[發(fā)明專利]一種亞像素級(jí)的PCB板殘缺基準(zhǔn)點(diǎn)檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810523189.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-05-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108830838A | 公開(公告)日: | 2018-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許楨英;李世奇;徐夢(mèng)瑩;趙波;王一凡 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/70;G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 212013 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像 基準(zhǔn)點(diǎn)檢測(cè) 亞像素級(jí) 去噪 殘缺 去除 算法 亞像素邊緣檢測(cè) 最大類間方差法 最小二乘法擬合 預(yù)處理 圖像特征區(qū)域 孔洞 定位精度低 二值化圖像 高精度基準(zhǔn) 數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué) 圖像預(yù)處理 有效地實(shí)現(xiàn) 定位效率 二值分割 灰度圖像 中值濾波 基準(zhǔn)點(diǎn) 基準(zhǔn)圓 連通域 速度差 自適應(yīng) 讀入 噪聲 尺度 | ||
1.一種亞像素級(jí)的PCB板殘缺基準(zhǔn)點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、原始圖像的獲取:通過基準(zhǔn)定位CCD相機(jī)獲取一幅大小為A×B的PCB板原始圖像1;其中:A、B為正整數(shù);
S2、對(duì)PCB板原始圖像預(yù)處理,包括如下步驟:
S2.1、中值濾波去噪:將原始圖像1進(jìn)行中值濾波去噪,得到去燥后的圖像2;
S2.2、二值化處理:對(duì)圖像2進(jìn)行二值化處理,得到二值圖像3;
S2.3、形態(tài)學(xué)處理:將二值圖像3進(jìn)行形態(tài)學(xué)開、閉操作進(jìn)一步去除噪聲,其中形態(tài)學(xué)開操作去除孤立的小點(diǎn),形態(tài)學(xué)閉操作去除填補(bǔ)區(qū)域內(nèi)的一些小空洞,得到圖像4;
S3、用區(qū)域描繪算法計(jì)算圖像4的區(qū)域,并篩選出正確的基準(zhǔn)點(diǎn)區(qū)域,得到圖像5;
S4、用基于多項(xiàng)式插值的亞像素邊緣檢測(cè)算法對(duì)圖像5進(jìn)行邊緣檢測(cè),得出亞像素級(jí)的邊緣信息;
S5、利用最小二乘法對(duì)S4中得到的亞像素邊緣點(diǎn)進(jìn)行擬合,確定它的圓心與半徑,得到參數(shù)矩陣;
S6、將S5中獲取得到的基準(zhǔn)點(diǎn)的相關(guān)參數(shù)利用數(shù)值處理軟件進(jìn)行繪制,并顯示到原始圖像1上,繪制基準(zhǔn)點(diǎn)的圓心以及輪廓,最后,輸出基準(zhǔn)點(diǎn)的圓心坐標(biāo)以及半徑數(shù)值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的亞像素級(jí)的PCB板殘缺基準(zhǔn)點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S2.1中的中值濾波去噪為自適應(yīng)中值濾波去噪,具體步驟為:
令zmin=Sxy中的最小灰度值、zmax=Sxy中的最大灰度值、zmed=Sxy中的灰度中值、zxy=圖像(x,y)處的灰度值;自適應(yīng)中值濾波算法使用兩個(gè)處理層次,分別為層次U和層次V:
層次U:如果zmin<zmed<zmax,轉(zhuǎn)至層次V,否則增大窗口尺寸,如果窗口尺寸≤Smax,重復(fù)層次U,否則輸出zmed;
層次V:如果zmin<zxy<zmax,輸出zxy,否則輸出zmed;
其中,zmed(x,y)為中心像素灰度值;Sxy表示中心在(x,y),尺寸為p×q的矩形子圖像窗口的坐標(biāo)組;Smax為自適應(yīng)濾波器窗口允許的最大尺寸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種亞像素級(jí)的PCB板殘缺基準(zhǔn)點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S2.2中采用最大類間方差法進(jìn)行二值化處理,首先對(duì)濾波去噪后的圖像2求取閾值,然后利用得到的閾值對(duì)圖像2進(jìn)行二值化處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種亞像素級(jí)的PCB板殘缺基準(zhǔn)點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S2.2具體為:
令T為圖像2前景與背景的分割閾值,圖像2前景區(qū)域占圖像2的比例為λ0,平均灰度為μ0;圖像2背景點(diǎn)數(shù)占圖像2的比例為λ1,平均灰度為μ1,圖像2的總平均灰度為μ,令g為圖像2中前景與背景圖像的方差,則有:
u=λ0×μ0+λ1×μ1
g=λ0×(μ0-μ)2+λ1×(μ1-μ)2
聯(lián)立上面兩式可得:
g=λ0×λ1×(μ0-μ1)2
即:
當(dāng)方差g最大的時(shí)候,此時(shí)的T是最佳閾值,由此最佳閾值T分割圖像2得到的前景與背景區(qū)域即為二值化圖像3的黑色與白色區(qū)域。
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