[發(fā)明專利]一種固態(tài)硬盤燒寫的方法、裝置、設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810523370.1
• 申請(qǐng)日: 2018-05-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108845807B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邵文豪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F8/61
• 分類號(hào): G06F8/61
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發(fā)明公開(kāi)了一種固態(tài)硬盤燒寫的方法、裝置、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，應(yīng)用于控制主機(jī)，與控制主機(jī)相連的測(cè)試主機(jī)，通過(guò)繼電器與控制主機(jī)相連的固態(tài)硬盤，包括：所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)下電指令控制所述測(cè)試主機(jī)下電；所述控制主機(jī)向所述繼電器下發(fā)關(guān)閉指令控制所述繼電器關(guān)閉后，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)上電指令控制所述測(cè)試主機(jī)上電，從而使所述固態(tài)硬盤上電進(jìn)入固件燒寫模式；所述固態(tài)硬盤進(jìn)入所述固件燒寫模式后，所述控制主機(jī)控制所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行燒寫。本發(fā)明所提供的方法、裝置、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，可以使固態(tài)硬件燒寫過(guò)程自動(dòng)化。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種固態(tài)硬盤燒寫的方法、裝置、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

固態(tài)硬盤板卡作為典型的嵌入式開(kāi)發(fā)項(xiàng)目，固件燒寫與程序測(cè)試時(shí)MCU運(yùn)行在不同的模式，并且模式的選擇是在MCU上電時(shí)通過(guò)硬件電路的不同而不同。固件燒寫完成之后再將硬件電路恢復(fù)到正常運(yùn)行模式重新上電后進(jìn)行測(cè)試工作，其步驟繁瑣，并且需要全程人力干預(yù)；流程自動(dòng)化程度較低。

綜上所述可以看出，如何提高固件燒寫自動(dòng)化程度目前有待解決的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種固態(tài)硬盤燒寫的方法、裝置、設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種固態(tài)硬盤燒寫的方法，應(yīng)用于控制主機(jī)，與控制主機(jī)相連的測(cè)試主機(jī)，通過(guò)繼電器與控制主機(jī)相連的固態(tài)硬盤，包括：所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)下電指令控制所述測(cè)試主機(jī)下電；所述控制主機(jī)向所述繼電器下發(fā)關(guān)閉指令控制所述繼電器關(guān)閉后，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)上電指令控制所述測(cè)試主機(jī)上電，從而使所述固態(tài)硬盤上電進(jìn)入固件燒寫模式；所述固態(tài)硬盤進(jìn)入所述固件燒寫模式后，所述控制主機(jī)控制所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行燒寫。

優(yōu)選地，所述控制主機(jī)控制所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行燒寫后還包括：

所述固態(tài)硬盤燒寫完成后，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)下電指令控制所述測(cè)試主機(jī)下電，向所述繼電器下發(fā)打開(kāi)指令控制所述繼電器打開(kāi)后，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)上電指令控制所述測(cè)試主機(jī)上電，從而使所述固態(tài)硬盤進(jìn)入運(yùn)行模式；

當(dāng)所述測(cè)試主機(jī)上電完成后，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)測(cè)試指令，從而控制所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行測(cè)試。

優(yōu)選地，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)測(cè)試指令，從而控制所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行測(cè)試后還包括：將所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤的測(cè)試結(jié)果返回所述控制主機(jī)。

優(yōu)選地，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)下電指令控制所述測(cè)試主機(jī)下電包括：所述控制主機(jī)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)下電指令，控制所述測(cè)試主機(jī)下電。

優(yōu)選地，所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行燒寫包括：所述測(cè)試主機(jī)通過(guò)PCI-E接口對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行燒寫。

優(yōu)選地，所述繼電器通過(guò)USB接口與所述控制主機(jī)連接。

本發(fā)明還提供了一種固態(tài)硬盤燒寫的裝置應(yīng)用于控制主機(jī)，與控制主機(jī)相連的測(cè)試主機(jī)，通過(guò)繼電器與控制主機(jī)相連的固態(tài)硬盤，包括：

測(cè)試主機(jī)下電模塊，用于所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)下電指令控制所述測(cè)試主機(jī)下電；

模式選擇模塊，用于所述控制主機(jī)向所述繼電器下發(fā)關(guān)閉指令控制所述繼電器關(guān)閉后，所述控制主機(jī)向所述測(cè)試主機(jī)下發(fā)上電指令控制所述測(cè)試主機(jī)上電，從而使所述固態(tài)硬盤上電進(jìn)入固件燒寫模式；

燒寫模塊，用于所述固態(tài)硬盤進(jìn)入所述固件燒寫模式后，所述控制主機(jī)控制所述測(cè)試主機(jī)對(duì)所述固態(tài)硬盤進(jìn)行燒寫。

優(yōu)選地，，還包括固件硬盤測(cè)試模塊；