[發(fā)明專利]融合自然γ能譜與中子時間譜的鈾礦測井刻度參數(shù)求法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810516711.2 | 申請日: | 2018-05-25 |
| 公開(公告)號: | CN108825219B | 公開(公告)日: | 2021-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 湯彬;王海濤;陳銳;黃凡;張積運(yùn);張雄杰;劉志鋒;王仁波;周書民;管少斌;瞿金輝 | 申請(專利權(quán))人: | 東華理工大學(xué) |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00 |
| 代理公司: | 江西省專利事務(wù)所 36100 | 代理人: | 胡里程 |
| 地址: | 344000*** | 國省代碼: | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 融合 自然 中子 時間 鈾礦 測井 刻度 參數(shù) 求法 | ||
1.一種融合自然γ能譜與中子時間譜的鈾礦測井刻度參數(shù)求法,具體是指:將自然γ能譜測井與鈾裂變瞬發(fā)中子時間譜測井的兩種測井方法有機(jī)融合在一起,構(gòu)建出組合式鈾礦測井方法;以及利用該測井方法獲取的數(shù)據(jù)實現(xiàn)鉆孔穿過的巖礦層內(nèi)鈾、釷、鐳、鉀天然放射性元素定量的刻度參數(shù)求法;
1)、由于自然γ能譜與瞬發(fā)中子時間譜這兩類測井方法的特征能區(qū)計數(shù)率與放射性元素含量之間的正比關(guān)系非常相似,且高能區(qū)特征γ射線在低能區(qū)將形成散射γ射線的附加計數(shù)率,對于沿鉆孔分布的無數(shù)個放射性薄層,如果依此構(gòu)建厚度H=H1+H2→∞的放射性礦層或巖層,則將沿鉆孔方向的放射性元素含量分布函數(shù)記為qk(z),相應(yīng)沿鉆孔方向的特征能區(qū)計數(shù)率分布函數(shù)記為Ni(Z),則兩者的函數(shù)關(guān)系將由積分表達(dá)式表示為:
其中,厚度采用微分元dz表示的任一放射性薄層在鉆孔任一深度坐標(biāo)Z處形成的特征能區(qū)計數(shù)率的微分表達(dá)式為:
式中,
Z、z分別表示鉆孔中的測點深度坐標(biāo)和放射性薄層的深度坐標(biāo);則|Z-z|為測點到任一放射性薄層的距離,其中放射性薄層的厚度采用微分元dz表示;
qk(z)表示深度坐標(biāo)z處的放射性薄層中的各元素含量;其中,按特征能區(qū)從高能到低能的順序,對應(yīng)鈾放射性元素的編號為k=1、釷放射性元素的編號為k=2、鐳放射性元素的編號為k=3、鉀放射性元素的編號為k=4;
Ni(Z)表示無數(shù)個放射性薄層構(gòu)建處的放射性礦層在測點深度坐標(biāo)Z處形成的特征能區(qū)計數(shù)率;其中,任一放射性薄層形成的特征能區(qū)計數(shù)率采用微分元dNi(Z)表示;按特征能區(qū)從高能到低能的順序,對應(yīng)鈾放射性元素的特征能區(qū)編號為i=1、釷放射性元素的特征能區(qū)編號為i=2、鐳放射性元素的特征能區(qū)編號為i=3、鉀放射性元素的特征能區(qū)編號為i=4,這些特征能區(qū)分別稱之為鈾能區(qū)、釷能區(qū)、鐳能區(qū)、鉀能區(qū);
稱為地質(zhì)脈沖響應(yīng)函數(shù),記為用于表達(dá)任一放射性薄層所能響應(yīng)的特征能區(qū)計數(shù)率的變化規(guī)律;也就是的取值隨測點深度坐標(biāo)為Z與放射性薄層深度坐標(biāo)為z之間的距離|Z-z|的加大而減小,其衰減規(guī)律由負(fù)指數(shù)函數(shù)近似描述,其中αi稱為特征參數(shù),表征了衰減速率,且αi的取值與射線種類、射線與巖礦層相互作用因素相關(guān);
Aki稱為刻度因子;如果將放射性元素均勻分布的“無限厚”礦層稱為飽和礦層,當(dāng)沿鉆孔對僅含第k種放射性元素的單位含量的飽和礦層進(jìn)行測井時,刻度因子Aki就是該飽和礦層中心點的第i個特征能區(qū)計數(shù)率的測量值,常見的刻度因子Aki是一個常數(shù)矩陣,表明該飽和礦層內(nèi)的任意一種放射性元素對任意一個特征能區(qū)計數(shù)率都能形成一定的貢獻(xiàn)率;
Bi稱為本底響應(yīng);包括測井儀與巖層的兩類本底響應(yīng),且每個特征能區(qū)都有各自的計數(shù)率本底,它常常為一組常數(shù);
上述(1)式和(2)式就是用來求解巖礦層放射性元素含量沿鉆孔分布的定量方程,分別稱為該鈾礦測井的放射性元素定量方程的積分表達(dá)式和微分表達(dá)式;其中積分表達(dá)式是最常用的求解放射性元素含量分布的定量方程;
2)、對于飽和礦層,實指礦層厚度H中的H1和H2均達(dá)0.6m以上,因礦層內(nèi)任一點,深度坐標(biāo)為z的同一種放射性元素含量qk(z)處處相等,則其任一點的元素含量采用礦層中心點的元素含量表示,深度坐標(biāo)為Z0來表示,即qk(z)=qk(Z0)為常數(shù);由(1)式求得礦層中心區(qū)域任一測點,深度坐標(biāo)為Z的特征能區(qū)計數(shù)率為:
可見,落在飽和礦層中心區(qū)域的任一測點的特征能區(qū)計數(shù)率也處處相等,此時由礦層中心點表示的鉆孔內(nèi)任一測點的特征能區(qū)計數(shù)率為常數(shù),即:
3)、為了采用積分表達(dá)式(1)式求得礦層內(nèi)的放射性元素含量qk(z),就必須事先確定刻度該測井的定量特性和本底干擾的刻度因子Aki和本底響應(yīng)Bi,因而統(tǒng)稱它們?yōu)榭潭葏?shù);在鈾礦定量中,并不直接求得刻度因子Aki,而是將第k種放射性元素稱為主元素,鈾作為主元素的鈾礦定量,主元素以外的其它元素稱為輔元素,且將主元素自身對應(yīng)的特征計數(shù)率稱為主特征計數(shù)率,此時i=k,相應(yīng)刻度因子分量Akk稱為換算系數(shù),其它特征計數(shù)率稱為輔特征計數(shù)率,同時引入靈敏度因子Ski的定義式為:
Ski=Aki/Akk (4)
若有只含主元素、不含任何輔元素的飽和礦層刻度模型井又稱其為標(biāo)準(zhǔn)模型井,就能方便地求得換算系數(shù)Akk與靈敏度因子Ski,即:
其中,本底響應(yīng)由不含任何放射性元素的標(biāo)準(zhǔn)零值模型井求得:
Bi=Ni(Z0)(i=1,2,3,4) (6)
可見,Aki=Ski·Akk,表明了刻度因子Aki是靈敏度因子Ski對換算系數(shù)Akk的修正結(jié)果,它明確了Akk和Ski的物理關(guān)系;也就是以主元素對主特征計數(shù)率的貢獻(xiàn)率為參考,即Skk=1,則主元素對輔特征計數(shù)率的相對貢獻(xiàn)率為Ski,其中i≠k,或者輔元素對主特征計數(shù)率的相對貢獻(xiàn)率為Sik,其中k≠i;
只需制作與野外鉆孔條件相當(dāng)?shù)膬H含4種主元素的標(biāo)準(zhǔn)模型井,平衡鈾、平衡釷、鉀元素、零值的標(biāo)準(zhǔn)模型井,就不必求解線性方程組(3)式,而是按(4)式和(5)式直接求得換算系數(shù)Akk、靈敏度因子Ski、本底響應(yīng)Bi;由于自然γ能譜與瞬發(fā)中子時間譜相不干擾,將瞬發(fā)中子時間譜測井?dāng)?shù)據(jù)與鈾的特征計數(shù)率N1(Z)相對應(yīng)之后,且僅僅一個平衡鈾模型井就能求得鈾、鐳的換算系數(shù)A11、A33,且有S1i=Sk1=0,其中i≠1,k≠1;
對于特征能區(qū)定量法,選擇釷的特征能區(qū)覆蓋2.615MeV的特征γ峰,鐳的特征能區(qū)覆蓋1.765MeV的特征γ峰,鉀的1.461MeV的特征γ峰,此時的靈敏度因子Ski矩陣格式為:
對于特征峰定量法,選擇釷、鐳、鉀的三個特征γ峰分別為2.615MeV、1.765MeV、1.461MeV的特征γ射線,按照低能特征γ射線不產(chǎn)生高能散射γ射線的原則,必有S23≠0、S24≠0、S34≠0,其它Ski=0,即刻度因子Aki的矩陣格式將進(jìn)一步簡化為:
此外,模型井是否達(dá)到飽和礦層對求取靈敏度因子Ski并不重要,因此實測野外礦層也能求取靈敏度因子Ski;換句話說,只要大量統(tǒng)計野外礦層實測的輔特征計數(shù)率與主特征計數(shù)率的比值是否接近于相應(yīng)的靈敏度因子Ski,還能檢測出該測井儀的性能是否發(fā)生變化,進(jìn)而提示用戶該測井儀是否能繼續(xù)使用。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東華理工大學(xué),未經(jīng)東華理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810516711.2/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





