[發(fā)明專利]玻璃應力缺陷的檢測方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810515307.3
• 申請日: 2018-05-25
• 公開（公告）號: CN110530800B
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃繼欣;王昌奇;王大鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01N21/23
• 分類號: G01N21/23;G01N21/88;G01N21/95;G01L5/00
• 代理公司: 華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 石佩

本發(fā)明涉及玻璃應力缺陷的檢測方法和裝置。所述方法包括：使線偏振光依次通過玻璃樣品、四分之一波片和檢偏鏡，其中線偏振光的偏振方向與檢偏鏡的偏振軸正交；當四分之一波片的光軸處于第一角度時采集玻璃樣品的第一成像，第一角度為四分之一波片的光軸相對于線偏振光的偏振方向與檢偏鏡的偏振軸的45度角平分線的角度；當四分之一波片的光軸處于第二角度時采集玻璃樣品的第二成像，第二角度與第一角度的大小相等、符號相反；獲取第一成像的灰度值與第二成像的灰度值；以及根據(jù)第一成像的灰度值與第二成像的灰度值確定玻璃樣品是否存在應力缺陷。采用本發(fā)明的方法和裝置能夠減輕甚至消除玻璃表面瑕疵或塵埃干擾，快速可靠地檢測玻璃的應力缺陷。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及應力檢測領(lǐng)域，更具體地涉及玻璃應力缺陷的檢測方法和裝置。

背景技術(shù)

通常情況下，由于加工過程中的各種工藝影響，玻璃板中會殘留應力，而應力的大小是衡量玻璃質(zhì)量的重要標準；如果應力較大，則會對玻璃板的使用性能以及使用安全造成明顯嚴重的影響。因此，玻璃的應力檢測尤為重要。

目前，檢測玻璃應力缺陷主要通過以下方法進行：使線偏振光依次通過樣品、四分之一波片和檢偏鏡，然后靠人眼或計算機圖像識別，判定樣品內(nèi)部的應力。其檢測原理是：如果樣品內(nèi)存在應力缺陷，則線偏振光在應力的作用下會產(chǎn)生雙折射，形成兩束偏振方向互相垂直且傳播方向不同的光束，該兩束光通過四分之一波片和檢偏鏡之后發(fā)生干涉，形成應力紋，從而根據(jù)應力紋檢測樣品應力。然而，由于樣品表面的塵埃或瑕疵干擾，應力紋的判定的可靠性差，而且效率低，重復性不好，不利于大批量產(chǎn)品檢測。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種能夠可靠地判定應力缺陷的玻璃應力缺陷的檢測方法和裝置。

一種玻璃應力缺陷的檢測方法，該方法包括：

使線偏振光依次通過玻璃樣品、四分之一波片和檢偏鏡，其中線偏振光的偏振方向與檢偏鏡的偏振軸正交；

當四分之一波片的光軸處于第一角度時采集玻璃樣品的第一成像，第一角度為四分之一波片的光軸相對于線偏振光的偏振方向與檢偏鏡的偏振軸的45度角平分線的角度；

當四分之一波片的光軸處于第二角度時采集玻璃樣品的第二成像，第二角度與第一角度的大小相等、符號相反；

獲取第一成像的灰度值與第二成像的灰度值；以及

根據(jù)第一成像的灰度值與第二成像的灰度值確定玻璃樣品是否存在應力缺陷。

在其中一個實施例中，根據(jù)第一成像的灰度值與第二成像的灰度值確定玻璃樣品上是否存在應力缺陷，包括：

根據(jù)第一成像的灰度值與第二成像的灰度值對第一成像與第二成像進行過濾處理和降噪處理，以生成第三成像，第三成像中包括缺陷異常區(qū)域；以及

根據(jù)缺陷異常區(qū)域在第一成像中對應的灰度值與第二成像中對應的灰度值確定缺陷異常區(qū)域是否為應力缺陷區(qū)域。

在其中的一個實施例中，根據(jù)第一成像的灰度值與第二成像的灰度值對第一成像與第二成像進行過濾處理和降噪處理，以生成第三成像，第三成像中包括缺陷異常區(qū)域，包括：

將第一成像的灰度值與第二成像的灰度值進行差值運算，以得到過濾處理后的成像；

對過濾處理后的成像進行卷積處理，以得到降噪處理后的成像；

對降噪處理后的成像進行二值化處理，以確定缺陷異常區(qū)域，并生成第三成像。

在其中的一個實施例中，根據(jù)缺陷異常區(qū)域在第一成像中對應的灰度值與第二成像中對應的灰度值確定缺陷異常區(qū)域是否為應力缺陷區(qū)域，包括：

將缺陷異常區(qū)域在第一成像中對應的灰度值和第二成像中對應的灰度值進行比較；