[發明專利]RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統和測試方法

在審

• 申請號: 201810522093.2
• 申請日: 2018-05-28
• 公開（公告）號: CN108761236A
• 公開（公告）日: 2018-11-06
• 發明（設計）人: 張東;陳燕寧;付振;張海峰;原義棟;李建強
• 申請（專利權）人: 北京智芯微電子科技有限公司;國網信息通信產業集團有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279
• 代理人: 周勇;張鵬

1.一種RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，包括：

熱流罩高低溫裝置，用于對空氣進行加熱或制冷；

熱傳導裝置，通過第一導管與所述熱流罩高低溫系統相連接，將所述熱流罩高低溫系統產生的冷熱空氣進行傳輸；以及

隔熱裝置，通過第二導管與所述熱傳導裝置相連接，該隔熱裝置用于容納所述RFID標簽以對其進行高溫或低溫性能測試。

2.如權利要求1所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述熱流罩高低溫裝置包括：

壓縮空氣源，用于提供常溫的壓縮空氣；

干燥過濾裝置，與所述壓縮空氣源相連接，對所述壓縮空氣進行干燥過濾；

壓縮機，與所述干燥過濾裝置相連接，用于對經過干燥過濾的壓縮空氣進行制冷；以及

加熱裝置，用于對經過干燥過濾的壓縮空氣進行加熱。

3.如權利要求2所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述熱流罩高低溫裝置還包括控制單元，用于對常溫的壓縮空氣所需要加熱或制冷的溫度值進行控制。

4.如權利要求3所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述控制單元還控制所述壓縮機和加熱裝置，使該壓縮機和加熱裝置在同一時間下只能其中之一進行工作。

5.如權利要求1所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述熱傳導裝置包括導熱管、氣體流量調節閥和泄壓管。

6.如權利要求5所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述導熱管包括所述第二導管。

7.如權利要求1所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述隔熱裝置包括：

微波暗室；和

設置在該微波暗室內的隔熱罩，所述隔熱罩設有氣體入口、氣體出口和隔熱墊，該隔熱罩內設置有標簽夾具用于放置RFID標簽。

8.如權利要求7所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述隔熱裝置還包括：設置在氣體入口處和氣體出口處的緩沖板。

9.如權利要求7所述的RFID標簽在高低溫條件下的性能測試系統，其特征在于，所述隔熱裝置還包括設置在所述隔熱罩下方的吸波材料。

10.一種RFID標簽在高低溫條件下的性能測試方法，其采用了如權利要求1所述的性能測試系統，其特征在于，所述測試方法包括如下步驟：

在不設有如權利要求1所述的性能測試系統的情況下，在常溫下測試所述RFID標簽的性能，獲取測試結果R1；

在設有所述性能測試系統的情況下，在常溫下測試所述RFID標簽的性能，獲取測試結果R2；

計算補償結果R1-R2；

在利用如權利要求所述的性能測試系統下獲得的高溫或低溫條件下測試RFID標簽的性能，獲取結果R；

計算最終RFID標簽的在高溫或低溫的性能：R+R1-R2。