[發明專利]攝像模組解析力與鏡頭解析力核準方法

有效

• 申請號: 201810538986.6
• 申請日: 2018-05-30
• 公開（公告）號: CN108692921B
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 姚波;劉自紅
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G03B43/00;H04N17/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種攝像模組解析力與鏡頭解析力核準方法，包括：對攝像模組做解析力測試，獲得解析力值隨像點到圖像中心距離變化的第一曲線；取下攝像模組的鏡頭，按照對攝像模組做解析力測試時鏡頭的方向，對鏡頭做解析力測試，獲得解析力值隨像點到圖像中心距離變化的第二曲線；基于將第一曲線和第二曲線的橫坐標對應將兩個曲線圖合并。合并后的圖中攝像模組解析力曲線與鏡頭解析力曲線各位置點對應，根據合并后的曲線圖能夠核對相同位置的攝像模組解析力值和鏡頭解析力值。

技術領域

本發明涉及攝像器件技術領域，特別是涉及一種攝像模組解析力與鏡頭解析力核準方法。

背景技術

隨著攝像器件在終端設備上的應用越來越廣泛，用戶對攝像器件的解析力越來越關注。解析力表征了攝像模組或者光學鏡頭對細節的分辨能力，能夠直接反映出攝像模組或者光學鏡頭成像的能力和質量。

判定攝像模組或者光學鏡頭解析力的方法包括測試調制傳遞函數(ModulationTransfer Function，MTF)曲線、TV Line測試或者空間頻率響應(spatial frequencyresponse，SFR)測試。比如，判定攝像模組解析力常用TV Line測試，而判定鏡頭解析力常采用測試調制傳遞函數(Modulation Transfer Function，MTF)曲線。測試MTF曲線具有可以量化判定、不存在人為判定誤差的優點，缺點是判定綜合了橫豎線之間的差異，無法做更細致的判定；TV Line判定方法的優點是能夠以橫豎線判定解析力，相比MTF方法更精致。

然而在現有實際測試中，對攝像模組測試得到的解析力曲線和對其鏡頭測得的解析力曲線各位置點不能對應，無法核對相同位置點的解析力情況。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種攝像模組解析力與鏡頭解析力核準方法，能夠實現將攝像模組解析力曲線與鏡頭解析力曲線各位置點對應。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種攝像模組解析力與鏡頭解析力核準方法，包括：

對攝像模組做解析力測試，獲得解析力值隨像點到圖像中心距離變化的第一曲線；

取下所述攝像模組的鏡頭，按照對所述攝像模組做解析力測試時所述鏡頭的方向，對所述鏡頭做解析力測試，獲得解析力值隨像點到圖像中心距離變化的第二曲線；

基于將所述第一曲線和所述第二曲線的橫坐標對應將兩個曲線圖合并。

可選地，所述對攝像模組做解析力測試，獲得解析力值隨像點到圖像中心距離變化的第一曲線包括：

改變所述攝像模組的鏡頭方向，分別在不同的鏡頭方向對所述攝像模組做解析力測試，分別獲得在不同的鏡頭方向時解析力值隨像點到圖像中心距離變化的曲線。

可選地，所述按照對所述攝像模組做解析力測試時所述鏡頭的方向，對所述鏡頭做解析力測試包括：

按照對所述攝像模組做解析力測試時不同的鏡頭方向，改變所述鏡頭的方向，分別在不同的鏡頭方向下對所述鏡頭做解析力測試。

可選地，所述基于將所述第一曲線和所述第二曲線的橫坐標對應將兩個曲線圖合并包括：

調整所述第一曲線所在曲線圖的橫軸刻度或者調整所述第二曲線所在曲線圖的橫軸刻度，基于將所述第一曲線和所述第二曲線的橫坐標對應將兩個曲線圖合并。

可選地，還包括：在合并后的曲線圖中，根據所述第一曲線上的預設位置點或者根據所述第二曲線上的預設位置點建立與橫軸垂直的直線，以核對相同位置的攝像模組解析力值和鏡頭解析力值。

可選地，對攝像模組做解析力測試包括對所述攝像模組做調制傳遞函數測試，或者對所述攝像模組做TV Line測試，或者對所述攝像模組做空間頻率響應測試。