[發明專利]一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法

有效

• 申請號: 201810499054.5
• 申請日: 2018-05-23
• 公開（公告）號: CN108918557B
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 許家忠;鄭學海;田建德;劉新良;劉寶權
• 申請（專利權）人: 哈爾濱理工大學
• 主分類號: G01N22/02
• 分類號: G01N22/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法， 所述方法包括：

（1）產品通過運送平臺將待檢測產品運輸到微波檢測區；（2）微波源產生的微波通過產品傳送平臺內放置的電介質透鏡天線對產品表面均勻照射，微波穿過被檢測產品輻射在產品背面的特質箔紙板上；（3）箔紙板被微波加熱，由于結構缺陷使得箔紙板吸收的微波不均勻，箔紙板表面加熱溫度也不均勻；（4）紅外攝像頭將箔紙板不均勻的熱度轉換為不均勻的熱成像圖像數據；（5）計算機經過圖像處理算法將產品內部結構圖像顯示在顯示器上，為檢測人員診斷缺陷問題提供依據。

2.根據權利要求1所述的一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法，其特征在于，通過微波加熱原理，將被檢測產品內部結構分布情況轉換為箔紙板溫度分布圖像，紅外攝像頭采集的熱成像圖像數據可以清晰可靠地表達出產品內部結構不一致性問題情況。

3.根據權利要求1所述的一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法，其檢測系統進一步包括：被檢測產品運送平臺，陣列式電介質透鏡天線，特定材質微波吸收箔紙板，紅外攝像頭，熱成像算法系統，同步控制系統，圖像顯示單元和CCD相機處理單元 。

4.根據權利要求1所述的一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法，其中所述的產品檢測最大厚度為40mm，微波頻率設定在24GHz~35GHz之間。

5.根據權利要求1所述的一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法，其特征在于，所述的方法可以在微分模式下使用，通過與無缺陷的參考部件的圖像進行對比，匹配出微波不均勻分布的圖像區域，微分模式下可以清晰的分辨出缺陷所處的位置和圖像中缺陷結構的情況。

6.根據權利要求1所述的一種非導電性產品結構缺陷無損檢測的方法，其特征在于，計算機軟件將采集處理的數據記錄存檔，并且同步系統將每個檢測計算機集成于遠程專家診斷系統，可以將診斷數據傳輸給遠程專家，方便專家在非現場情況下遠程診斷產品結構的不一致性問題 。