控制系統、磁傳感器、力傳感器、A/D轉換器、存儲器擴展部分、復位中斷控制部分,其結構要點傳感器的檢測信號輸出端口與A/D轉換器的檢測信號輸入端口相連,A/D轉換器的檢測信號輸出端口與單片機的檢測信號輸入端口相連,單片機的信號輸出端口與溫度控制系統的信號輸入口相連,單片機的復位信號輸入端口與復位部分的復位信號輸出端口相連,單片機的中斷信號輸入端口與外部中斷部分的中斷信號輸出端口相連,單片機的存儲信號輸出端口與外接參數存儲器的存儲信號輸入端口相連;
單片機的程序包括系統調用主程序,及作為中斷服務程序的雙通道數據采集子程序與溫度控制開啟子程序;
系統主程序采用匯編偽指令設置AUDB作為磁信號實驗數據存放首地址;AUDF作為力信號實驗數據存放首地址。
系統主程序首先將R0寄存器指針指向磁信號實驗數據存放首地址AUDB,將R1寄存器指針指向力信號實驗數據存放首地址AUDF,然后加入一個‘死循環’的延時等待程序,等待進行中斷控制。
當INT0、INT1引腳為‘0’時執行中斷服務子程序,中斷服務程序首先保護‘程序現場’和‘斷點’后開中斷,執行中斷服務子程序,執行子程序后關中斷,然后恢復‘程序現場’和‘斷點’,繼續執行主程序。
當INT0引腳為‘0’時執行雙通道數據采集中斷服務子程序將寄存器R2中值設為50D作為計數使用,啟動IN0通道進行A/D轉換,延時等待一段時間,將轉換后的數值放入R0指向區,R0指針指向下一存儲單元,啟動IN1通道進行A/D轉換,延時等待一段時間,將轉換后的數值放入R1指向區,R1指針指向下一存儲單元,將R2寄存器中數值減一后再存回R2寄存器中,判斷R2寄存器中數值是否為零,不為零則再次啟動IN0通道進行A/D轉換,完成一次新的循環,為零則跳出循環,這樣經過50次的循環,就可以將磁信號以及力信號數據分別存入AUDB、AUDF為首地址的存儲區中。
當INT1引腳為‘0’時執行開啟溫度控制子程序首先利用一個計數器判斷INT1外部中斷引腳輸出次數,為奇數時,P1口輸出為‘1’繼電器開啟,對實驗金屬鋼條局部加溫;為偶數時,P1口輸出為‘0’,關閉繼電器,停止加溫;這樣可以通過一個按鍵重復進行溫度的加熱與停止。
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