[發明專利]多工位自密封快速氦質譜檢漏裝置

在審

• 申請號: 201810505634.0
• 申請日: 2018-05-24
• 公開（公告）號: CN108534961A
• 公開（公告）日: 2018-09-14
• 發明（設計）人: 萬謙;胡鳳生;曹俊敏
• 申請（專利權）人: 深圳巴斯巴汽車電子有限公司
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種多工位自密封快速氦質譜檢漏裝置，該裝置包括多個密封子件、左密封蓋、右密封蓋、支撐柱和支撐筒；左密封蓋和右密封蓋分別固定在支撐筒的兩開口端，支撐柱固定在支撐筒的下方；多個密封子件均勻固定在支撐筒的上方；每個密封子件均包括過渡螺桿和密封接頭，密封接頭旋進過渡螺桿內后過渡螺桿孔內形成由上至下依次安裝上墊圈、上密封圈、下密封圈和下墊圈的密封小區間，且可通過調節密封接頭與過渡螺桿的配合間隙調整上墊圈與下墊圈之間的間隙；需要檢漏時，將待檢漏產品通過接觸器的排氣管插入到過渡螺桿孔內并通過該密封小區間，本裝置定位精度高、密封可靠、操作快速且自密封效果好。

技術領域

本發明涉及接觸器技術領域，尤其涉及一種多工位自密封快速氦質譜檢漏裝置。

背景技術

在一種直流高壓接觸器生產中，其陶瓷組件高溫真空釬焊后和成品激光焊接后的檢漏工序是判斷產品質量的關鍵工序。接觸器結構復雜，內部的材料牌號種類多，漏率要求達到10E-13數量級，對檢漏裝置要求高?，F有檢漏工裝采用分體安裝，手工定位旋緊治具，單工位操作，其主要缺點是裝置結構不合理，分體安裝后檢漏精度低，密封效果差；對高漏率要求的部件容易影響測試結果，需要多次測試且測試靈敏度只有10E-9數量級。操作繁瑣，效率低。

發明內容

針對上述技術中存在的不足之處，本發明提供一種結構簡捷、安裝快速、加工成本低、定位精度高及自密封效果好的多工位自密封快速氦質譜檢漏裝置。

為實現上述目的，本發明提供一種多工位自密封快速氦質譜檢漏裝置，包括多個密封子件、左密封蓋、右密封蓋、支撐柱和支撐筒；所述左密封蓋和右密封蓋分別固定在支撐筒的兩開口端，所述支撐柱固定在支撐筒的下方；所述多個密封子件均勻固定在支撐筒的上方，且密封子件與支撐筒之間、支撐筒與左密封蓋和右密封蓋之間及支撐筒與支撐柱之間均通過高溫真空釬焊工藝焊接成整體；每個密封子件均包括過渡螺桿和密封接頭，所述密封接頭旋進過渡螺桿內后過渡螺桿孔內形成由上至下依次安裝上墊圈、上密封圈、下密封圈和下墊圈的密封小區間，且可通過調節密封接頭與過渡螺桿的配合間隙調整上墊圈與下墊圈之間的間隙；需要檢漏時，將待檢漏產品通過接觸器的排氣管插入到過渡螺桿孔內并通過該密封小區間。

其中，所述支撐柱的中間鏤空呈細孔，且該支撐柱的上接口為雙臺階形狀，下接口為斜面形后該支撐柱構成蝴蝶扣狀。

其中，所述支撐筒采用管狀材料且中間設計成大鏤空，為過渡密封子件的主體，檢漏時形成排氣通道。

本發明的有益效果是：與現有技術相比，本發明提供的多工位自密封快速氦質譜檢漏裝置，調節密封接頭與過渡螺桿的配合間隙，使上墊圈、上密封圈、下墊圈和下密封圈組成一個密封小區間，當待檢漏產品通過接觸器的排氣管插入到并通過其中間時，兩者的過盈配合會擠壓產生一個初步密封效果；當檢漏儀抽氣時，內外壓差會使密封圈產生一個再次彈性變形，使自身內徑縮小，從而使排氣管得到了更好的密封和緊固，漏率要求達到10E-13數量級，完全滿足要求。本專利通過對密封子件的合理設計，待檢漏產品可快速方便插入并進行可靠密封；同時當檢漏儀測試結束放氣后，也可以快速方便取出接觸器，開始下一輪檢漏操作；本裝置定位精度高、密封可靠、操作快速且自密封效果好。

附圖說明

圖1為本發明中密封子件的剖視圖；

圖2為本發明的結構剖視圖；

圖3為本發明的使用狀態圖。

具體實施方式

為了更清楚地表述本發明，下面結合附圖對本發明作進一步地描述。