[發(fā)明專利]一種氧化鎵歐姆接觸電極的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810532221.1 | 申請日: | 2018-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN108461404B | 公開(公告)日: | 2020-12-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 夏曉川;梁紅偉;張賀秋;柳陽 | 申請(專利權(quán))人: | 大連理工大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/443 | 分類號: | H01L21/443;H01L29/45 |
| 代理公司: | 大連理工大學(xué)專利中心 21200 | 代理人: | 溫福雪;侯明遠(yuǎn) |
| 地址: | 116024 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 氧化 歐姆 接觸 電極 制備 方法 | ||
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件歐姆接觸電極制作技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種氧化鎵歐姆接觸電極的制備方法,步驟如下:步驟1、在氧化鎵層上依次預(yù)沉積鎂層和金層,鎂層的厚度為1nm~1mm,金層的厚度為1nm~1mm;步驟2、將上述樣品進(jìn)行熱處理,熱處理的條件如下:熱處理溫度為100℃~800℃;熱處理時間為30s~3600s;熱處理壓強(qiáng)為1×10?6Pa~1×106Pa;熱處理氣氛為真空或惰性氣體;步驟3、溫度降到室溫后,取出,即為氧化鎵歐姆接觸電極。本發(fā)明創(chuàng)新在于設(shè)計了一種基于鎂金合金的新型氧化鎵歐姆接觸電極,其制備工藝簡單,對氧化鎵材料無損傷,特別適用于研制電子濃度較低的氧化鎵基器件。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件歐姆接觸電極制作技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種新型氧化鎵歐姆接觸電極的制備方法。
背景技術(shù)
以氧化鎵為代表的第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料因其禁帶寬度大、擊穿場強(qiáng)高、電子飽和漂移速度高、耐腐蝕和抗輻照等突出優(yōu)點(diǎn),在制作高效率紫外探測器、氣體傳感器、友好型生物傳感器,以及高頻、高功率、抗輻射等電子器件方面具有重要應(yīng)用,具有電子或者空穴導(dǎo)電特性的氧化鎵材料是制備上述各類器件的基礎(chǔ),也是當(dāng)今氧化鎵材料制備領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。非摻雜的氧化鎵材料大多表現(xiàn)出高電阻率特性,可通過摻入適量施主型摻雜劑使得其表現(xiàn)出電子導(dǎo)電特性,與此同時其電阻率得以顯著降低。獲得良好的歐姆接觸是研制和應(yīng)用氧化鎵基器件的前提條件。目前制備氧化鎵歐姆接觸電極的方法主要利用的是隧穿機(jī)制。該技術(shù)路線的特點(diǎn)是,將與金屬電極接觸的氧化鎵材料近表面局部區(qū)域進(jìn)行重?fù)诫s,提高電子濃度,金屬與半導(dǎo)體接觸后,利用電子的隧穿效應(yīng),實(shí)現(xiàn)歐姆接觸特性。相比之下,其工藝較為復(fù)雜,且重?fù)诫s后對材料晶體質(zhì)量的損傷嚴(yán)重。此外,也有利用金屬材料與氧化鎵反應(yīng),在氧化鎵表面制造氧空位的方法來增加電子濃度、實(shí)現(xiàn)電子隧穿,進(jìn)而形成歐姆接觸的技術(shù)路線。相比之下,其對器件表面的晶體質(zhì)量損傷較為明顯,且氧空位缺陷不穩(wěn)定導(dǎo)致歐姆接觸特性的穩(wěn)定性較差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明基于半導(dǎo)體能帶理論,采用金屬功函數(shù)與氧化鎵電子親合勢相匹配的技術(shù)路線,提供一種簡單且對氧化鎵晶格無損的歐姆接觸電極。具體是在氧化鎵上沉積一層鎂層和金層,而后在惰性氣體保護(hù)下,在特定溫度窗口范圍內(nèi)進(jìn)行熱處理,使得鎂和金能夠形成特定合金結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)合金功函數(shù)與氧化鎵電子親合勢相匹配,進(jìn)而形成歐姆接觸特性。
本發(fā)明的技術(shù)方案:
一種氧化鎵歐姆接觸電極的制備方法,步驟如下:
步驟1、在氧化鎵層1上依次預(yù)沉積鎂層2和金層3,鎂層2的厚度為1nm~1mm,金層3的厚度為1nm~1mm;
所述的沉積方法是溶膠凝膠法、熱蒸發(fā)法、電子束蒸發(fā)法、磁控濺射法、激光脈沖沉積、原子層外延或分子束外延法。
步驟2、將上述樣品進(jìn)行熱處理,熱處理的條件如下:
熱處理溫度為100℃~800℃;
熱處理時間為30s~3600s;
熱處理壓強(qiáng)為1×10-6Pa~1×106Pa;
熱處理氣氛為真空、惰性氣體中的一種或組合;其中惰性氣體包括氮?dú)狻鍤獾龋捌浠旌蠚怏w;
熱處理過程中所用的加熱器設(shè)備包括有單溫區(qū)或多溫區(qū)控制的箱式爐、管式爐和RTP快速退火爐。
步驟3、溫度降到室溫后,取出,即為氧化鎵歐姆接觸電極。
進(jìn)一步,所述的鎂層2的厚度為20nm~1000nm。
進(jìn)一步,所述的金層3的厚度為20nm~1000nm。
進(jìn)一步,熱處理的條件如下:
熱處理溫度為300℃~600℃;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





