[發明專利]一種用于提高二次離子質譜儀選樣效率的裝置

有效

• 申請號: 201810525314.1
• 申請日: 2018-05-28
• 公開（公告）號: CN108872358B
• 公開（公告）日: 2020-03-24
• 發明（設計）人: 楊晴;夏小平;張彥強;張萬峰;劉銘亮
• 申請（專利權）人: 中國科學院廣州地球化學研究所
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64
• 代理公司: 廣州科粵專利商標代理有限公司 44001
• 代理人: 劉明星

1.一種用于提高二次離子質譜儀選樣效率的裝置，其特征在于：包括計算機、顯微鏡主體、顯微鏡載物臺和坐標轉換系統，所述顯微鏡載物臺上安裝有限位器模塊、驅動模塊和位置感應模塊，所述顯微鏡主體、限位器模塊、驅動模塊和位置感應模塊分別通過數據線與所述計算機相連，所述計算機控制所述驅動模塊在所述顯微鏡載物臺上移動，所述限位器模塊限制所述驅動模塊的最大位移，所述位置感應模塊感應所述驅動模塊的移動位置坐標，所述坐標轉換系統將所述移動位置坐標轉換為二次離子質譜儀相應的坐標；所述坐標轉換系統將移動位置坐標轉換為二次離子質譜儀相應的坐標，包括以下步驟：

步驟一：在顯微鏡下確定三個特定點，記錄所述三個特定點在顯微鏡下的舊坐標(X₁,Y₁)，(X₂,Y₂)，(X₃,Y₃)，再記錄所述三個特定點在二次質譜儀中的新坐標(X₁’,Y₁’)，(X₂’,Y₂’)，(X₃’,Y₃’)；

步驟二：根據新舊坐標的轉換，確定其他坐標點的轉換公式需要的參數a，b，c，d，e，f，

其中，

c＝X′₁-a*X₁-b*Y₁ (3)

f＝Y′₁-d*X₁-e*Y₁ (6)

步驟三：根據上述確定的6個參數a，b，c，d，e，f，獲取坐標轉換公式：

X’＝a*X+b*Y+c (7)

Y’＝d*X+e*Y+f (8)

步驟四：根據上述坐標轉換公式(7)、(8)，將顯微鏡下任意點的坐標轉換為二次質譜儀下的坐標。