[發明專利]一種低損耗檢測光提取方法以及取光機構

在審

• 申請號: 201810534148.1
• 申請日: 2018-05-29
• 公開（公告）號: CN108710181A
• 公開（公告）日: 2018-10-26
• 發明（設計）人: 王昌涔
• 申請（專利權）人: 南京光金通信科技有限公司
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42;H04B10/077;H04B10/25
• 代理公司: 南京禹為知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32272
• 代理人: 王曉東

1.一種低損耗檢測光提取方法，其特征在于：包括，

在彼此正對的兩個光接口端頭之間設置取光部件(101)，所述取光部件(101)的兩端分別與所述光接口的端頭對接，所述取光部件(101)與所述光接口的內部均設置有光纖，且所述光纖的外端互相對接；

在所述取光部件(101)的兩端均設置有選擇膜(103)，所述選擇膜(103)能夠對特定波長的檢測光進行過濾，并對傳輸至此的所述檢測光形成部分阻擋；

通過發射機向其中任意一個光接口發送波長不同于通訊光的檢測光，所述通訊光和檢測光同時向所述取光部件(101)的方向傳輸；

所述通訊光能夠從一端的光接口的光纖中穿過所述取光部件(101)內的光纖，進入另一端的光接口內，而所述檢測光被所述選擇膜(103)阻擋，從光接口端頭與所述取光部件(101)端頭之間所形成的不完全耦合的縫隙中傳導出去，被檢測部件所接收。

2.如權利要求1所述的低損耗檢測光提取方法，其特征在于：所述取光部件(101)的內部的中心位置具有軸向的預制通道(101b)，所述光纖穿過并埋設于所述預制通道(101b)內，并對所述取光部件(101)的兩端頭部進行研磨。

3.如權利要求1或2所述的低損耗檢測光提取方法，其特征在于：所述取光部件(101)長度在2～3mm之間。

4.如權利要求1或2所述的低損耗檢測光提取方法，其特征在于：所述取光部件(101)與所述光接口的對接通過固定部件(102)進行固定，所述固定部件(102)套設于所述取光部件(101)與所述光接口的對接處。

5.如權利要求4所述的低損耗檢測光提取方法，其特征在于：所述固定部件(102)沿其縱向具有容許縫口(102a)，所述檢測部件位于容許縫口(102a)的正上方，并接收來自所述光接口端頭與所述取光部件(101)端頭之間所形成的不完全耦合的縫隙中所傳導出來的檢測光。

6.一種取光機構(100)，其特征在于：包括所述取光部件(101)，以及套設于所述取光部件(101)外圍的所述固定部件(102)，所述取光部件(101)包括外圍的插芯體(101a)以及貫穿過所述插芯體(101a)的中心位置的軸向預制通道(101b)，所述光纖穿過并埋設于所述預制通道(101b)內；

所述取光部件(101)的兩端均設置有選擇膜(103)，所述選擇膜(103)能夠對特定波長的檢測光進行過濾，并對傳輸至此的所述檢測光形成傳輸阻擋。

7.如權利要求6所述的取光機構(100)，其特征在于：所述取光部件(101)長度在2～3mm之間。

8.如權利要求6或7所述的取光機構(100)，其特征在于：所述固定部件(102)沿其縱向具有容許縫口(102a)，所述檢測部件位于容許縫口(102a)的正上方。

9.如權利要求6或7所述的取光機構(100)，其特征在于：所述插芯體(101a)的中間位置處設置有溢出口(101a-1)，所述溢出口(101a-1)自所述取光部件(101)的外表面向內凹陷，且保持所述取光部件(101)內部的光纖不暴露出來。

10.如權利要求9所述的取光機構(100)，其特征在于：所述取光部件(101)上設置有V型槽(101a-2)，且所述V型槽(101a-2)的兩側坡面上設置有選擇膜(103)。