[發(fā)明專利]一種定位裝置及測試系統

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810525611.6
• 申請日: 2018-05-28
• 公開（公告）號: CN108663549A
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發(fā)明（設計）人: 胡海;李成鵬;王泰山;李國泉;劉文斌
• 申請（專利權）人: 深圳瑞波光電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/26
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李慶波

本申請涉及一種定位裝置及測試系統，屬于LED器件檢測領域。本申請?zhí)岢隽艘环N定位裝置，所述定位裝置包括：第一支座，用于支撐所述定位裝置；第一旋轉組件，與所述第一支座連接固定；以及固定組件，所述固定組件與所述第一旋轉組件連接固定；其中，所述第一旋轉組件包括第一旋轉軸，所述固定組件通過所述第一旋轉組件實現旋轉。本申請通過將LED器件固定，并通過旋轉組件實現旋轉，實現對LED器件整個光空間分布的測量。

技術領域

本申請涉及一種LED器件檢測設備，特別是涉及一種定位裝置及測試系統。

背景技術

發(fā)光二極管(lightemittingdiode，LED)作為第四代光源應用在普通照明領域，同白熾燈、熒光燈等傳統光源，無論是發(fā)光的原理，還是發(fā)光的特性，甚至包括照明光源的結構和驅動等，都有顯著差別。因此，對LED光源進行測試至關重要。

如圖1所示，為現有LED器件的具體結構示意圖。LED光源100包括發(fā)光面120、用于固定發(fā)光面120的殼體140以及用于連接外置電源的正極引腳110和負極引腳130。發(fā)光面120內部通常固定有LED發(fā)光芯片及驅動電路。當正極引腳110和負極引腳130與外置電路形成回路后，發(fā)光面120發(fā)光。

但由于LED發(fā)光芯片光強分布的不均勻，以及LED器件封裝中熒光粉涂覆的不一致，導致目前LED器件在光的空間分布上的存在不均勻性。而光色空間分布的不均勻性是評價LED器件質量的一個十分重要的指標。因此，需要對光照的各個角度進行檢測，使不良品能夠在使用前就被檢測出來。由于器件的光照角度為一個半球形覆蓋面，所有要對其各個角度進行測量。

發(fā)明內容

本申請的目的是提供一種定位裝置和測試系統，旨在解決現有技術中因焊接導致的發(fā)光面傾斜，使重復測量精度差、焊接時間長、導致器件損壞等缺陷，能夠快速方便得實現對LED器件光空間分布信息的測量。

為解決上述技術問題，本申請采用的一個技術方案是：

第一支座；

第一旋轉組件，固定在所述第一支座上；以及

固定組件，設置在所述第一旋轉組件上，用于固定LED器件；

其中，所述第一旋轉組件至少包括第一旋轉軸，所述第一旋轉軸用于帶動所述固定組件在第一平面上旋轉，以使所述LED器件切換多個發(fā)光區(qū)域。

在一些實施例中，所述固定組件包括散熱給電組件，所述散熱給電組件包括散熱板、探針和固定塊，所述探針通過所述固定塊與所述散熱板固定；所述探針的一端分別與所述LED器件的兩個電極連接，用于為所述LED器件提供電源。

在一些實施例中，所述固定組件包括至少兩個彈性壓板，所述彈性壓板包括固定端和伸縮端，所述固定端與所述伸縮端相互垂直設置。

在一些實施例中，所述散熱板的一端開設有通孔，所述探針和所述伸縮端分別穿過所述通孔，所述探針和所述固定端分別位于所述LED器件的兩個電極的兩側。

在一些實施例中，所述散熱給電組件還包括制冷部，所述制冷部包括冷卻片和冷卻塊，所述制冷片的吸熱面與所述散熱板的下表面貼合，所述制冷片的散熱面與所述冷卻塊的上表面貼合，所述冷卻塊內部設有多個連通槽，冷卻液通過所述連通槽在所述冷卻塊內部循環(huán)。

在一些實施例中，所述第一旋轉組件包括第一旋轉軸、第一支架和轉接板，所述定位裝置包括安裝基板，所述第一旋轉軸的一端與第一支架轉動連接，所述第一旋轉軸的另一端與所述轉接板固定連接；所述固定組件通過安裝基板與所述轉接板固定。

在一些實施例中，所述第一旋轉軸與所述支架之間通過限位螺桿轉動連接，所述支架與所述第一旋轉軸連接的一端開設有限位槽，所述限位螺桿經過所述限位槽與所述第一旋轉軸連接，以實現所述第一旋轉軸帶動所述固定組件在第一平面內旋轉。