[發明專利]大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器及其設計方法在審
| 申請號: | 201810539211.0 | 申請日: | 2018-05-30 |
| 公開(公告)號: | CN108920758A | 公開(公告)日: | 2018-11-30 |
| 發明(設計)人: | 李正;劉曼文 | 申請(專利權)人: | 李正 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50;H01L31/115 |
| 代理公司: | 北京國坤專利代理事務所(普通合伙) 11491 | 代理人: | 趙紅霞 |
| 地址: | 湖南省湘潭市岳塘區創新創業園*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 漂移 硅漂移探測器 同心圓狀 載流子 漂移電場 電極生長 集成設計 理論計算 深空探測 雙面電極 新型工藝 行為規律 軟X射線 高能量 粒子性 重摻雜 分辨率 平滑 電勢 粒子 數學 制作 分析 | ||
1.一種大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器的設計方法,其特征在于,所述大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器的設計方法,包括以下步驟:
(1)確定硅漂移探測器前后表面的電勢:
圓柱形雙面硅漂移探測器的內部漂移電場與探測器的上下兩個表面電勢分布有關,圓柱形雙面硅漂移探測器內部的任何一點(r,x,θ)的負電勢應滿足以下條件:
其中,x為探測器厚度方向的坐標,r為沿著圓柱形半徑方向的坐標,θ為角坐標,這樣泊松方程可以簡化為以下形式:
其中Neff是SDD的有效摻雜濃度,方程(2)的解即為:
其中,Vfd=qNDd2/2ε0ε為全耗盡電壓,d是SDD的厚度,Φ(r)和Ψ(r)分別是前后表面的電勢(x=0和x=d):
Φ(r)=φ(r,x=0)and Ψ(r)=φ(r,x=d)。
(2)擬采用數學變分法計算載流子在硅漂移探測器中漂移時從點S1到點S2的最佳漂移路徑:
假定反面的電壓分布與正面的電壓分布是成正比的,有:
Ψ(r)=VB+γΦ(r) (0≤γ<1) (5)
進而可得到最佳的漂移路徑;
(3)確定最佳漂移路徑的常數漂移電場:滿足沿著最佳漂移路徑上的電場為一常數,即Edr,r(r,xch(r))=Edr,r,而得到的常數漂移電場的表面電勢分布須由如下方程確定:
其對應的表面電場分布為:
Vfd為全耗盡電壓,分析可知,常數漂移電場完全由所加的電壓決定:
2.如權利要求1所述的大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器的設計方法,其特征在于,大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器中γ>0。
3.如權利要求1所述的大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器的設計方法,其特征在于,漂移軌道的電勢分布呈線性(即電場為一常數),而前表面的電勢分布是非線性的,特別是靠近外環電極時。
4.一種通過權利要求1所述的大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器的設計方法設計的一種大面積同心圓狀圓柱形雙面硅漂移探測器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于李正,未經李正許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810539211.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





