[發(fā)明專利]一種三維編織復(fù)合材料預(yù)制體結(jié)構(gòu)的識(shí)別與建模方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810537212.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108717727B | 公開(公告)日: | 2022-10-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高希光;周岳;宋迎東;田藝豪;杜澤群 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T17/00 | 分類號(hào): | G06T17/00;G06T19/20 |
| 代理公司: | 南京鐘山專利代理有限公司 32252 | 代理人: | 戴朝榮 |
| 地址: | 210000 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 三維 編織 復(fù)合材料 預(yù)制 結(jié)構(gòu) 識(shí)別 建模 方法 | ||
1.一種三維編織復(fù)合材料預(yù)制體結(jié)構(gòu)的識(shí)別與建模方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一、根據(jù)預(yù)設(shè)幾何參數(shù)建立三維編織復(fù)合材料單胞理論模型;將單胞理論模型劃分為按層、行、列組成的六面體像素方塊,由纖維束各個(gè)頂點(diǎn)求出頂點(diǎn)所在面的方程,以纖維束各面的方程為判斷條件,對(duì)像素方塊所屬結(jié)構(gòu)進(jìn)行判斷,像素方塊中心點(diǎn)位于纖維束體內(nèi)的屬于纖維束,反之屬于基體或孔洞,將屬于纖維束的方塊灰度值設(shè)為1,將屬于基體或孔洞的方塊灰度值設(shè)為0;
步驟二、利用XCT技術(shù)獲得三維編織復(fù)合材料的XCT切片圖;XCT切片圖必須至少含有一個(gè)單胞;
步驟三、選擇XCT切片圖中用于建模的與單胞理論模型相對(duì)應(yīng)的局部XCT切片圖;局部XCT切片圖選取的標(biāo)準(zhǔn)為一個(gè)單胞大??;
步驟四、對(duì)局部XCT切片圖進(jìn)行閾值處理;設(shè)置閾值,當(dāng)局部XCT切片圖像素點(diǎn)灰度值大于所設(shè)閾值時(shí),將像素點(diǎn)灰度值重設(shè)為1,判定為纖維束;當(dāng)XCT圖片像素點(diǎn)灰度值小于等于所設(shè)閾值時(shí),將像素點(diǎn)灰度值重設(shè)為0,判定為孔洞或基體;
步驟五、對(duì)經(jīng)過(guò)閾值處理后的局部XCT切片圖進(jìn)行噪點(diǎn)去除;
步驟六、將上一步經(jīng)過(guò)處理后的局部XCT切片圖中的像素值與預(yù)設(shè)幾何參數(shù)的理論切片圖的像素值進(jìn)行比較計(jì)算,得出差異值;
步驟七、更改單胞理論模型預(yù)設(shè)值,通過(guò)優(yōu)化算法獲得幾何參數(shù)最優(yōu)解;通過(guò)改變單胞邊長(zhǎng)和花節(jié)高度的值,獲取不同的單胞理論模型,重復(fù)步驟一至步驟六,通過(guò)優(yōu)化算法獲得平均灰度差值最小時(shí)的單胞邊長(zhǎng)和花節(jié)高度。
2.如權(quán)利要求1所述的一種三維編織復(fù)合材料預(yù)制體結(jié)構(gòu)的識(shí)別與建模方法,其特征在于:所述步驟一中,單胞理論模型的建立通過(guò)設(shè)置單胞邊長(zhǎng)和花節(jié)高度,根據(jù):
其中,a為纖維束橫向移動(dòng)距離,b為花節(jié)高度,c、d為六邊形截面的兩條邊長(zhǎng),α為六邊形頂角夾角,θ為編織角,D為纖維束正交軸線距離;
當(dāng)確定單胞邊長(zhǎng)花節(jié)高度HL=b時(shí),即確定單胞理論模型的幾何尺寸,各頂點(diǎn)坐標(biāo)與面方程。
3.如權(quán)利要求1所述的一種三維編織復(fù)合材料預(yù)制體結(jié)構(gòu)的識(shí)別與建模方法,其特征在于:所述步驟五中,判斷每個(gè)像素點(diǎn)周圍8個(gè)像素點(diǎn)中是否有6個(gè)或以上像素點(diǎn)灰度值與中心像素點(diǎn)灰度值不同,當(dāng)灰度值不同時(shí),改變中心點(diǎn)像素值。
4.如權(quán)利要求3所述的一種三維編織復(fù)合材料預(yù)制體結(jié)構(gòu)的識(shí)別與建模方法,其特征在于:所述步驟六中,選擇單胞理論模型中所處位置與XCT切片圖相同的切片為理論切片圖,求理論切片圖與局部XCT切片圖的平均灰度差值:
其中,Average_GreyvalueDifference表示理論切片圖與局部XCT切片圖的平均灰度差值,width和height分別表示局部XCT切片圖的寬和高,H表示理論切片圖中單個(gè)像素的灰度值,H*表示與理論切片圖對(duì)應(yīng)的局部XCT切片圖中像素的灰度值。
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