[發明專利]2D/3D可切換光學模組母板、檢測裝置、檢測方法及制備方法在審
| 申請號: | 201810541266.5 | 申請日: | 2018-05-30 |
| 公開(公告)號: | CN108508659A | 公開(公告)日: | 2018-09-07 |
| 發明(設計)人: | 周健;劉亮;趙誠誠 | 申請(專利權)人: | 張家港康得新光電材料有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1339 | 分類號: | G02F1/1339;G02F1/1343;G02F1/1335;G02F1/13;G02B27/22 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 215634 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 透明導電層 光學模組 可切換 第二基板 第一基板 封框膠 母板 檢測裝置 周邊區域 導電球 導通 走線 制備 測試 導通檢測 密封空間 母板制作 檢測 產能 后段 交疊 模組 絕緣 反饋 生產 | ||
1.一種2D/3D可切換光學模組母板,其特征在于,包括:
相對設置的第一基板和第二基板;所述第一基板和所述第二基板相對的一側分別設置有第一透明導電層和第二透明導電層;
所述2D/3D可切換光學模組母板包括多個2D/3D可切換光學模組區;所述多個2D/3D可切換光學模組區包括顯示區和圍繞所述顯示區的周邊區域;
所述周邊區域內設置有封框膠,且圍繞所述顯示區設置;所述封框膠夾持在所述第一基板和所述第二基板之間,與所述第一基板和所述第二基板形成密封空間;
每個2D/3D可切換光學模組區內的所述第一透明導電層包括相互絕緣第一部和第二部;所述第二部位于所述周邊區域;
與所述第二部交疊的所述封框膠內設置有導通所述第一透明導電層和所述第二透明導電層的導電球;
所述第一部連接有第一測試走線,所述第二部連接有第二測試走線。
2.根據權利要求1所述的2D/3D可切換光學模組母板,其特征在于,所述第一基板和所述第二基板之間設置有柱鏡層,所述柱鏡層位于所述密封空間內,所述柱鏡層和所述第一基板或所述第二基板之間設置有液晶層,所述液晶層中的液晶分子填充于所述密封空間中。
3.根據權利要求1所述的2D/3D可切換光學模組母板,其特征在于,所述多個2D/3D可切換光學模組區中的所述第一測試走線和所述第二測試走線延伸至所述2D/3D可切換光學模組母板的邊緣。
4.根據權利要求3所述的2D/3D可切換光學模組母板,其特征在于,還包括設置于所述2D/3D可切換光學模組母板的邊緣的多個第一連接端子以及多個第二連接端子,每條所述第一測試走線與一對應的所述第一連接端子連接;每條所述第二測試走線與一對應的所述第二連接端子連接。
5.根據權利要求1所述的2D/3D可切換光學模組母板,其特征在于,還包括:第一測試總線和第二測試總線;所述多個2D/3D可切換光學模組區的多條所述第一測試走線與所述第一測試總線連接,多條所述第二測試走線與所述第二測試總線連接,所述第一測試總線和所述第二測試總線延伸至所述2D/3D可切換光學模組母板的邊緣。
6.根據權利要求5所述的2D/3D可切換光學模組母板,其特征在于,還包括設置于所述2D/3D可切換光學模組母板的邊緣的一個第一連接端子以及一個第二連接端子,所述第一測試總線與所述第一連接端子連接;所述第二測試總線與所述第二連接端子連接。
7.根據權利要求1-6任一所述的2D/3D可切換光學模組母板,其特征在于,所述第一測試走線和所述第二測試走線材料為金屬或金屬氧化物。
8.一種2D/3D可切換光學模組母板的檢測裝置,其特征在于,用于對權利要求1-7任一所述的2D/3D可切換光學模組母板進行導通檢測,包括:
切割組件,用于切割所述2D/3D可切換光學模組母板的邊緣處的第二基板,露出所述第一基板上的所述第一測試走線和第二測試走線;
電源組件,用于向所述第一測試走線和所述第二測試走線輸入測試信號,對各所述2D/3D可切換光學模組區進行導通測試。
9.根據權利要求8所述的檢測裝置,其特征在于,所述切割組件包括支撐桿和滑動連接于所述支撐桿上的切割刀頭。
10.一種2D/3D可切換光學模組母板的檢測方法,其特征在于,用于檢測權利要求1-7任一所述的2D/3D可切換光學模組母板,包括:
切割所述2D/3D可切換光學模組母板的邊緣處的第二基板,露出所述第一基板上的所述第一測試走線和第二測試走線;
向所述第一測試走線和所述第二測試走線輸入測試信號,測試各所述2D/3D可切換光學模組區的導通情況。
11.一種2D/3D可切換光學模組的制備方法,其特征在于,包括:
制備如權利要求1-7任一所述的2D/3D可切換光學模組母板;
切割所述2D/3D可切換光學模組母板的邊緣處的第二基板,露出所述第一基板上的所述第一測試走線和第二測試走線;
向所述第一測試走線和所述第二測試走線輸入測試信號,測試各所述2D/3D可切換光學模組區的導通情況;
切割所述2D/3D可切換光學模組母板,形成多個2D/3D可切換光學模組。
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