[發明專利]基于多分辨率圖像的光學式瑕疵檢測裝置

有效

• 申請號: 201810520331.6
• 申請日: 2018-05-28
• 公開（公告）號: CN109115782B
• 公開（公告）日: 2021-12-03
• 發明（設計）人: 李彥志;王德斌;林文彬;陳文生
• 申請（專利權）人: 聯策科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06T7/00
• 代理公司: 北京匯信合知識產權代理有限公司 11335
• 代理人: 翟國明

本發明提供一種基于多分辨率圖像的光學式瑕疵檢測裝置，包含：一圖像拍攝系統，拍攝一待檢測物以輸出一具有一第一分辨率的圖像信號；以及一圖像處理系統，接收該圖像信號以儲存一具有該第一分辨率的圖像原圖，并根據至少一區域參數處理該圖像原圖，以產生具有一第二分辨率的圖像，再根據該區域參數、具有該第二分辨率的圖像以及具有該第一分辨率的圖像原圖，以產生一至少具有該第二分辨率的輸出圖像，該輸出圖像用于檢測該待檢測物的瑕疵，其中該第二分辨率低于該第一分辨率。

技術領域

本發明涉及一種光學式瑕疵檢測裝置，更明確地說明，本發明是一種基于多分辨率圖像的光學式瑕疵檢測裝置，基于高分辨率原圖因應待檢測物上不同密度聚集區域而降低區域分辨率，以提升檢測待檢測物瑕疵的處理速度。

背景技術

消費電子產品要求輕薄短小，使得相關的檢測機臺所要檢出的電子組件缺陷也隨的越來越小，才不會造成產品的異常。為了需要檢出這些缺陷瑕疵，所需的自動光學檢測機(Automated Optical Inspection,AOI)掃描解析精度也越來越高。

面對這些市場需求，機臺需要配備高分辨率的光學系統和硬設備，才可以達到此目的。然而，高分辨率圖像的處理是需要高效能的硬件與軟件配合，才可以在短時間內計算完成瑕疵檢測。

一種現有技術，新型專利第M470256號，提供一種光學式瑕疵檢測裝置，為了因應不同的檢測需求而同時配置不同分辨率相機裝置。在同一機臺設備上，對待檢測物采取不同分辨率的量測，高分辨率相機裝置的量測可以檢測待檢測物上高密度聚集零件或密集線路布局的瑕疵，而低分辨率相機裝置的量測可以檢測待檢測物上較大體積零件或一般線路布局的瑕疵。所有的檢測都有規格與速度的考慮，如要求檢測缺陷小的規格，就要搭配高分辨率的光學系統架構，但得到的整體圖像數據量龐大，會降低產線的檢測效率。

此一現有技術的光學式瑕疵檢測裝置雖可滿足不同的需求與提高檢測效率，且高分辨率相機裝置的量測可以有效縮小機構的檢測體積，但是同時配置不同分辨率相機裝置使得機臺成本大幅增加，機構設計復雜且相關的高分辨率量測所需花費時間還是無法有效減低。因此，本發明若能提供一種基于多分辨率圖像的光學式瑕疵檢測裝置，將是具有產業的利用性。

發明內容

本發明解決現有技術的問題，以高分辨率光學系統的硬件架構下，取像拍攝待檢測物的高分辨率圖像原圖，而根據客戶測試料號的缺陷規格需求，決定可接受較低分辨率的檢測區域，再將該等檢測區域的高解析圖像原圖減低數據量，調整至適合的低分辨率圖像，再整合出具有不同分辨率的輸出圖像用于瑕疵檢出。

本發明的目的是提供一種基于多分辨率圖像的光學式瑕疵檢測裝置，以高分辨率相機拍攝待檢測物而產出圖像原圖，因應不同檢測需求的區域以降低高分辨率，而產出具有不同分辨率的輸出圖像用于檢測該待檢測物的瑕疵。

為了達到上述發明目的，本發明提供的一種基于多分辨率圖像的光學式瑕疵檢測裝置，包含：

一圖像拍攝系統，拍攝一待檢測物以輸出一具有一第一分辨率的圖像信號；以及

一圖像處理系統，接收該圖像信號以儲存一具有該第一分辨率的圖像原圖，并根據至少一區域參數處理該圖像原圖，以產生具有一第二分辨率的圖像，再根據該區域參數、具有該第二分辨率的圖像以及具有該第一分辨率的圖像原圖，以產生一至少具有該第二分辨率的輸出圖像，該輸出圖像用于檢測該待檢測物的瑕疵，其中該第二分辨率低于該第一分辨率。

進一步，其中該圖像拍攝系統包含一具有該第一分辨率的相機以及至少一光源，通過該光源照射該待檢測物，使該相機拍攝該待檢測物并輸出具有該第一分辨率的圖像信號。

進一步，其中該圖像處理系統包含一圖像卡、一圖像處理模塊以及一圖像暫存區，其中該圖像卡接收該圖像信號以產生具有該第一分辨率的圖像原圖，該圖像處理模塊接收并儲存具有該第一分辨率的圖像原圖至該圖像暫存區。