[發(fā)明專利]非線性性質(zhì)測試系統(tǒng)和非線性性質(zhì)測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810541799.3 | 申請日: | 2018-05-30 |
| 公開(公告)號: | CN108593604A | 公開(公告)日: | 2018-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃進;文繼斌;耿鋒;鄧青華;王鳳蕊 | 申請(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號: | G01N21/59 | 分類號: | G01N21/59 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 吳開磊 |
| 地址: | 621000 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探測光 非線性性質(zhì) 能量探測器 測試樣品 光處理單元 計算處理單元 測試系統(tǒng) 泵浦光 輸出 光學(xué)性質(zhì)測試 激光輸出單元 能量探測單元 非線性測試 光學(xué)非線性 測試 加載條件 輸出泵浦 透射 | ||
1.一種非線性性質(zhì)測試系統(tǒng),其特征在于,包括:
激光輸出單元,包括用于輸出泵浦光的第一輸出端和用于輸出探測光的第二輸出端;
第一光處理單元,該第一光處理單元位于通過所述第一輸出端輸出的泵浦光的光路,以對該泵浦光進行光學(xué)性質(zhì)調(diào)節(jié)處理,并將經(jīng)過處理的泵浦光輸出至待測試樣品;
第二光處理單元,該第二光處理單元位于通過所述第二輸出端輸出的探測光的光路,以對所述探測光進行光學(xué)性質(zhì)調(diào)節(jié)處理并得到第一探測光和第二探測光,其中,所述第一探測光輸出至所述待測試樣品;
能量探測單元,包括位于所述第一探測光的光路的第一能量探測器和位于所述第二探測光的光路的第二能量探測器,所述第一能量探測器接收從所述待測試樣品透射出的第一探測光并獲取該探測光的第一能量值,所述第二能量探測器接收從所述第二光處理單元輸出的第二探測光并獲取該探測光的第二能量值;
計算處理單元,該計算處理單元與所述第一能量探測器和所述第二能量探測器分別連接,以獲取所述第一能量值和第二能量值,并根據(jù)所述第一能量值和第二能量值得到所述待測試樣品的光學(xué)非線性性質(zhì)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非線性性質(zhì)測試系統(tǒng),其特征在于,所述激光輸出單元包括:
第一激光器,該第一激光器的輸出端作為所述第一輸出端,以輸出泵浦光;
第二激光器,該第二激光器的輸出端作為所述第二輸出端,以輸出探測光;
同步機,該同步機與所述第一激光器和所述第二激光器分別連接,以根據(jù)所述第二激光器輸出的觸發(fā)信號控制所述第一激光器進行泵浦光輸出工作。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的非線性性質(zhì)測試系統(tǒng),其特征在于,所述第一光處理單元包括:
第一半波片,該第一半波片與所述第一輸出端相對設(shè)置,以對所述第一輸出端輸出的泵浦光進行偏振處理;
第一偏振片,該第一偏振片位于所述第一半波片遠離所述第一輸出端的一側(cè),以與所述第一半波片共同對所述泵浦光進行能量調(diào)節(jié)處理;
第一透鏡,該第一透鏡位于所述第一偏振片遠離所述第一半波片的一側(cè),以對所述第一偏振片輸出的泵浦光進行聚焦處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的非線性性質(zhì)測試系統(tǒng),其特征在于,所述第一光處理單元還包括:
反射鏡,該反射鏡位于所述第一透鏡遠離所述第一偏振片的一側(cè),以將所述第一透鏡輸出的泵浦光反射至所述待測試樣品。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的非線性性質(zhì)測試系統(tǒng),其特征在于,所述第一光處理單元還包括:
光收集器,該光收集器位于所述泵浦光的光路,以收集從所述待測試樣品透射出的泵浦光。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的非線性性質(zhì)測試系統(tǒng),其特征在于,所述第二光處理單元包括:
第二半波片,該第二半波片與所述第二輸出端相對設(shè)置,以對所述第二輸出端輸出的探測光進行偏振處理;
第二偏振片,該第二偏振片位于所述第二半波片遠離所述第二輸出端的一側(cè),以與所述第二半波片共同對所述探測光進行能量調(diào)節(jié)處理;
分光鏡,該分光鏡位于所述第二偏振片遠離所述第二半波片的一側(cè),以對所述第二偏振片輸出的探測光進行分光處理,以得到第一探測光和第二探測光;
第二透鏡,該第二透鏡位于所述分光鏡遠離所述第二偏振片的一側(cè),以對所述分光鏡輸出的第二探測光進行聚焦處理并輸出至所述待測試樣品。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非線性性質(zhì)測試系統(tǒng),其特征在于,所述第二光處理單元還包括:
第三透鏡,該第三透鏡位于所述待測試樣品和所述第一能量探測器之間,以將從所述待測試樣品透射出的第一探測光進行聚焦處理后輸出至所述第一能量探測器;
光闌,該光闌位于所述待測試樣品和所述第三透鏡之間,以使從所述待測試樣品透射出的第一探測光經(jīng)過所述光闌之后進入所述第三透鏡,其中,通過所述光闌的打開或關(guān)閉,以對所述待測試樣品進行非線性吸收性質(zhì)測試或非線性折射性質(zhì)測試。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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