[發明專利]一種基于電子校準件的快速校準方法

有效

• 申請號: 201810526139.8
• 申請日: 2018-05-29
• 公開（公告）號: CN108614231B
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: 莊志遠;郭永瑞;李樹彪;劉丹;李明太;趙立軍
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 青島智地領創專利代理有限公司 37252
• 代理人: 種艷麗

本發明公開了一種基于電子校準件的快速校準方法，屬于校準技術領域，本發明減少了非起始端口的測量，雙端口校準速度提高了近一倍，多端口下速度提高更多；由于減少了對非起始端口電子校準件阻抗狀態的測量，也就減少了電子校準件阻抗狀態的設置，延長了電子校準件的使用壽命，降低人為操作失誤；可擴展至N端口校準。

技術領域

本發明屬于校準技術領域，具體涉及一種基于電子校準件的快速校準方法。

背景技術

電子校準技術是一種新興的矢量網絡分析儀自動校準技術，用于矢量網絡分析儀的自動校準及誤差修正，其特點是自動校準、體積小、重量輕、USB供電模式、校準精度高。電子校準件適用于矢量網絡分析儀的現場校準測試，能提高以矢量網絡分析儀為核心的各種測試系統的自動化程度及測試速度。電子校準過程為電子校準件和矢量網絡分析儀通過USB電纜進行連接，由矢量網絡分析儀自動控制完成校準。

目前，使用電子校準件進行多端口校準，通常為每個端口均連接電子校準件，然后進行電子校準件阻抗狀態的測量，隨后測量兩兩端口間的直通數據。利用每個端口對電子校準件阻抗狀態的測量值和定標值，計算單端口誤差項。然后利用電子校準件直通的測量值和定標值，計算兩兩端口間的誤差項。最后整合所有誤差項，實現對多端口的完整校準。

使用電子校準件進行多端口校準，無需像機械校準件進行多個標準的連接，減少了單端口標準的連接次數。但是如16端口校準，801掃描點。100Hz中頻帶寬下，連接測量過程需要10分鐘以上。隨著掃描點數、端口數的增多，中頻帶寬的減少，需要的測量時間更長。

電子校準件雖然實現了校準的自動化，但是對于多端口校準來說，如16端口校準，校準過程仍需要花費較多時間用于連接和測量。其次，電子校準件內部的阻抗標準，受硬件影響，會隨使用而偏離出廠的定標值，所以通常每年都需要進行一次重新定標。

發明內容

針對現有技術中存在的上述技術問題，本發明提出了一種基于電子校準件的快速校準方法，設計合理，克服了現有技術的不足，具有良好的效果。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種基于電子校準件的快速校準方法，包括如下步驟：

步驟1：復位矢量網絡分析儀；

步驟2：設置需要進行快速校準的端口i和端口j，并將端口i設置起始端口；

步驟3：在端口i和端口j之間連接電子校準件；

步驟4：在起始端口，通過矢量網絡分析儀測量電子校準件的阻抗狀態，得到測量值；

步驟5：通過矢量網絡分析儀獲取電子校準件阻抗狀態的真實值；

步驟6：獲取電子校準件直通的測量值；

步驟7：獲取電子校準件直通的真實值；

步驟8：對起始端口i進行誤差項求解；

步驟9：對剩余端口j進行誤差項求解；

步驟10：連接被測件，得到測量值；

步驟11：利用誤差項修正被測件的測量值。

優選地，在步驟8中，利用公式(5)，對起始端口i進行誤差項求解；

其中，為端口i到電子校準件之間的誤差項；Γ_x為電子校準件反射標準的真實值，x＝1,2,3,...,n；Γ_mx為端口i測量到的反射參數，x＝1,2,3,...,n。

優選地，在步驟9中，利用公式(6)、(7)、(8)、(9)、(10)，對剩余端口j進行誤差項求解；