[發明專利]一種基于操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置

有效

• 申請號: 201810502719.3
• 申請日: 2018-05-23
• 公開（公告）號: CN108831517B
• 公開（公告）日: 2021-04-27
• 發明（設計）人: 潘玉茜;李四林
• 申請（專利權）人: 武漢憶數存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 武漢藍寶石專利代理事務所(特殊普通合伙) 42242
• 代理人: 廉海濤

本發明屬于閃存芯片可靠性測試技術，尤其是涉及一種通過操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置。本發明首先通過測試裝置采集樣本閃存芯片的操作時間或電流，然后對數據進行分析處理，建立數據與閃存芯片可靠性的對應關系，再由測試裝置收集待測閃存芯片的操作時間和電流，最后結合可靠性的對應關系判斷待測芯片的可靠性。本發明中提出的判斷閃存芯片可靠性方法與一般方法相比，不易受到閃存中存儲數據取值的干擾，同時克服了一般方法無法有效防止閃存突然失效而造成數據損失的缺點。

技術領域

本發明涉及閃存芯片可靠性測試領域，具體涉及一種基于操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置。

背景技術

隨著電子技術的飛速發展，存儲器作為存儲數據的載體越來越多地應用與電子系統當中。存儲器產品中，閃存芯片作為一種非易失性存儲器，具有存儲容量高、制造成本低等優點，是近年來發展最快的存儲器產品，并在非易失性存儲器市場中逐漸占據的地位。

閃存芯片由于其自身的結構特性，存儲單元的介質會隨著操作次數的增加而產生缺陷，在使用過程中這些缺陷會不斷累加并最終導致存儲單元失效，從而影響整個存儲系統的正常使用。

在閃存需求量逐年增長的同時，其可靠性問題也日趨嚴重。隨著集成度及容量的提高，閃存器件壽命相應降低，可靠性問題也逐漸增大。提高大容量存儲設備的可靠性成為當前存儲技術發展的首要問題。

目前，在實際設計存儲系統時多采用糾錯碼、損耗均衡等方法確保閃存芯片的可靠性，這些方法均在閃存芯片錯誤率的基礎上對閃存芯片的可靠性狀態進行判斷。基于錯誤率的方法，容易受到存儲數據取值的影響且必須在讀取數據后通過錯誤率來判斷，這種方法無法防止閃存突然失效而造成的數據損失。因此，需要提出一種新的閃存芯片可靠性判斷方法來彌補現有方法中的缺陷。

發明內容

本發明針對現有技術中存在的技術問題，提供一種基于操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測試裝置。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：

一方面，本發明提供一種基于操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法，該方法包括：

步驟1，從閃存產品集合中選取閃存芯片作為樣本，將樣本閃存芯片與閃存測試裝置連接開始測試收集建立閃存芯片可靠性對應關系所需的數據，所述建立閃存芯片可靠性對應關系所需的數據為測試過程中采集到的閃存芯片操作時間或電流，或操作時間和電流的組合；

步驟2，將測試得到的數據進行處理分析，統計測試數據的分布，計算測試得到的數據與初始值之間的差值，建立數據處理結果與閃存芯片可靠性之間的對應關系；所述初始值是指：在閃存芯片出廠之前，采用步驟1所述的測試方法獲取的閃存芯片在執行寫入、讀取、擦除操作時的操作時間和電流值。

步驟3，測試收集待測閃存芯片的操作時間、電流，結合步驟2建立的對應關系確定當前狀態下待測閃存芯片的可靠性。

進一步，所述步驟1中，樣本閃存為同一制造工藝下相同類型的閃存芯片；從不同批次的芯片中隨機抽取相同數量的芯片樣本，以確保樣本的多樣性；其中，抽樣的批次為隨機選取，樣本數量為被抽樣批次閃存芯片總量的百分之一。

進一步，所述步驟1包括以下子步驟：

步驟101，從閃存芯片集合中隨機抽取樣本芯片，將樣本閃存芯片與測試裝置連接；

步驟102，從每個樣本閃存芯片中隨機選擇存儲塊，通過測試裝置向閃存存儲塊發送測試數據集合，對閃存存儲塊執行寫入數據操作，同時測試裝置采集編程操作時間及編程操作電流；

步驟103，發送完測試數據集合之后，保持閃存存儲塊中存儲的數據一段時間，保存時間長短根據閃存芯片的類型確定；對閃存芯片執行讀數據操作，測試裝置采集讀取操作時間及讀取操作電流；