[發明專利]一種電子校準件端口的自動檢測方法

有效

• 申請號: 201810526121.8
• 申請日: 2018-05-29
• 公開（公告）號: CN108845280B
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 莊志遠;梁勝利;郭永瑞;李樹彪;李明太;趙立軍
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 青島智地領創專利代理有限公司 37252
• 代理人: 種艷麗

本發明公開了一種電子校準件端口的自動檢測方法，屬于電子測試技術領域。本發明采用單端口誤差模型，利用前3次標準的測量值與定標值，得到網絡儀系統誤差；采用單端口誤差修正公式，將剩余標準的測量值進行修正；得到標準的修正測量值與定標值的幅度，然后做差跟閾值比較，進行端口檢測的判斷；通過測量值與定標值的直接對比，檢測成功率只有75％，通過阻抗變換進行修正，能提高檢測成功率，但也只有90％，本發明將檢測準確率提高到99％以上。

技術領域

本發明屬于電子測試技術領域，具體涉及一種電子校準件端口的自動檢測方法。

背景技術

利用電子校準件對矢量網絡分析儀校準，可以簡化校準流程，提高校準速度，且能保證良好的校準精度，使用電子校準件進行校準時，需要配置其與網絡儀端口的對應關系。

因為網絡儀端口只能產生射頻/微波信號，對當前連接的電子校準件端口無法通過標識等信息檢測，所以只能通過網絡儀得到電子校準件各標準的反射參數。由于電子校準件存在多種型號、標準亦有差異，所以單獨比對各標準間的測量值不可行。而且對電子校準件的端口檢測發生在校準網絡儀之前，所以網絡儀得到的測量信號是未修正的。直接對比網絡儀測量值與定標值是有誤差的。

由于電子校準件是經過定標的，即使用TRL校準后的矢量網絡分析儀對各個標準進行測量，測量結果存儲的電子校準件內部，形成電子標準的定標值。現有技術是，在矢量網絡分析對電子校準件某端口進行端口檢測時，利用第一個標準進行阻抗變換處理，修正系統阻抗，然后對將當前標準的測量值阻抗與定標值阻抗作對比。若偏差在閾值內，則認為當前端口匹配，否則，繼續判斷下一端口。

由于使用阻抗變換對矢量網絡分析儀的阻抗進行修正，屬于一維的修正。從矢量網絡分析儀的誤差模型來看，其單端口使用3維來修正，包括方向性誤差、源匹配誤差、反射跟蹤誤差。從修正的維數來說，阻抗變換的修正能力有限，算法驗證后，電子校準件端口檢測正確率只有90％。

發明內容

針對現有技術中存在的上述技術問題，本發明提出了一種電子校準件端口的自動檢測方法，設計合理，克服了現有技術的不足，具有良好的效果。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種電子校準件端口的自動檢測方法，包括如下步驟：

步驟1：復位矢量網絡分析儀；

步驟2：通過矢量網絡分析儀測量電子校準件端口i的各標準；

步驟3：判斷當前端口i是否大于電子校準件總端口數I；

若：判斷結果是當前端口i大于電子校準件總端口數I，則電子校準件所有端口均與網絡儀端口不匹配，認為電子校準件與矢量網絡分析儀端口不連接；

或判斷結果是當前端口i小于或者等于電子校準件總端口數I，然后執行步驟4；

步驟4：得到端口i下所有標準的測量值和定標值；

步驟5：利用前3個標準的測量值和定標值，采用公式(2)，計算得到矢量網絡分析儀系統單端口誤差E_D、E_S和E_R；

式中，E_D為方向性誤差，E_S為源匹配誤差，E_R為反射跟蹤誤差，Γ_Mi1為電子校準件端口i的第1個標準測量值，Γ_Di1為電子校準件端口i的第1個標準定標值，Γ_Mi2為電子校準件端口i的第2個標準測量值，Γ_Di2為電子校準件端口i的第2個標準定標值，Γ_Mi3為電子校準件端口i的第3個標準測量值，Γ_Di3為電子校準件端口i的第3個標準定標值；